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            成都一子沫科技有限公司
            中級(jí)會(huì)員 | 第1年

            19938108760

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            日本大塚otsuka 電位·粒徑·分子量測(cè)試系統(tǒng)

            參   考   價(jià): 666

            訂  貨  量: ≥1 件

            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

            產(chǎn)品型號(hào)ZETA ELSZneo

            品       牌其他品牌

            廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

            所  在  地成都市

            更新時(shí)間:2025-02-28 13:52:39瀏覽次數(shù):112次

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            產(chǎn)地類別 進(jìn)口 分散方式 干濕法分散
            價(jià)格區(qū)間 面議 儀器種類 動(dòng)態(tài)光散射
            應(yīng)用領(lǐng)域 能源,電子/電池,航空航天,電氣,綜合
            日本大塚otsuka 電位·粒徑·分子量測(cè)試系統(tǒng)
            ● nanoSAQLA是一臺(tái)通過(guò)動(dòng)態(tài)光散亂法(DLS法)測(cè)量粒徑(粒徑0.6nm~10um)的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內(nèi)的多檢體測(cè)定的新光學(xué)系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)了實(shí)驗(yàn)室必需的輕量、小型化、標(biāo)準(zhǔn)1分鐘的高速測(cè)定。 另外,這是一款非浸泡型、不受接觸器影響、無(wú)需自動(dòng)取樣器、標(biāo)準(zhǔn)配備“5檢體連續(xù)測(cè)量"的新產(chǎn)品。


            日本大塚otsuka 電位·粒徑·分子量測(cè)試系統(tǒng)


            ZETA電位·粒徑·分子量測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneo

            【ELSZneo使光散射的物性評(píng)價(jià)邁向新舞臺(tái)】ELSZneo是ELSZ series的機(jī)型,除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位(Zeta Potential,ζ-電位)和粒徑測(cè)定之外,還能進(jìn)行分子量測(cè)定的裝置。作為新的功能,為了提高粒度分布的分離能力,采用了多角度測(cè)定。另外,也可實(shí)現(xiàn)測(cè)量粒子濃度測(cè)定、微流變學(xué)測(cè)定、凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)分析。全新的zeta電位平板固體樣品池,通過(guò)新開發(fā)的對(duì)應(yīng)高鹽濃度的涂層,可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進(jìn)行測(cè)量。3μL就能測(cè)定粒徑的超微量樣品池也位列其中,從而擴(kuò)大了生命科學(xué)領(lǐng)域的可能性。在0~90℃的寬溫度范圍內(nèi),可以進(jìn)行自動(dòng)溫度梯度測(cè)量的變性相變溫度分析。

            ● 可對(duì)應(yīng)從稀薄到濃厚溶液(~40%)寬濃度范圍的粒徑和ZETA電位測(cè)量

            ● 通過(guò)多角度測(cè)定,可測(cè)量分辨率更高的粒徑分布

            ● 可以在高鹽濃度下測(cè)量平板樣品的ZETA電位

            ● 通過(guò)靜態(tài)光散射法可測(cè)量粒子的濃度

            ● 能過(guò)動(dòng)態(tài)光散射法可測(cè)量微流變學(xué)

            ● 通過(guò)測(cè)量凝膠樣品在多個(gè)點(diǎn)的散射強(qiáng)度和擴(kuò)散系數(shù),可以分析凝膠的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)和不均勻性。

            ● 可以在0 ~ 90℃的寬溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量

            ● 通過(guò)溫度梯度功能,可對(duì)蛋白質(zhì)等的變性及相變溫度進(jìn)行解析

            ● 通過(guò)樣品池內(nèi)的實(shí)測(cè)電氣浸透流圖分析,提供高精度的ZETA電位測(cè)量結(jié)果,

            ● 可安裝熒光濾光器(選配)

            日本大塚otsuka 電位·粒徑·分子量測(cè)試系統(tǒng)

            日本大塚otsuka SMART光學(xué)膜厚計(jì)測(cè)厚儀

            可攜帶至現(xiàn)場(chǎng)的手持式,可測(cè)量0.1μm單位,具有形狀的樣品也可非破壞的測(cè)量。 不論基材材質(zhì)、可測(cè)量其鍍膜。與桌上型光學(xué)膜厚儀相比,Smart膜厚儀在“現(xiàn)場(chǎng)"以非破壞式直接量測(cè)樣品,且可以量測(cè)特殊形狀樣品。與接觸式膜厚儀相比,Smart膜厚儀不僅不會(huì)破壞您的樣品,也不會(huì)因?yàn)橛脩舨煌a(chǎn)生誤差且遠(yuǎn)高于接觸式膜厚計(jì)的量測(cè)精度。與渦電流/電磁式膜厚儀相比,Smart膜厚儀不需要制作檢量線,且可以量測(cè)非金屬基材并且得到絕對(duì)值!


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