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            首頁(yè)>>大連創(chuàng)銳光譜科技有限公司>>產(chǎn)品展示>>半導(dǎo)體光學(xué)檢測(cè)系列>>SiC襯底位錯(cuò)缺陷無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)

            • 碳化硅襯底位錯(cuò)缺陷光學(xué)無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià):面議

              碳化硅襯底檢測(cè),碳化硅成像檢測(cè),碳化硅襯底位錯(cuò)缺陷光學(xué)無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng):最高檢測(cè)速度:<17min/片(6“);BPD、TSD、TED分類識(shí)別。
              型號(hào): 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:大連市 對(duì)比
              SiC襯底位錯(cuò)缺陷無(wú)損檢測(cè)無(wú)損檢測(cè)儀
              2024/12/4 11:14:451347

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