目錄:深圳市錫成科學(xué)儀器有限公司>>電化學(xué)測試>>微區(qū)掃描電化學(xué)工作站>> Uniscan M470微區(qū)掃描電化學(xué)工作站
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 電化學(xué)工作站 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
Uniscan M470
微區(qū)掃描電化學(xué)工作站基于電化學(xué)掃描探針設(shè)計，具有超高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測試系統(tǒng)，快速精準(zhǔn)的閉環(huán)定位系統(tǒng)為電化學(xué)掃描探針納米級研究的需求而特別設(shè)計。目前已迭代至第四代掃描探針系統(tǒng)，是最靈活的電化學(xué)掃描探針工作平臺，適配多種探針技術(shù)和不同模塊。
9種探針技術(shù)
掃描電化學(xué)顯微系統(tǒng)（SECM）
交流掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)（ac-SECM）
間歇接觸掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)（ic-SECM）
微區(qū)電化學(xué)阻抗測試系統(tǒng)(LEIS)
掃描振動點擊測試系統(tǒng)（SVET）
電解液微滴掃描系統(tǒng)（SDS）
交流電解液微滴掃描系統(tǒng)（ac-SDS）
掃描開爾文探針測試系統(tǒng)（SKP）
非觸式微區(qū)形貌測試系統(tǒng)（OSP）
M470 微區(qū)掃描電化學(xué)工作站特征：
SECM自動處理曲線。
SECM用戶自定義處理曲線步長變化。
高分辨率讀取。
手動或自動調(diào)節(jié)相位。
傾斜校正。
X或Y曲線相減（5階多項式）。
2D或3D快速傅里葉變化。
實驗，探針移動和區(qū)域繪圖的自動排序。
圖形實驗測序引擎（GESE）。
支持多區(qū)域掃描。
所有實驗多個數(shù)據(jù)視圖。
峰值分析。
掃描工作臺（適配所有探針技術(shù)）
掃描范圍（x,y,z）：大于100mm
掃描驅(qū)動分辨率 ：高0.1nm
閉環(huán)定位：線性零滯后編碼器，直接實時讀出x,z和y位移
軸分辨率（x,y,z）：20nm
大掃描速度：12.5mm/s
壓電（ic-和ac-掃描探針技術(shù)）
振動范圍：20nm~ 2μm峰與峰之間1nm增量
最小振動分辨率：0.12nm(16-bit DAC,4μm)
壓電晶體伸展：100μm
定位分辨率 ：0.09nm(20-bit DAC ,100μm)
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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