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            技術(shù)文章

            ZetaPALS相位分析光散射原理(PALS)測(cè)ζ電位應(yīng)用案例8

            閱讀:291          發(fā)布時(shí)間:2013-11-25

            ZetaPALS相位分析光散射原理(PALS)測(cè)ζ電位應(yīng)用案例8

             

            文獻(xiàn)名:納米Fe3O4的ζ電位和分散穩(wěn)定性

             

            作者:程海斌 劉桂珍 李立春 官建國(guó) 袁潤(rùn)章

            (武漢理工大學(xué))

             

            摘要:研究了SDBS 存在下合成Fe3O4納米粒子的pH 值和SDBS 濃度與ζ電位、二次粒徑、分散穩(wěn)定性的關(guān)系。結(jié)果表明:Fe3O4復(fù)合粒子的分散穩(wěn)定性隨表面活性劑用量增大而提高,隨pH 增大而下降。粒子的ζ電位在pH =2~12 范圍內(nèi)均為負(fù)值,與粒徑、穩(wěn)定性不成正比例關(guān)系。粒子聚沉的主導(dǎo)因素不是ζ電位的高低,而可能是雙電層的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。

             

            關(guān)鍵詞:納米Fe3O4;ζ電位;粒徑;穩(wěn)定性;表面活性劑

             

             

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