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            products

            目錄:賽默飛世爾科技(中國)有限公司>>冷凍電鏡>> Helios 5 Hydra DualBeam

            Helios 5 Hydra DualBeam
            • Helios 5 Hydra DualBeam
            參考價(jià) 面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            參考價(jià) 面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 品牌 FEI/賽默飛
            • 型號(hào)
            • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
            • 所在地 上海市
            屬性

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            >

            更新時(shí)間:2025-01-20 16:20:22瀏覽次數(shù):126評(píng)價(jià)

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            價(jià)格區(qū)間 面議 儀器種類 熱場(chǎng)發(fā)射
            應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,化工
            Helios 5 Hydra DualBeam
            離子源可提供以下四種快速、可切換離子種類,應(yīng)用空間最為廣泛:Xe、Ar、O、N

            Helios 5 Hydra DualBeam

            具有多個(gè)離子種類、適用于 3D EM 和 TEM 樣品制備的等離子聚焦離子束掃描電子顯微鏡檢查

            Helios 5 Hydra DualBeam主要特點(diǎn)

            應(yīng)用空間廣泛

            離子源可提供以下四種快速、可切換離子種類,應(yīng)用空間最為廣泛:Xe、Ar、O、N

            高通量和高質(zhì)量

            使用下一代 2.5 μA 等離子 FIB 色譜柱進(jìn)行高通量、高質(zhì)量和統(tǒng)計(jì)學(xué)相關(guān)的 3D 表征、交叉切片和微加工。

            先進(jìn)的自動(dòng)化

            使用選配的 AutoTEM 5 軟件,以最快速輕松的方式實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化多點(diǎn)原位和非原位 TEM 樣品制備以及交叉切片

            高質(zhì)量樣品制備

            由于采用新型 PFIB 色譜柱,可實(shí)現(xiàn) 500 V 最終拋光以及在所有操作條件下均可提供出色的性能,可以用氙、氬或氧進(jìn)行高質(zhì)量無鎵 TEM 和 APT 樣品制備。

            納米級(jí)實(shí)現(xiàn)周期短

            借助 SmartAlign 和 FLASH 技術(shù),任何經(jīng)驗(yàn)水平的用戶都可以最短時(shí)間獲得納米級(jí)信息

            完整的樣品信息

            可通過多達(dá)六個(gè)集成在色譜柱內(nèi)和透鏡下的集成探頭獲得清晰、精確且無電荷對(duì)比度的最完整的樣品信息

            電子和離子束誘導(dǎo)沉積和蝕刻

            通過選配的 Thermo Scientific MultiChem 或 GIS 氣輸送系統(tǒng),在 DualBeam 系統(tǒng)上實(shí)現(xiàn)的電子和離子束誘導(dǎo)沉積和蝕刻功能。

            精確的樣品導(dǎo)航

            借助 150 mm 壓電載物臺(tái)的高穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性或 110 mm 載物臺(tái)的靈活性以及選配的腔室內(nèi) Thermo Scientific Nav-Cam 攝像機(jī),可根據(jù)具體應(yīng)用需求進(jìn)行定制。

            無偽影成像

            基于集成的樣品清潔度管理和專用成像模式,例如 SmartScan 和 DCFI 模式


            性能數(shù)據(jù)


            Helios 5 Hydra CX DualBeamHelios 5 Hydra UX DualBeam
            電子束分辨率
            • 在最佳 WD:

              • 1 kV 時(shí) 0.7 nm

              • 500 V (ICD) 時(shí) 1.0 nm

            • 在重合點(diǎn):

              • 15 kV 時(shí) 0.6 nm

              • 1 kV 時(shí) 1.2 nm

            電子束參數(shù)空間
            • 電子束電流范圍:在所有加速電壓下 0.8 pA 至 100 nA

            • 加速電壓范圍:350 V – 30 kV

            • 著陸能量范圍:20* eV – 30 keV

            • 最大水平射野寬度:4 mm WD 時(shí) 2.3 mm

            離子光學(xué)系統(tǒng)

            高性能 PFIB 色譜柱,具有的電感耦合等離子 (ICP) 源,支持四種離子種類,并具有快速切換能力

            • 離子種類(初級(jí)離子束):Xe、Ar、O、N

            • 切換時(shí)間<10 分鐘,僅需軟件操作

            • 離子束電流范圍:1.5 pA 至 2.5 μA

            • 加速電壓范圍:500V – 30 kV

            • 最大水平射野寬度:在等離子束重合點(diǎn)處為 0.9 mm

            重合點(diǎn)時(shí)的氙離子束分辨率

            • <使用統(tǒng)計(jì)方法在 30 kV 時(shí)為 20 nm

            • 使用選擇性邊緣方法在 30 kV 時(shí)<10 nm

            腔室
            • 在分析 WD 時(shí)的 E 和 I 束重合點(diǎn) (4 mm SEM)

            • 端口:21

            • 內(nèi)部寬度:379 mm

            • 集成式等離子清潔器

            探頭
            • Elstar 色譜柱鏡筒內(nèi) SE/BSE 探頭(TLD-SE、TLD-BSE)

            • Elstar 色譜柱柱內(nèi) SE/BSE 探頭 (ICD)*

            • Everhart-Thornley SE 檢測(cè)器 (ETD)

            • 查看樣品/色譜柱的 IR 攝像機(jī)

            • 用于二級(jí)離子 (SI) 和二級(jí)電子 (SE) 的高性能腔室內(nèi)電子和離子探頭 (ICE)

            • 腔室內(nèi) Nav-Cam 樣品導(dǎo)航攝像機(jī)*

            • 可伸縮、低電壓、高對(duì)比度、定向、固態(tài)反向散射電子探頭 (DBS)*

            • 集成的等離子束電流測(cè)量

            載物臺(tái)和樣品

            靈活的五軸電動(dòng)載物臺(tái):

            • XY 范圍:110 mm

            • Z 范圍:65 mm

            • 旋轉(zhuǎn):360°(無限)

            • 傾斜范圍:-38° 至 +90°

            • XY 重復(fù)性:3 μm

            • 最大樣品高度:與共心點(diǎn)間距 85 mm

            • 0° 傾斜時(shí)的最大樣品重量:5 kg(包括樣品架)

            • 最大樣品尺寸:旋轉(zhuǎn)時(shí) 110 mm(也可以是更大的樣品,但旋轉(zhuǎn)有限)

            • 計(jì)算中心旋轉(zhuǎn)和傾斜

            高精度五軸電動(dòng)載物臺(tái),配有壓電驅(qū)動(dòng)的 XYR 軸

            • XY 范圍:150 mm

            • Z 范圍:10 mm

            • 旋轉(zhuǎn):360°(無限)

            • 傾斜范圍:-38° 至 +60°

            • XY 重復(fù)性:1 μm

            • 最大樣品高度:與共心點(diǎn)間距 55 mm

            • 0° 傾斜時(shí)的最大樣品重量:500 g(包括樣品架)

            • 最大樣品尺寸:旋轉(zhuǎn)時(shí) 150 mm(也可以是更大的樣品,但旋轉(zhuǎn)有限)

            • 計(jì)算中心旋轉(zhuǎn)和傾斜



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