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            賽默飛色譜及質譜

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            iCAP TQ ICPMS分析高純稀土中痕量稀土雜質

            閱讀:250      發(fā)布時間:2022-5-23
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            "工業(yè)的維生su"

            稀土元素被譽為"工業(yè)的維生su",具有豐富的磁、光、電等特性,在現(xiàn)代高新技術產(chǎn)業(yè)和功能材料中起到了至關重要的作用。這些材料主要包括稀土永磁材料、稀土催化材料、發(fā)光材料、貯氫材料、磁制冷材料、光導纖維、磁光存儲材料、巨磁阻材料、稀土激光材料、超導材料、介電材料等,在航空、航天、信息、電子、能源、交通、醫(yī)療衛(wèi)生等領域得到了廣泛的應用。

            高純稀土通常是指純度高于99.99%的稀土金屬或其氧化物。高純稀土材料中存在的其它稀土雜質元素常會對最終產(chǎn)品的功能產(chǎn)生影響,隨著提煉技術的不斷改進,使得稀土氧化物純度可達到6N(行業(yè)上通指稀土雜質元素含量),從而對于痕量稀土雜質測定方法提出了更高的要求。針對高純稀土中的雜質檢測會有下面難點。

            主基體的濃度太高,會干擾雜質元素的檢測

            對于高純稀土中的雜質檢測,往往樣品是5N(99.999%)及以上級別含量非常低,需要儀器有足夠高的靈敏度

            案例

            分析

            測定6N級高純稀土氧化釓

            (Gd2O3 )中的14種稀土雜質

            目前氧化釓中稀土雜質檢測方法主要依據(jù)國標GB/T18115.7中的電感耦合等離子體發(fā)射光譜法( ICP-OES) 和質譜法( ICP-MS)。

            在ICP-OES分析中,由于Gd的譜線十分密集,對其他稀土雜質元素的譜線干擾非常嚴重,測定范圍在0.001%-0.05%之間,難以滿足更高純度要求。

            單桿ICP-MS 質譜法具有更低的檢出限,但Gd具有7個天然豐度同位素,當采用SQ-ICP-MS方法進行氧化釓中其它稀土雜質元素分析時,Yb和Lu將受到嚴重的[ 152 154 155 156 157 158 160 Gd16 17 18 O]+和[ 152 154 155 156 157 158 160 Gd 16 17 18 OH]+類多原子類干擾,在現(xiàn)有的GB/T18115.7標準方法中,針對氧化釓中鐿和镥的測定制定了采用C272柱分離釓基體后再進行ICP-MS法測定方案,各雜質元素的最di定量下限可達0.0001%,能夠實現(xiàn)近5N級釓純度的測定。但這種分離技術非常費時,步驟繁瑣,對方法測定結果的影響因素多。

            "賽默飛三重四極桿ICPMS"

            賽默飛三重四極桿ICPMS不經(jīng)任何基體分離手段,能輕松解決高純稀土元素中雜質元素檢測的干擾問題,為高純稀土質量提供有力質量控制手段。

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            實驗測定結果

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            (點擊查看大圖)

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            iCAP TQ 三重四極桿ICPMS-高純稀土元素檢測利器

            超qiang抗干擾能力

            利用 Q1的iMS智能化質量篩選功能可有效地將高純稀土基體離子進行剔除,然后通過Q2碰撞反應池中加入特定的反應氣體,如氧氣或者氨氣,將待測稀土雜質離子或者基體氧化物離子的質量數(shù)進行遷移,解決了質量數(shù)重疊干擾。

            簡單操作

            賽默飛Qtegra™ 智能科學數(shù)據(jù)處理軟件(ISDS™)通過自帶的Reaction Finder 軟件工具,能夠自動為分析任務確定*測量模式,幫助用戶方便地建立方法,節(jié)省了日常方法建立所消耗的時間。

            為全國稀土行業(yè)的客戶提供解決方案

            賽默飛采用iCAP TQ ICPMS/MS三重四極桿質譜儀無需采用繁雜的分離稀土基體技術,就能輕松去除基體元素形成的干擾,從而準確測定稀土雜質元素的含量,為全國稀土行業(yè)的客戶提供解決方案以滿足行業(yè)發(fā)展的迫切需求。

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