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            上海力晶科學(xué)儀器有限公司
            中級(jí)會(huì)員 | 第14年

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            X射線衍射儀 SmartLab系列智能

            參  考  價(jià)面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

            產(chǎn)品型號(hào)

            品       牌Rigaku/理學(xué)

            廠商性質(zhì)代理商

            產(chǎn)品資料下載

            所  在  地上海市

            更新時(shí)間:2020-05-09 15:41:37瀏覽次數(shù):9029次

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            價(jià)格區(qū)間 面議 儀器種類 小角散射儀
            應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,電子/電池
            智能X射線衍射儀SmartLab系列,是當(dāng)今世界*性能的多功能的X射線衍射儀,它采用了理學(xué)*的CBO交叉光學(xué)系統(tǒng)、自動(dòng)識(shí)別所有光學(xué)組件、樣品臺(tái)、智能的測(cè)量分析軟件SmartLab Guidance,一臺(tái)儀器可以智能進(jìn)行普通粉末樣品、液體樣品、納米材料、藥品、半導(dǎo)體、薄膜樣品測(cè)試。

            一、儀器介紹

            智能X射線衍射儀SmartLab系列,是當(dāng)今世界*性能的多功能的X射線衍射儀,它采用了理學(xué)*的CBO交叉光學(xué)系統(tǒng)、自動(dòng)識(shí)別所有光學(xué)組件、樣品臺(tái)、智能的測(cè)量分析軟件SmartLab Guidance,一臺(tái)儀器可以智能進(jìn)行普通粉末樣品、液體樣品、納米材料、藥品、半導(dǎo)體、薄膜樣品測(cè)試。

             

            二、技術(shù)參數(shù)

            1、X射線發(fā)生器功率為3KW、新型9KW轉(zhuǎn)靶

            2、測(cè)角儀為水平測(cè)角儀

            3、測(cè)角儀zui小步進(jìn)為1/10000度,zui高精度測(cè)角儀(雙光學(xué)編碼、直接軸上定位)(理學(xué))

            4、測(cè)角儀配程序式可變狹縫

            5、自動(dòng)識(shí)別所有光學(xué)組件、樣品臺(tái)(理學(xué))

            6、CBO交叉光路,提供聚焦光路及高強(qiáng)度高分辨平行光路(帶Mirror)(理學(xué))

            7、小角散射測(cè)試組件(SAXS / Ultra SAXS)

            8、多用途薄膜測(cè)試組件

            9、微區(qū)測(cè)試組件、CBO-F微區(qū)光學(xué)組件

            10、In-Plane測(cè)試組件(理學(xué)*)

            11、入射端Ka1光學(xué)組件

            12、高速探測(cè)器D/teX-Ultra(能量分辨率20%以下)

            13、二維面探PILATUS 100K/R(用于同步輻射環(huán)的探測(cè)器,可以接收直射X射線)

            14、智能的測(cè)量分析軟件SmartLab Guidance()

             

            三、主要特點(diǎn)

            智能X射線衍射儀SmartLab系列,可以廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個(gè)領(lǐng)域。

            可以分析的材料包括:金屬材料、無機(jī)材料、復(fù)合材料、有機(jī)材料、納米材料、超導(dǎo)材料

            可以分析的材料狀態(tài)包括:粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品

            主要的應(yīng)用有

            1. 粉末樣品的物相定性與定量分析

            2. 計(jì)算結(jié)晶化度、晶粒大小

            3. 確定晶系、晶粒大小與畸變

            4. Rietveld定量分析

            5. 薄膜樣品分析,包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度,電荷密度

            6. In-Plane裝置可以同時(shí)測(cè)量樣品垂直方向的結(jié)構(gòu)及樣品深度方向的結(jié)構(gòu)

            7. 小角散射與納米材料粒徑分布

            8. 微區(qū)樣品的分析

             

             

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