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PI1M德國OPTRIS歐普士 精密短波長紅外相機機
| 參考價: | ￥ 1500 |
| 訂貨量: | 1件 |
具體成交價以合同協(xié)議為準- PI1M 產(chǎn)品型號
- Optris/德國歐普士 品牌
- 經(jīng)銷商 廠商性質(zhì)
- 成都市 所在地
訪問次數(shù)：53更新時間：2025-04-18 15:19:04
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產(chǎn)品簡介
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 產(chǎn)品種類 | 接觸式,便攜式,在線式,固定式,非接觸式,手持式 |
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間 | 1萬-5萬 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
Optris PI 1M 是一款短波長紅外相機，在精確測量熱金屬、鋼、陶瓷和半導體的表面溫度方面表現(xiàn)出色，擅長對具有挑戰(zhàn)性的物體進行非接觸式熱成像。
產(chǎn)品介紹
德國OPTRIS歐普士 精密短波長紅外相機機 PI1M
德國OPTRIS歐普士 精密短波長紅外相機機 PI1M
Optris PI 1M 是一款短波長紅外相機，在精確測量熱金屬、鋼、陶瓷和半導體的表面溫度方面表現(xiàn)出色，擅長對具有挑戰(zhàn)性的物體進行非接觸式熱成像。optris PI 1M 熱像儀特別適用于金屬加工應(yīng)用中的溫度測量。它在 1 μm 的短測量波長下表現(xiàn)出的發(fā)射率明顯高于在傳統(tǒng)紅外長波長范圍內(nèi)進行測量時的發(fā)射率。在熱過程可視化的同時，快速傳感器電子元件可實現(xiàn)低至 1 ms 的短反應(yīng)時間。它通過配備 USB 以及模擬和數(shù)字過程接口，實現(xiàn)無縫集成到控制系統(tǒng)和制造過程中。
高動態(tài) CMOS 探測器，分辨率高達 764 x 480 像素
1 μm 的光譜靈敏度
450°C 至 1800°C 的寬測量范圍，無子范圍
高達 1 kHz 的幀速率，可實現(xiàn)快速處理
模擬和數(shù)字輸出，響應(yīng)時間為 1 ms
線掃描功能
Optris PI 1M 是一款結(jié)合了創(chuàng)新、經(jīng)濟性和精度的短波長紅外相機。它擅長對具有挑戰(zhàn)性的物體進行非接觸式熱成像，在短波長紅外范圍 （1M： 0.85 – 1.1 μm） 內(nèi)工作。這款前瞻性紅外熱像儀經(jīng)過專門設(shè)計，可捕獲測量數(shù)據(jù)，以便對熱鋼、鐵、黃銅、銅、錫、碳、陶瓷和半導體進行精確的表面溫度分析。它憑借其寬廣的高溫測量范圍、精度和可定制的視場配置，滿足了各種行業(yè)的嚴格要求。
| 型 | PI1M 41°x25° | PI1M 27°x17° | PI1M 13°x8° | PI1M 9°x6° |
| 探測器 | ||||
| 光學分辨率 | 全分辨率：764 x 480 像素 子幀模式：382 x 288 像素 快速子幀模式：72 x 56 像素 **1） 線掃描：764 x 8 像素 **1） | |||
| 像素間距 | 15 微米 | |||
| 探測器 | CMOS | |||
| 光譜范圍 | 0.85 – 1.1 微米 | |||
| 濾光片 | 1064 nm 處的可選陷波濾光片 **3） | |||
| 幀速率 | 全分辨率：32 Hz 子幀模式：80 Hz（可切換到 27 Hz） 快速子幀模式：1 kHz **1） 線掃描：1 kHz **1） | |||
| 光學的 | ||||
| 視野 | 41°x25° | 27°x17° | 13°x8° | 9°x6° |
| 焦距 [mm] | 16 | 25 | 50 | 75 |
| F 號 | 2 | 1.8 | 2.8 | 2.8 |
| 光學分辨率 | 255:1 | 400:1 | 833:1 | 1280:1 |
| 到目標的最小距離 | 300 毫米 | 300 毫米 | 500 毫米 | 1000 毫米 |
| 可互換光學元件 | 是的 | |||
許多由非閃亮材料制成的測量物體無論其表面一致性如何，都表現(xiàn)出較高且相對恒定的發(fā)射率，尤其是在長波光譜范圍內(nèi)。然而，金屬和有光澤的材料在長紅外波長下通常具有低發(fā)射率。長波長紅外帶寬的低發(fā)射率會導致測量結(jié)果變化且不可靠。此外，Optris PI 1M 專為金屬基增材制造應(yīng)用而設(shè)計。它與可選的陷波濾光片兼容，使紅外熱像儀幾乎適用于所有激光加工應(yīng)用。
短波長 PI 1M 紅外熱像儀的光譜范圍與大多數(shù)金屬材料的最高發(fā)射率一致，簡化了遠程溫度測量。此外，根據(jù)普朗克輻射定律，在短波長范圍內(nèi)發(fā)射的紅外輻射呈指數(shù)級增長。因此，線性發(fā)射率問題對短波長下溫度測量結(jié)果的可重復性影響較小。這提高了溫度測量的可靠性和準確性，特別是使用PI 1M紅外熱像儀時，特別是對于金屬材料。因此，對于高溫下光亮材料的非接觸式溫度測量，建議盡可能使用短波紅外熱像儀，因為它們的溫度測量范圍更廣，更適合光亮表面。PI 1M 紅外熱像儀在德國精心設(shè)計和制造，以滿足具有挑戰(zhàn)性的工業(yè)應(yīng)用需求。它在精度、準確度和可重復性方面超越了長波長紅外熱像儀，使其成為在苛刻環(huán)境中進行高性能溫度測量。
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