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2024
08-20巖礦分析系統(tǒng)的關(guān)鍵知識(shí)點(diǎn)講解
巖礦分析是對(duì)巖石、礦物等天然或人工材料進(jìn)行化學(xué)成分和結(jié)構(gòu)特征的系統(tǒng)鑒定過(guò)程，它是地質(zhì)科學(xué)、環(huán)境科學(xué)以及材料科學(xué)中不可少的技術(shù)。巖礦分析系統(tǒng)的關(guān)鍵知識(shí)點(diǎn)：1.分析原理與技術(shù)-基本原理：巖礦分析基于物質(zhì)的物理和化學(xué)性質(zhì)，諸如密度、磁性、電性、光學(xué)特性以及化學(xué)反應(yīng)特性等來(lái)進(jìn)行。這些性質(zhì)能夠幫助科學(xué)家識(shí)別并定量巖石和礦物中的組分。-分析方法：常用的巖礦分析方法包括X射線衍射(XRD)、X射線熒光光譜(XRF)、原子吸收光譜(AAS)、質(zhì)譜分析(MS)等，這些技術(shù)能夠?qū)r石和礦物進(jìn)行準(zhǔn)確的化學(xué)成分和結(jié)構(gòu)分2024
07-312024
06-142024
05-23Fossil全自動(dòng)煤巖分析系統(tǒng)的測(cè)量區(qū)域選擇
煤巖分析(petrographicanalysisofcoal)是指以光學(xué)顯微鏡為主要主具兼用肉眼和其他手段，對(duì)煤的巖石組成、結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、煤化度作定性描述和定量測(cè)定的方法。是研究煤帶學(xué)的重要手段。最常規(guī)的分析項(xiàng)目是煤巖顯微組分和礦物質(zhì)的測(cè)定、鏡質(zhì)組反射率測(cè)定、顯微煤巖類型測(cè)定和宏觀描述。全自動(dòng)煤巖分析系統(tǒng)是一種用于冶金工程技術(shù)領(lǐng)域的分析儀器，用于巖礦、石油顯微組織的觀察與分析。Fossil全自動(dòng)煤巖分析系統(tǒng)是一種測(cè)試鏡質(zhì)體反射率和煤品分析系統(tǒng)。該系統(tǒng)自動(dòng)化程度高，所有操作可在一套軟件上完成，測(cè)量2024
04-222024
03-21原子力顯微鏡具有哪些優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)？
原子力顯微鏡是一種可用來(lái)研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過(guò)檢測(cè)待測(cè)樣品表面和一個(gè)微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來(lái)研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)。將一對(duì)微弱力非常敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時(shí)它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂發(fā)生形變或運(yùn)動(dòng)狀態(tài)發(fā)生變化。掃描樣品時(shí)，利用傳感器檢測(cè)這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級(jí)分辨率獲得表面形貌結(jié)構(gòu)信息及表面粗糙度信息。原子力顯微鏡具有哪些優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)？1.高分辨力能力遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)掃描電子顯微鏡（SEM），2024
03-07Fossil全自動(dòng)煤巖分析系統(tǒng)的主要特點(diǎn)
煤巖分析系統(tǒng)用于煤炭質(zhì)量檢測(cè)、評(píng)價(jià)和研究（主要測(cè)定煤的鏡質(zhì)組反射率，及反射率分布，鑒別單混煤，混合類型煤的鏡質(zhì)組絲質(zhì)組和微惰性煤各部分所占的比例指導(dǎo)配煤，煤巖技術(shù)參數(shù)，焦炭顯微結(jié)構(gòu)、焦炭氣孔結(jié)構(gòu)的參數(shù)）。Fossil全自動(dòng)煤巖分析系統(tǒng)是一種測(cè)試鏡質(zhì)體反射率和煤品分析系統(tǒng)。該系統(tǒng)自動(dòng)化程度高，所有操作可在一套軟件上完成，測(cè)量方式可滿足國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)；只需一次定標(biāo)，就可測(cè)算出視野范圍內(nèi)任意位置的鏡質(zhì)體反射率，提高了測(cè)量效率。主要特點(diǎn)：測(cè)量快速，自動(dòng)測(cè)量；自動(dòng)測(cè)量，給出煤質(zhì)分析數(shù)據(jù)；測(cè)量區(qū)域自由選擇；測(cè)量面2024
01-302024
01-222024
01-15SEM掃描電鏡使用時(shí)需要特別注意以下事項(xiàng)
SEM掃描電鏡(ScanningElectronMicroscope，SEM)利用電子束掃描樣品表面并獲得其形貌和成分信息的高分辨率成像技術(shù)。它以電子束作為探針來(lái)照射樣品，并根據(jù)樣品表面反射、散射和輻射出的電子信號(hào)來(lái)獲得顯微圖像。通常使用熱陰極或場(chǎng)發(fā)射陰極來(lái)產(chǎn)生電子束。這些電子經(jīng)過(guò)電子透鏡系統(tǒng)的聚焦和加速，形成高能電子束。然后，電子束照射樣品表面。樣品通常涂有一層導(dǎo)電薄膜，如金屬薄膜，以提供導(dǎo)電性。當(dāng)電子束照射樣品表面時(shí)，一部分電子被樣品原子的庫(kù)侖場(chǎng)散射，而另一部分電子可以穿透樣品表面進(jìn)入深部。2023
12-262023
12-26鎢燈絲電鏡可通過(guò)顯像系統(tǒng)將信號(hào)轉(zhuǎn)化為圖像顯示出來(lái)
鎢燈絲電鏡的工作原理基于電子束與樣品之間的相互作用。當(dāng)高能電子束與樣品表面相互作用時(shí)，發(fā)生多種物理和化學(xué)效應(yīng)，如散射、輻射和吸收等。這些效應(yīng)會(huì)產(chǎn)生不同的信號(hào)，如二次電子信號(hào)、反射電子信號(hào)、散射電子信號(hào)和X射線等。SEM在掃描樣品表面時(shí)，可以收集并檢測(cè)到這些信號(hào)，從而獲得樣品的形貌和成分信息。優(yōu)點(diǎn)是可以獲得高分辨率的樣品形貌和成分信息，對(duì)樣品的觀察范圍廣泛，從納米尺度到毫米尺度都可以覆蓋。它還具有操作簡(jiǎn)單、成像速度快、成本較低等優(yōu)勢(shì)。具體來(lái)說(shuō)，當(dāng)電子束作用于樣品表面時(shí)，會(huì)激發(fā)出二次電子和反射電子。2023
12-19鎢燈絲電鏡是用于生命科學(xué)領(lǐng)域的高分辨率顯微鏡
鎢燈絲電鏡(TungstenFilamentElectronMicroscope)，又稱為掃描電鏡(ScanningElectronMicroscope，SEM)，是應(yīng)用于材料科學(xué)和生命科學(xué)領(lǐng)域的高分辨率顯微鏡。它利用高能電子束和樣品之間的相互作用，通過(guò)掃描樣品表面來(lái)獲取樣品的形貌和組成信息?；緲?gòu)成包括電子源、透鏡系、樣品臺(tái)、檢測(cè)器、顯像系統(tǒng)等。電子源是SEM的核心部件，鎢燈絲作為電子源放電時(shí)會(huì)釋放出高能電子束。透鏡系用來(lái)聚焦和控制電子束，將其聚焦到樣品表面形成高分辨率圖像。樣品臺(tái)是用來(lái)支撐和2023
11-25場(chǎng)發(fā)射電鏡是一種強(qiáng)大的顯微鏡技術(shù)
場(chǎng)發(fā)射電鏡(FieldEmissionElectronMicroscope，縮寫(xiě)為FE-SEM)是一種強(qiáng)大的顯微鏡技術(shù)。它利用場(chǎng)發(fā)射電子源產(chǎn)生的高能電子束來(lái)進(jìn)行樣品的高分辨率成像，能夠提供比傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡更高的分辨率和更強(qiáng)的分析能力。場(chǎng)發(fā)射電鏡的使用步驟：1.準(zhǔn)備樣品：選擇合適的樣品，并進(jìn)行必要的預(yù)處理。例如，如果是固態(tài)材料，可能需要將樣品切割成適合放入電子顯微鏡的尺寸，然后進(jìn)行打磨和拋光。2.安裝樣品：將樣品安裝到電子顯微鏡的樣品臺(tái)上。確保樣品穩(wěn)定且位置正確，以確保獲得清晰的圖像。3.真空2023
11-20高光譜成像技術(shù)具有廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域
高光譜成像技術(shù)是一種利用光譜信息進(jìn)行成像的技術(shù)。不同于傳統(tǒng)的RGB三通道的彩色成像，HSI能夠獲取連續(xù)的、寬廣的光譜信息，為每個(gè)像素提供一個(gè)連續(xù)的光譜響應(yīng)曲線。這種技術(shù)能夠提供遠(yuǎn)超過(guò)人眼識(shí)別能力的光譜和空間信息，使我們能夠從不同的角度和深度分析目標(biāo)物體。高光譜成像儀具有快速的數(shù)據(jù)采集和處理能力。高光譜相機(jī)采用連續(xù)掃描的方式獲取光譜數(shù)據(jù)，具有較快的數(shù)據(jù)采集速度。這對(duì)于無(wú)損檢測(cè)來(lái)說(shuō)非常重要，特別是在實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)和快速檢測(cè)的場(chǎng)景下。高光譜相機(jī)可以實(shí)時(shí)獲取大量的光譜數(shù)據(jù)，并通過(guò)快速的數(shù)據(jù)處理算法進(jìn)行分析和判2023
11-17場(chǎng)發(fā)射電子源是場(chǎng)發(fā)射電鏡的核心部件
場(chǎng)發(fā)射電子源是場(chǎng)發(fā)射電鏡的核心部件，它利用電場(chǎng)作用使電子從鎢或其他高電子親和力材料中釋放出來(lái)。場(chǎng)發(fā)射電子源具有較小的尺寸、高亮度和長(zhǎng)壽命，能夠提供高束流密度的電子束。電子光學(xué)系統(tǒng)包括準(zhǔn)直透鏡、電子源支架、電子束磁透鏡和檢測(cè)器等組成。通過(guò)精確控制透鏡的磁場(chǎng)分布，可以將電子束聚焦到納米尺度下，實(shí)現(xiàn)高分辨率成像。樣品臺(tái)是電鏡中支持和移動(dòng)樣品的平臺(tái)。樣品臺(tái)通常具有高精度的運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)，可以使樣品在多個(gè)軸向上進(jìn)行精確的定位和旋轉(zhuǎn)，以獲得多角度、高分辨率的成像。場(chǎng)發(fā)射電鏡的應(yīng)用：1.納米材料表征：能夠提供亞納米2023
10-29光電探測(cè)器的應(yīng)用領(lǐng)域有哪些？
光電探測(cè)器是將光輻射轉(zhuǎn)化為電量的一種元器件，它有著廣泛的用途，從粒子探測(cè)望遠(yuǎn)鏡到大型強(qiáng)子對(duì)撞機(jī)，再到對(duì)紫外線敏感的太陽(yáng)鏡，到處都有光電探測(cè)器。光電探測(cè)器的原理是由輻射引起被照射材料電導(dǎo)率發(fā)生改變。光電探測(cè)器在軍事和國(guó)民經(jīng)濟(jì)的各個(gè)領(lǐng)域有廣泛用途。在可見(jiàn)光或近紅外波段主要用于射線測(cè)量和探測(cè)、工業(yè)自動(dòng)控制、光度計(jì)量等；在紅外波段主要用于紅外熱成像、紅外遙感等方面。光電導(dǎo)體的另一應(yīng)用是用它做攝像管靶面。為了避免光生載流子擴(kuò)散引起圖像模糊，連續(xù)薄膜靶面都用高阻多晶材料，如PbS-PbO、Sb2S3等。其他2023
10-25巖礦分析系統(tǒng)在環(huán)境地質(zhì)等領(lǐng)域中具有廣泛的應(yīng)用前景
巖礦分析系統(tǒng)的主要優(yōu)點(diǎn)是快速、準(zhǔn)確、并且具有非破壞性。可以對(duì)不同的巖礦樣品進(jìn)行綜合的分析，為地質(zhì)勘探、礦產(chǎn)資源評(píng)價(jià)和地質(zhì)災(zāi)害預(yù)警提供科學(xué)依據(jù)，在地質(zhì)、礦產(chǎn)地質(zhì)、環(huán)境地質(zhì)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景。巖礦分析系統(tǒng)的常見(jiàn)問(wèn)題及解決方法可以包括以下幾個(gè)方面：1.數(shù)據(jù)質(zhì)量問(wèn)題：-問(wèn)題表現(xiàn)：數(shù)據(jù)異常、數(shù)據(jù)缺失等。-解決方法：檢查數(shù)據(jù)采集過(guò)程中的儀器設(shè)置是否正確，重新采集數(shù)據(jù)；檢查數(shù)據(jù)處理過(guò)程中的算法和參數(shù)是否正確，優(yōu)化數(shù)據(jù)處理方法；補(bǔ)充缺失數(shù)據(jù)。2.算法準(zhǔn)確性問(wèn)題：-問(wèn)題表現(xiàn)：分析結(jié)果與實(shí)際情況不一致。-解決2023
10-19巖礦分析系統(tǒng)是用于巖礦樣品分析的儀器設(shè)備
巖礦分析系統(tǒng)是用于巖礦樣品分析的儀器設(shè)備，通過(guò)對(duì)樣本進(jìn)行化學(xué)、物理、礦物學(xué)等綜合分析，獲取關(guān)于巖礦組分、結(jié)構(gòu)、性質(zhì)以及地質(zhì)特征等方面的信息。其原理主要包括前處理、分析檢測(cè)和數(shù)據(jù)處理三個(gè)方面。前處理：首先需要對(duì)待測(cè)的巖礦樣品進(jìn)行前處理，主要包括樣品的制備、研磨和樣品制備，保證樣品充分均勻、無(wú)雜質(zhì)。分析檢測(cè)：一般采用多種分析技術(shù)，包括化學(xué)分析、物理分析和礦物學(xué)分析等。其中化學(xué)分析主要通過(guò)化學(xué)反應(yīng)、光譜測(cè)量等方法，檢測(cè)巖礦樣品中的元素含量和組成比例。常見(jiàn)的化學(xué)分析方法有原子吸收光譜法、原子熒光光譜法、2023
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