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            佳譜儀器(蘇州)有限公司
            初級(jí)會(huì)員 | 第2年

            13862399644

            當(dāng)前位置:佳譜儀器(蘇州)有限公司>>鍍層測(cè)厚儀系列產(chǎn)品>>下照式鍍層測(cè)厚儀>> 鍍層測(cè)厚T-300VX熒光光譜儀 復(fù)雜合金鍍層 下照式鍍層測(cè)厚

            X熒光光譜儀 復(fù)雜合金鍍層 下照式鍍層測(cè)厚

            參   考   價(jià): 8500 7500 6500

            訂  貨  量: 1 件 2 件 ≥3 件

            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

            產(chǎn)品型號(hào)鍍層測(cè)厚T-300V

            品       牌佳譜儀器

            廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

            所  在  地蘇州市

            更新時(shí)間:2025-03-05 09:02:25瀏覽次數(shù):71次

            聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)
            產(chǎn)地類(lèi)別 國(guó)產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 面議
            應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,化工,地礦,建材/家具,綜合
            T300V是佳譜儀器集多年X熒光光譜儀技術(shù)積累與鍍層應(yīng)用經(jīng)驗(yàn),專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)研發(fā)的 一 款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚 儀,性?xún)r(jià)比高、適用性強(qiáng)。X熒光光譜儀 復(fù)雜合金鍍層 下照式鍍層測(cè)厚

            X熒光光譜儀 復(fù)雜合金鍍層 下照式鍍層測(cè)厚 

            T300V下照式鍍層測(cè)厚儀X熒光光譜儀 復(fù)雜合金鍍層 下照式鍍層測(cè)厚

            T300V是佳譜儀器集多年X熒光光譜儀技術(shù)積累與鍍層應(yīng)用經(jīng)驗(yàn),專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)研發(fā)的 款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚 儀,性?xún)r(jià)比高、適用性強(qiáng)。

            該款采用優(yōu)良的FP算法同時(shí)搭配高速數(shù)字多道技術(shù),  應(yīng)對(duì)各大小平面件、曲面件金屬鍍層及電鍍液檢測(cè)時(shí)檢出 限低,性能穩(wěn)定,檢出限可達(dá)0.005um,是一款頗具客戶 好評(píng)的C型腔體設(shè)計(jì)的實(shí)用型膜厚儀。


            應(yīng)用領(lǐng)域

            X熒光光譜儀 復(fù)雜合金鍍層 下照式鍍層測(cè)厚

            *配置,值得更優(yōu)性能

            相比圖2普通接收器,T300V采用了更為優(yōu)良的高分辨率探測(cè)器,能將不同元素的信號(hào)準(zhǔn)確 解析,針對(duì)單層、多層或復(fù)雜合金鍍層的測(cè)量,測(cè)量精度更高,穩(wěn)定性更好。

            X熒光光譜儀 復(fù)雜合金鍍層 下照式鍍層測(cè)厚

            儀器參數(shù)

            X熒光光譜儀 復(fù)雜合金鍍層 下照式鍍層測(cè)厚

            選擇T300V的理由

            X熒光光譜儀 復(fù)雜合金鍍層 下照式鍍層測(cè)厚

            檢測(cè)實(shí)例

            T300V下照式鍍層測(cè)厚儀X熒光光譜儀 復(fù)雜合金鍍層 下照式鍍層測(cè)厚

            電鍍層,油漆層,陶瓷層,鋁瓦,銅瓦,磷化層,紙張的厚度測(cè)量,也可用于船體油漆及水下結(jié)構(gòu)件的附著物的厚度測(cè)量。具有耐磨硬質(zhì)金屬探針的彈簧導(dǎo)套式探頭,不但能在堅(jiān)硬或粗糙的表面上進(jìn)行測(cè)量,而且能保證測(cè)頭具有不變的壓緊力和穩(wěn)定的取樣植。使用一款快速、連接、可靠的,簡(jiǎn)化超聲厚度檢測(cè)流程。測(cè)厚儀可用作精密或腐蝕測(cè)厚儀,滿足苛刻的應(yīng)用要求。測(cè)厚儀具有優(yōu)良的超聲功能、高達(dá)60 Hz更新率的快速掃描速度以及集成的無(wú)線連接功能,能夠在無(wú)縫工作流程中提供值得信賴(lài)的結(jié)果。

            • 連接:集成藍(lán)牙、USB、RS-232和可移動(dòng)microSD卡*

            • 快速:以快2倍的顯示更新率掃描最小厚度區(qū)域**

            • 用途廣泛:使用我們的全系列雙晶和單晶探頭,可應(yīng)對(duì)多種厚度應(yīng)用

            X熒光光譜儀 復(fù)雜合金鍍層 下照式鍍層測(cè)厚 


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