能譜透射電鏡 Talos F200S TEM 參考價：面議
能譜透射電鏡 Talos F200S TEM4k × 4k Ceta CMOS 攝像機及其大視野使得可以在整個高張力范圍內(nèi)以高靈敏度和高速進行實時數(shù)字...
fei冷凍透射電鏡 參考價：面議
fei冷凍透射電鏡Glacios 2 新一代解決方案可以對樣本進行高分辨率的3D重構（分辨率最高可達到2 Å以下），與其前身相比，Glacios 2可...
Tundra 冷凍透射電子顯微鏡 (Cryo-TEM) 參考價：10000000
Thermo Scientific™ Tundra 冷凍透射電子顯微鏡 (Cryo-TEM)是一款專用于 SPA 的冷凍透射電子顯微鏡，它讓 SPA...
Spectra S/TEM 掃描透射電子顯微鏡 參考價：30000000
Spectra S/TEM 掃描透射電子顯微鏡新的檢測功能，使科學家和工程師能夠獲得以前難以獲得的原子級數(shù)據(jù)，以滿足更廣泛的應用需求。該平臺可以獲得極其光束敏感...
Talos 透射電鏡 參考價：15000000
Talos 透射電鏡的配置適合開展材料研究和生命科學研究，是一款融合了眾多創(chuàng)新技術的多功能系統(tǒng)，能夠在未來數(shù)年里滿足您的研究需求。
Krios G4冷凍透射電子顯微鏡（cryo-TEM） 參考價：40000000
Krios G4冷凍透射電子顯微鏡（cryo-TEM）是該系列產(chǎn)品中設計緊湊的。通過對機械底座框架和設備外殼的全新設計，該款設備凈身高縮短至3 m以內(nèi)，適用于任...
冷凍透射電鏡Krios G4 Cryo-TEM 參考價：面議
冷凍透射電鏡Krios G4 Cryo-TEM使用無邊緣效應成像 (FFI) 可在每個樣品區(qū)采集更多的圖像，從而提高了圖片采集的日產(chǎn)出。 聽聽 FFI 如何幫助...
冷凍透射電鏡Tundra Cryo-TEM 參考價：面議
冷凍透射電鏡Tundra Cryo-TEMSmart EPU 軟件：一種支持 AI 的軟件解決方案，可為數(shù)據(jù)收集提供反饋。包括一個開放的應用程序編程接口
300KV冷凍透射電鏡Krios G4 Cryo-TEM 參考價：面議
300KV冷凍透射電鏡Krios G4 Cryo-TEM使用無邊緣效應成像 (FFI) 可在每個樣品區(qū)采集更多的圖像，從而提高了圖片采集的日產(chǎn)出。 聽聽 FFI...
透射電鏡Spectra Ultra S/TEM 參考價：面議
透射電鏡Spectra Ultra S/TEM高亮度肖特基場發(fā)射槍，配備超穩(wěn)定單色器和加速電壓，可調(diào)諧能量分辨率范圍為 1eV-0.05eV（60kV 下 0....
300KV透射電鏡Spectra 300 TEM 參考價：面議
300KV透射電鏡Spectra 300 TEM高亮度肖特基場發(fā)射槍，配備超穩(wěn)定單色器和加速電壓，可調(diào)諧能量分辨率范圍為 1eV-0.03eV
200KV透射電鏡Spectra 200 TEM 參考價：面議
200KV透射電鏡Spectra 200 TEM使用無邊緣效應成像 (FFI) 可在每個樣品區(qū)采集更多的圖像，從而提高了圖片采集的日產(chǎn)出。 聽聽 FFI 如何幫...
Glacios 2 冷凍透射電鏡 參考價：面議
Glacios 2 冷凍透射電鏡可無縫集成到單顆粒分析和冷凍電子斷層掃描工作流程中，并且可在整個工作流程中實現(xiàn)便捷、無污染的樣本轉(zhuǎn)移。
半導體計量透射電鏡 Metrios AX TEM 參考價：面議
半導體計量透射電鏡 Metrios AX TEM全新設計，提供可重復的基于 TEM 和 STEM 的成像、分析和具備計量能力的計量器。
120KV透射電鏡Talos L120C TEM 參考價：面議
120KV透射電鏡Talos L120C TEM 全新設計，提供可重復的基于 TEM 和 STEM 的成像、分析和具備計量能力的計量器。
200 kV場發(fā)射透射電鏡 Talos F200i TEM 參考價：面議
200 kV場發(fā)射透射電鏡 Talos F200i TEM4k × 4k Ceta CMOS 攝像機及其大視野使得可以在整個高張力范圍內(nèi)以高靈敏度和高...
最深入的材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM 參考價：面議
最深入的材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM快速、精確的定量 EDS 分析可在 2D 和 3D 中揭示納米級細節(jié)，同時保持高潔凈度。
高稱度冷凍透射電鏡 Talos F200C TEM 參考價：面議
高稱度冷凍透射電鏡 Talos F200C TEM全新設計，提供可重復的基于 TEM 和 STEM 的成像、分析和具備計量能力的計量器。
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