聯(lián)系電話
高斯摩(成都)國際貿(mào)易有限公司
中級會員·1年
Xi1M德國OPTRIS歐普士 工業(yè)自主短波紅外熱像儀
| 參考價: | ￥ 1500 |
| 訂貨量: | 1件 |
具體成交價以合同協(xié)議為準- Xi1M 產(chǎn)品型號
- Optris/德國歐普士 品牌
- 經(jīng)銷商 廠商性質(zhì)
- 成都市 所在地
訪問次數(shù)：41更新時間：2025-04-18 15:36:42
聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息，謝謝!
中級會員·1年
- 聯(lián)系人：
- 張斌
- 電話：
- 86-028-87319898
- 手機：
- 15528325588
- 傳真：
- 86-028-85068959
- 地址：
- 四川省成都市高新區(qū)天府大道中段500-1號天祥廣場C座4527室
- 個性化：
- www.cosimoinc.com.cn
掃一掃訪問手機商鋪
產(chǎn)品簡介
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 產(chǎn)品種類 | 接觸式,便攜式,在線式,固定式,非接觸式,手持式 |
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間 | 1萬-5萬 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
Optris Xi 1M 是一款短波紅外熱像儀，擅長對具有挑戰(zhàn)性的物體進行非接觸熱成像。
產(chǎn)品介紹
德國OPTRIS歐普士 工業(yè)自主短波紅外熱像儀 Xi1M
德國OPTRIS歐普士 工業(yè)自主短波紅外熱像儀 Xi1M
Optris Xi 1M 是一款短波紅外熱像儀，擅長對具有挑戰(zhàn)性的物體進行非接觸熱成像。它能夠精確測量熱金屬、鋼鐵、陶瓷和半導體的表面溫度。憑借自主熱測量能力和電動對焦功能，該熱像儀在工業(yè)環(huán)境中提供了可靠性和便利性，無需額外的硬件。它配備了以太網(wǎng)、USB 接口，以及模擬和數(shù)字過程接口，實現(xiàn)了與控制系統(tǒng)和機械設(shè)備的無縫集成。
工業(yè)以太網(wǎng)短波紅外熱像儀
寬測量范圍從 450°C 到 1800°C，無需子范圍
尺寸小且堅固，配備電動對焦
高動態(tài) CMOS 探測器，分辨率為 396 x 300 像素
自主運行，帶自動熱點查找和直接模擬或報警輸出，并具有多種現(xiàn)場總線通信選項
Optris Xi 1M 是一款短波紅外熱像儀，在非接觸熱成像領(lǐng)域提供了創(chuàng)新、經(jīng)濟實惠和高精度的性能，專門用于測量具有挑戰(zhàn)性的物體表面溫度。設(shè)計在短波紅外范圍內(nèi)工作（波長：0.85 – 1.1 μm），這款前視紅外熱像儀專為捕捉熱鋼、鐵、黃銅、銅、錫、碳、陶瓷和半導體的精確表面溫度分析而設(shè)計。為了滿足各行業(yè)的嚴格要求，Optris Xi 1M 提供了寬廣的高溫測量范圍、準確性和可定制的視場配置。
| 型號 | Xi1M 7°x5° | Xi1M 14°x10° | Xi1M 28°x21° | Xi1M 7°x5° CF |
| 探測器 | ||||
| 光學分辨率 | 全分辨率：396×300 像素（以太網(wǎng)）; 子幀模式：132×100 像素（USB，自主模式）; 線掃描：396×8 像素（以太網(wǎng)）; 線掃描：396×1 像素（以太網(wǎng)，自主模式） | |||
| 像素間距 | 15 µm | |||
| 探測器 | CMOS | |||
| 光譜范圍 | 高溫測量: 0.85 – 1.1 µm | |||
| 光學濾鏡 | 無 | |||
| 幀率 | 20 Hz | |||
| 光學 | ||||
| 視場角 | 7°x5° (396×300 像素) | 14°x10° (396×300 像素) | 28°x21° (396×300 像素) | 7°x5° CF (396×300 像素) |
| 焦距 [毫米] | 50 | 25 | 12 | 50 |
| F值 | 2.8 | 1.8 | 2 | 2.8 |
| 光學分辨率 | 806:1 | 401:1 | 195:1 | 830:1 |
| 到目標的最小距離 | 800 mm | 300 mm | 300 mm | 500 mm |
| 可更換光學器件 | No | |||
許多由非光亮材料組成的測量物體在長波紅外光譜范圍內(nèi)顯示出較高且相對恒定的發(fā)射率，而這些材料在長波紅外波段的低發(fā)射率會導致測量結(jié)果的不穩(wěn)定和不可靠。短波 Xi 1M 紅外熱像儀的光譜范圍與大多數(shù)金屬材料的最高發(fā)射率相匹配，從而簡化了遠程溫度測量。此外，根據(jù)普朗克輻射定律，在短波范圍內(nèi)發(fā)射的紅外輻射顯著增加，因此線性發(fā)射率問題對短波溫度測量結(jié)果的重復性影響較小。因此，在考慮到較高的溫度測量范圍時，對高溫光亮材料的非接觸溫度測量應(yīng)盡可能使用短波段。
相關(guān)產(chǎn)品
