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            目錄:多場低溫科技(北京)有限公司>>物性表征>>光學(xué)測量>> CFM光學(xué)共聚焦測試系統(tǒng)

            光學(xué)共聚焦測試系統(tǒng)
            • 光學(xué)共聚焦測試系統(tǒng)
            • 光學(xué)共聚焦測試系統(tǒng)
            參考價(jià) 面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            參考價(jià) 面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 品牌 MultiFields/多場科技
            • 型號 CFM
            • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
            • 所在地 北京市
            屬性

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            >

            更新時間:2025-02-27 16:49:53瀏覽次數(shù):279評價(jià)

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            應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池,航空航天,電氣,綜合
            光學(xué)共聚焦測試系統(tǒng),一體化的低溫共聚焦測試解決方案,包含共聚焦顯微成像、拉曼光譜和磁光克爾功能模塊

            光學(xué)共聚焦測試系統(tǒng)

            一體化的低溫共聚焦測試解決方案,包含共聚焦顯微成像、拉曼光譜和磁光克爾功能模塊

             

            光學(xué)共聚焦測試系統(tǒng)



            光學(xué)共聚焦測試系統(tǒng) 組件

            光學(xué)共聚焦測試系統(tǒng)


            系統(tǒng)組件 – 01. 可堆疊光學(xué)功能模塊

            >> 熒光/拉曼光譜模塊

            集成化的熒光/拉曼光譜測試光路,可直接安裝在共聚焦樣品桿上

            光學(xué)共聚焦測試系統(tǒng)

            產(chǎn)品亮點(diǎn)

            – 基于光纖的共聚焦掃描測試,可?光纖芯徑: 4, 10, 25, 50, 100, 200 μm;
            – 光學(xué)元件可更換以適用于不同波長的應(yīng)用;
            – Kohler 光照方式實(shí)現(xiàn)大面積/均勻的照明范圍 ΦFOV~30 μm;
            – 集成了CMOS相機(jī),具備Type-C接口;
            – 1" 或 0.5" 光學(xué)元件可?動旋轉(zhuǎn)安裝


            光學(xué)共聚焦測試系統(tǒng)



            >> 磁光克爾模塊

            集成化的磁光克爾(MOKE)測試光路,可直接安裝在共聚焦樣品桿上

            光學(xué)共聚焦測試系統(tǒng)

            產(chǎn)品亮點(diǎn)

            – ?套測試裝置可實(shí)現(xiàn)兩種表征方式:圖像襯度與PEM鎖相;
            – PEM+鎖相實(shí)現(xiàn)超?精度單點(diǎn)測量;
            – 寬場成像模式,調(diào)制模式提高了磁滯回線測量靈敏度
            – 采用電機(jī)精確控制旋轉(zhuǎn)角度,精確對準(zhǔn)偏振片與PEM


            光學(xué)共聚焦測試系統(tǒng)


            >> 磁光克爾 – 光彈調(diào)制器PEM

            緊湊的光彈調(diào)制器,可安裝至共聚焦模塊上使用,也可作為獨(dú)立器件



            系統(tǒng)組件 – 02. 共聚焦樣品桿



            光學(xué)共聚焦測試系統(tǒng)

            光學(xué)共聚焦測試系統(tǒng)


            系統(tǒng)組件 – 03. 低溫光學(xué)物鏡


            光學(xué)共聚焦測試系統(tǒng)

            光學(xué)共聚焦測試系統(tǒng)


            系統(tǒng)組件 – 04. 樣品安裝

            靈活方便的樣品安裝方式,實(shí)現(xiàn)光電聯(lián)合測試

            光學(xué)共聚焦測試系統(tǒng)


            系統(tǒng)組件 – 05. 納米運(yùn)動單元

            光學(xué)共聚焦測試系統(tǒng)


            光學(xué)共聚焦測試系統(tǒng)




               多場低溫科技(北京)有限公司于2017正式運(yùn)營2021年團(tuán)隊(duì)整體遷入懷柔科學(xué)城產(chǎn)業(yè)園;并且公司在2020年獲得高新技術(shù)企業(yè)資質(zhì),2023年獲得北京市專精特新企業(yè)認(rèn)證。

               多場科技積極推動技術(shù)延伸,迅速發(fā)展出水平的全環(huán)境超精密壓電運(yùn)動控制以及綜合物性表征手段,形成了模塊化的全品類超精密運(yùn)動控制以及涵蓋力熱聲光電全方面的物性表征系列產(chǎn)品,并推出了融合多場先進(jìn)技術(shù)的綜合物性表征平臺等整體化解決方案。公司產(chǎn)品已服務(wù)于國內(nèi)外百余所高校及研究機(jī)構(gòu)。



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