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            技術(shù)文章

            ZetaPALS相位分析光散射原理(PALS)測ζ電位應(yīng)用案例9

            閱讀:1081          發(fā)布時間:2013-11-25

            ZetaPALS相位分析光散射原理(PALS)測ζ電位應(yīng)用案例9

             

            文獻名:納米TiO2顆粒在制冷工質(zhì)中的分散

             

            作者: 畢勝山, 史 琳, 王 磊

            (清華大學(xué)熱科學(xué)與動力工程教育部重點實驗室,熱能工程系,北京,100084)

             

            摘要:納米TiO2顆粒在制備和應(yīng)用過程中極易團聚,解決其分散問題是納米TiO2顆粒在制冷系統(tǒng)中應(yīng)用的基礎(chǔ)和前提. 本工作利用目測沉降觀察、分光光度計吸收測量法和激光粒度分析法,實驗研究了納米TiO2顆粒在制冷工質(zhì)中的分散特性. 結(jié)果表明,納米TiO2顆粒在制冷劑中分散較穩(wěn)定,制冷劑介電常數(shù)和極性是主要的影響因素;Span-80可以作為納米TiO2顆粒在制冷劑中的分散劑;溫度對納米TiO2顆粒在制冷劑中的分散穩(wěn)定性影響明顯. 研究結(jié)果可為納米TiO2顆粒在制冷系統(tǒng)中的應(yīng)用研究提供基礎(chǔ)數(shù)據(jù).

             

            關(guān)鍵詞:納米顆粒;制冷劑;顆粒粒度;表面活性劑;溫度

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