供應
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ZetaPALS型高分辨率Zeta電位及粒度分析儀 詳細摘要:
所在地:北京北京市 更新時間:2025-04-04 在線留言 -
(TurboCorr)數(shù)字相關器 詳細摘要:
所在地: 更新時間:2025-04-03 在線留言 -
TurboCorr數(shù)字相關器 詳細摘要:
所在地: 更新時間:2025-04-03 在線留言 -
BI-DNDC示差折射儀 詳細摘要:
所在地: 更新時間:2025-04-03 在線留言 -
BI-MwA多角度激光光散射(分子量測定)儀 詳細摘要:
所在地: 更新時間:2025-04-03 在線留言 -
BI-ZTU自動滴定儀 詳細摘要:
所在地: 更新時間:2025-04-03 在線留言 -
ZetaPLus型Zeta電位及粒度分析儀 詳細摘要:
所在地: 更新時間:2025-04-03 在線留言 -
BI-XDC圓盤式離心/沉降粒度儀 詳細摘要:
所在地: 更新時間:2025-04-03 在線留言 -
BI-DCP圓盤式離心/沉降粒度儀 詳細摘要:
所在地: 更新時間:2025-04-03 在線留言 -
FOQELS高濃度激光分析儀 詳細摘要:
所在地: 更新時間:2025-04-03 在線留言 -
90Plus納米/亞微米激光粒度儀 詳細摘要:
所在地:北京北京市 更新時間:2025-04-03 在線留言 -
BI-870介電常數(shù)測定儀 詳細摘要:
所在地: 更新時間:2025-04-03 在線留言 -
BI-200SM廣角度動/靜態(tài)激光散射儀 詳細摘要:
所在地: 更新時間:2025-04-03 在線留言 -
ZetaPALS-高靈敏度Zeta電位儀 詳細摘要:. . . .ZetaPALS是目前*能夠精確測量低電泳遷移率體系的Zeta電位分析儀器,它采用的是真正的硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術,比其它測量Zeta電位的技術靈敏度高1000倍!
所在地:北京北京市 更新時間:2024-12-15 在線留言 -
ZetaPlus型-Zeta電位儀 詳細摘要:. . . .ZetaPlus是簡單、方便而且準確的電泳遷移率測量儀器,其*的開放式樣品槽設計與頻譜漂移分析技術相結合,使其具有*的分辨率,足以分辨等電點附近的多峰電泳分布情況。它的革新之處是從根本上消除了傳統(tǒng)Zeta電位測量儀器中固有的電滲誤差的影響,從而使
所在地:北京北京市 更新時間:2024-12-15 在線留言 -
BI-2010/2020-粘度檢測器 詳細摘要:BI-2010粘度檢測器采用全新專利技術的毛細管全橋式設計,具有高靈敏、低展寬、低噪音和節(jié)約測量時間等特點,其溫控可從室溫達到80℃。利用BI-2010可得到特征粘度,對樣品進行同樣校正,從而得到真實分子量和結構信息。特征粘度的檢測結合Mark-Houwink曲線,
所在地:北京北京市 更新時間:2024-12-13 在線留言 -
Omni-Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀 詳細摘要:Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀*結合了背向光散射技術與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術,擁有15°、90°與173°三個散射角度,突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性,硬件PALS技術*
所在地:北京北京市 更新時間:2024-12-12 在線留言 -
Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀 詳細摘要:Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀*結合了背向光散射技術與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術,擁有15°、90°與173°三個散射角度,突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性,硬件PALS技術*
所在地:北京北京市 更新時間:2024-12-12 在線留言 -
BI-200SM-廣角度動/靜態(tài)激光散射儀 詳細摘要:廣角度動/靜態(tài)激光散射儀采用TurboCorr數(shù)字相關器,通過動態(tài)光散射的方法可以測量小至1nm的納米顆粒分布情況,通過靜態(tài)光散射的方法可測量高分子材料的Zimm、Berry、Debye曲線、分子量、均方根回旋半徑及第二維里系數(shù)。經(jīng)國內外眾多*實驗室使用,證明BI-200SM
所在地:北京北京市 更新時間:2024-11-26 在線留言 -
激光粒度儀及Zeta電位分析儀 詳細摘要:它不僅適用于水相體系,還適用于溶劑、高鹽濃度、油相及等電點附近測量等特殊體系。
所在地:國外 更新時間:2024-11-26 在線留言