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　　原位樣品桿是一種用于電子顯微鏡（如透射電子顯微鏡 TEM 或掃描電子顯微鏡 SEM）的特殊樣品桿，能夠在觀察樣品的同時(shí)，對(duì)樣品施加外部刺激（如加熱、冷卻、拉伸、壓縮、電場(chǎng)、磁場(chǎng)、氣體或液體環(huán)境等），以實(shí)時(shí)研究材料在不同條件下的動(dòng)態(tài)行為和結(jié)構(gòu)變化。這種技術(shù)為材料科學(xué)、納米技術(shù)、催化、能源等領(lǐng)域的研究提供了強(qiáng)大的工具。

 

　　技術(shù)優(yōu)勢(shì)
 

　　◆ 適配性：適配ThermoFisher/JEOL/Hitachi等品牌各類(lèi)型電鏡
 

　　◆ 雙軸傾轉(zhuǎn)：α/β雙軸傾轉(zhuǎn)
 

　　◆ 優(yōu)異冷凍功能：溫度<-170℃
 

　　主要應(yīng)用
 

　　◆ 低溫原位相變
 

　　◆ 凝聚態(tài)物理
 

　　◆ 超導(dǎo)
 

　　◆ 電子束敏感材料
 

　　◆ 磁性材料
 

樣品桿Tip雙傾實(shí)機(jī)圖

冷凍樣品桿實(shí)物圖
 

配套分子泵抽氣站