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            北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司

            6
            • 2022

              10-27

              從基本開(kāi)始認(rèn)識(shí)普通掃描電鏡

              普通掃描電鏡的電子槍發(fā)射出電子束,電子在電場(chǎng)的作用下加速,經(jīng)過(guò)兩三個(gè)電磁聚光鏡后在樣品表面聚焦成極細(xì)的電子束。該細(xì)小的電子束在末透鏡的上方的雙偏轉(zhuǎn)線圈作用下在樣品表面進(jìn)行掃描,被加速的電子到達(dá)樣品的表面,樣品原子的外層電子受激發(fā)離開(kāi)樣品形成二次電子被探測(cè)器俘獲后轉(zhuǎn)化成的信號(hào),在顯像管熒光屏上形成的圖像亮點(diǎn)即掃描電鏡圖像,圖像與樣品表面形態(tài)有密切的關(guān)系。如二次電子,背散射電子,吸收電子、X射線、俄歇電子、陰極發(fā)光等。這些信號(hào)被按順序、成比例的交換成視頻信號(hào)、檢測(cè)放大處理成像,從而在熒光屏上觀察到樣
            • 2022

              10-27

              X射線衍射儀使用的注意事項(xiàng)有哪些?

              X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應(yīng)力,精確的進(jìn)行物相分析,定性分析,定量分析。主要應(yīng)用于樣品的物相定性或定量分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、材料的結(jié)構(gòu)宏觀應(yīng)力的測(cè)定、晶粒大小測(cè)定、結(jié)晶度測(cè)定等。使用的注意事項(xiàng)有哪些?1.不要像普通垃圾一樣丟棄X射線管和探測(cè)器。2.請(qǐng)?jiān)陉P(guān)門時(shí),盡量避免過(guò)度用力,以免影響安全系統(tǒng)。3.定期清潔儀器內(nèi)部,以免灰塵聚集在某些重要部件的表面上,影響儀器的正常工作。4.光管水路需要定期檢查和清潔。5.人員長(zhǎng)時(shí)間離開(kāi)后必須關(guān)機(jī),20分鐘后關(guān)循環(huán)水,否則水管漏水將
            • 2022

              10-25

              臺(tái)式電鏡SEM在材料科學(xué)領(lǐng)域當(dāng)中有著非常重要的作用

              臺(tái)式電鏡SEM在行業(yè)當(dāng)中有著非常重要的作用,它可以放大并觀察物體表面結(jié)構(gòu),現(xiàn)如今被廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、冶金、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、半導(dǎo)體材料與器件、地質(zhì)勘探、病蟲(chóng)害的防治、災(zāi)害鑒定、寶石鑒定、工業(yè)生產(chǎn)中的產(chǎn)品質(zhì)量鑒定及生產(chǎn)工藝控制等。同時(shí)臺(tái)式掃描電鏡SEM它在特點(diǎn)方面也非常突出,比如擁有非常小的體積和操作簡(jiǎn)單易用等。臺(tái)式電鏡SEM使用的注意事項(xiàng):使用的過(guò)程中,體積小,使用方便,減少占用空間的同時(shí),讓大家在使用儀器的時(shí)候變的更方便;在操作和維護(hù)的時(shí)候也非常簡(jiǎn)單,能夠?yàn)槭褂谜邷p少很多不必要的麻煩,同時(shí)也能讓
            • 2022

              09-27

              超高壓XRD衍射圖是如何產(chǎn)生的?

              超高壓XRD是基于多晶樣品對(duì)X射線的衍射效應(yīng),對(duì)樣品中各組份的存在形態(tài)進(jìn)行分析測(cè)定的方法.測(cè)定的內(nèi)容包括:各組份的結(jié)晶情況,所屬的晶相,晶體的結(jié)構(gòu),各種元素在晶體中的價(jià)態(tài)、成鍵狀態(tài)等。即在測(cè)定各種元素在樣品中含量的基礎(chǔ)上,還要進(jìn)一步確定各種晶態(tài)組分的結(jié)構(gòu)和含量。衍射的概念:波的重要特性:波的疊加性,干涉現(xiàn)象,衍射現(xiàn)象。波的疊加性:當(dāng)多于一列的同類波在空間相遇并共存時(shí),總的波是各個(gè)分波的矢量和,而各個(gè)分波相互并不影響,分開(kāi)后仍然保持各自的性質(zhì)不變。干涉:由于波的疊加作用,當(dāng)兩列或兩列以上具有相同頻
            • 2022

              09-19

              鎢燈絲電鏡是一種重要的測(cè)量分析儀器

              鎢燈絲電鏡是一種重要的測(cè)量分析儀器,在很多的實(shí)驗(yàn)室中都離不開(kāi)鎢燈絲掃描電鏡,出于到位的原理以及性能,鎢燈絲掃描電鏡的使用顯得更加的出色。對(duì)于使用者而言選擇合適的鎢燈絲掃描電鏡廠家顯得很重要。它性能是很多人關(guān)心的因素,所謂的性能包括兩個(gè)因素,包括鎢燈絲掃描電鏡的操作性能以及技術(shù)參數(shù)。先是操作性能,在設(shè)計(jì)機(jī)器的過(guò)程中操作性能是重點(diǎn)考察的因素,考驗(yàn)是設(shè)備部件之間的相互銜接,能否在測(cè)量的過(guò)程中更加的操作鎢燈絲掃描電鏡是影響設(shè)備性能的關(guān)鍵因素。不僅是鎢燈絲掃描電鏡操作性能,鎢燈絲掃描電鏡的測(cè)量技術(shù)參數(shù)也是
            • 2022

              09-01

              掃描電子顯微鏡在高分子中的常見(jiàn)應(yīng)用有哪些?

              掃描電子顯微鏡(SEM)利用二次電子信號(hào)成像來(lái)觀察樣品的表面形態(tài),在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應(yīng)用。SEM在高分子中的常見(jiàn)應(yīng)用:(1)觀察高聚物的形態(tài)和結(jié)構(gòu);(2)觀察結(jié)晶高聚物的晶態(tài)結(jié)構(gòu);(3)研究材料共混相容性;(4)觀察高分子納米材料結(jié)構(gòu);(5)表征高分子材料的降解性;(6)研究高分子材料的生物相容性;(7)研究多孔材料表面或斷面的孔特征。和光學(xué)顯微鏡及透射電鏡相比,掃描電鏡具有以下特點(diǎn):(1)能夠直接觀察樣品表面的結(jié)構(gòu),樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。(2
            • 2022

              08-27

              巖礦分析系統(tǒng)是一種可用于檢測(cè)分析的儀器

              巖礦的成分測(cè)定與分析是地質(zhì)工作的一個(gè)重要組成部分,它的研究對(duì)象主要是天然礦產(chǎn),如巖石、礦物等;主要任務(wù)是利用一些技術(shù)手段(儀器分析、化學(xué)分析等),對(duì)礦物巖石的成分在不同賦存狀態(tài)下的含量及其化學(xué)組成進(jìn)行測(cè)定與分析。巖礦成分的測(cè)定與分析工作具有重要的意義,如何快速準(zhǔn)確的發(fā)現(xiàn)巖礦并給與正確的評(píng)價(jià),是廣大地質(zhì)工作者的重要任務(wù)??梢哉f(shuō),巖礦成分的測(cè)定與分析工作與我國(guó)的社會(huì)主義現(xiàn)代化建設(shè)有著密不可分的聯(lián)系。巖礦分析系統(tǒng)是一類能使物體離子化,并通過(guò)適當(dāng)?shù)碾妶?chǎng)、磁場(chǎng)將它們按質(zhì)荷比分離、檢測(cè)分析的儀器。當(dāng)被測(cè)樣品
            • 2022

              08-19

              煤巖分析系統(tǒng)是入廠煤檢驗(yàn)和優(yōu)化煉焦配煤技術(shù)的有效手段!

              煤巖分析系統(tǒng)是以應(yīng)用煤巖學(xué)理論為基礎(chǔ),可測(cè)定多個(gè)應(yīng)用煤巖學(xué)指標(biāo),為合理優(yōu)化配煤提供了有力的數(shù)據(jù)支撐,是入廠煤檢驗(yàn)和優(yōu)化煉焦配煤技術(shù)的有效手段!近年來(lái),我國(guó)國(guó)民經(jīng)濟(jì)的持續(xù)高速發(fā)展刺激了對(duì)鋼鐵的需求,同時(shí)也拉動(dòng)了煉焦生產(chǎn)的高速度發(fā)展。焦炭產(chǎn)能的快速擴(kuò)張導(dǎo)致煉焦煤供應(yīng)緊張,煉焦煤價(jià)格大幅度升高,又由于高爐大型化、噴吹煤粉等技術(shù)的應(yīng)用,對(duì)焦炭質(zhì)量提出了更高的要求,致使煉焦煤供應(yīng)更加緊張。同時(shí),由于焦炭產(chǎn)能過(guò)剩,焦炭?jī)r(jià)格低迷。焦化行業(yè)面臨著煤炭資源供應(yīng)緊張和經(jīng)濟(jì)效益低下的雙重壓力,如何合理利用煤炭資源,提
            • 2022

              08-08

              掃描電鏡的工作原理說(shuō)明

              掃描電鏡全稱為掃描電子顯微鏡,由于它具有制樣簡(jiǎn)單、放大倍數(shù)可調(diào)范圍寬、圖像的分辨率高、景深大等特點(diǎn),故被廣泛地應(yīng)用于化學(xué)、生物、醫(yī)學(xué)、冶金、材料、半導(dǎo)體制造、微電路檢查等各個(gè)研究領(lǐng)域和工業(yè)部門。工作原理:掃描電鏡是對(duì)樣品表面形態(tài)進(jìn)行測(cè)試的一種大型儀器。當(dāng)具有一定能量的入射電子束轟擊樣品表面時(shí),電子與元素的原子核及外層電子發(fā)生單次或多次彈性與非彈性碰撞,一些電子被反射出樣品表面,而其余的電子則滲入樣品中,逐漸失去其動(dòng)能,最后停止運(yùn)動(dòng),并被樣品吸收。在此過(guò)程中有99%以上的入射電子能量轉(zhuǎn)變成樣品熱能
            • 2022

              08-02

              掃描電鏡SEM的主要結(jié)構(gòu)說(shuō)明

              掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來(lái)掃描樣品,通過(guò)光束與物質(zhì)間的相互作用,來(lái)激發(fā)各種物理信息,對(duì)這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對(duì)物質(zhì)微觀形貌表征的目的。掃描電鏡具有景深大、分辨率高,成像直觀、立體感強(qiáng)、放大倍數(shù)范圍寬以及待測(cè)樣品可在三維空間內(nèi)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)和傾斜等特點(diǎn)。另外具有可測(cè)樣品種類豐富,幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時(shí)獲得形貌、結(jié)構(gòu)、成分和結(jié)晶學(xué)信息等優(yōu)點(diǎn)。掃描電鏡的主要結(jié)構(gòu):電子光學(xué)系統(tǒng):產(chǎn)生高能電子束的鏡筒,包括
            • 2022

              01-21

              關(guān)于臺(tái)式掃描電子顯微鏡您了解多少?

              電子源發(fā)射的電子束經(jīng)過(guò)電磁透鏡的電子光學(xué)通路聚焦,電子源的直徑被縮小到納米尺度的電子束斑,與顯示器掃描同步的電子光學(xué)鏡筒中的掃描線圈控制電子束,在樣品表面一定微小區(qū)域內(nèi),逐點(diǎn)逐行掃描。電子束與樣品相互作用,從樣品中發(fā)射的具有成像反差的信號(hào),臺(tái)式掃描電子顯微鏡由一個(gè)適當(dāng)?shù)膱D像探測(cè)器逐點(diǎn)收集,并將信號(hào)經(jīng)過(guò)前置放大器和視頻放大器,用調(diào)制解調(diào)電路調(diào)制顯示器上相對(duì)應(yīng)顯示像素的亮度,形成我們?nèi)祟愑^察習(xí)慣的,反映樣品二維形貌的圖像或者其他可以理解的反差機(jī)制圖像。由于圖像顯示器的像素尺寸遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于電子束斑尺寸,(
            • 2022

              01-17

              高溫環(huán)境XRD的相關(guān)內(nèi)容介紹,這篇文章總結(jié)的很詳細(xì)了

              高溫環(huán)境XRD即X-raydiffraction,通過(guò)對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射,分析其衍射圖譜,獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線是一種波長(zhǎng)很短(約為20~0.06nm)的電磁波,能穿透一定厚度的物質(zhì),并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相乳膠感光、氣體電離。在用電子束轟擊金屬“靶”產(chǎn)生的X射線中,包含與靶中各種元素對(duì)應(yīng)的具有特定波長(zhǎng)的X射線,稱為特征(或標(biāo)識(shí))X射線。x射線是一種具有較短波長(zhǎng)的高能電磁波,由原子內(nèi)層軌道中電子躍遷或高能電子減速所產(chǎn)生。X射線的波長(zhǎng)范圍為0.01
            • 2021

              12-28

              巖礦分析系統(tǒng)應(yīng)該這樣使用!

              巖礦分析,顧名思義,就是應(yīng)用各種礦物學(xué)原理與方法,通過(guò)礦物的光、電、聲、熱、磁、重、硬度、氣味等以及其主要的化學(xué)成分特征,對(duì)巖石、礦物樣品、包括光(?。┢⑸捌?、碎屑、粉未進(jìn)行觀察、鑒定以區(qū)別其他礦物類別,以及研究巖石、礦石的主要礦物組成、礦物成生序列,結(jié)構(gòu)、構(gòu)造、巖(礦)石類型的技術(shù)方法?,F(xiàn)代地球物理學(xué)是將數(shù)學(xué)、物理、計(jì)算機(jī)與傳統(tǒng)地學(xué)緊密結(jié)合的學(xué)科;是利用高精度測(cè)量?jī)x器探測(cè)地球內(nèi)部結(jié)構(gòu)、動(dòng)力和演化,進(jìn)行資源勘查與開(kāi)發(fā)利用、地質(zhì)災(zāi)害預(yù)測(cè)和防治、工程勘測(cè)、生態(tài)環(huán)境保護(hù)以及污染監(jiān)測(cè)等方面的研究。巖礦
            • 2021

              12-20

              普通掃描電鏡是一種利用電子進(jìn)行成像的顯微鏡

              普通掃描電鏡是一種利用電子進(jìn)行成像的顯微鏡,由英文ScanningElectronMicroscope直譯得名,簡(jiǎn)稱為掃描電鏡。由于電子的德布羅意波長(zhǎng)遠(yuǎn)小于可見(jiàn)光的波長(zhǎng),掃描電鏡具有比光學(xué)顯微鏡高得多圖像分辨率,使我們擁有在亞原子尺度上觀察微觀世界的能力。掃描電鏡噴金幾乎可以對(duì)所有類型的樣本進(jìn)行圖像處理,陶瓷、金屬、合金、半導(dǎo)體、聚合物、生物樣品等。然而,某些特定類型的樣品更具有挑戰(zhàn)性,并且需要操作者進(jìn)行額外的樣品制備,以便借助掃描電鏡噴金收集高質(zhì)量圖片。這些額外的步驟包括在樣品中表面濺射一個(gè)額
            • 2021

              11-10

              臺(tái)式電鏡操作簡(jiǎn)單方便

              臺(tái)式電鏡是一個(gè)復(fù)雜的系統(tǒng),濃縮了電子光學(xué)技術(shù)、真空技術(shù)、精細(xì)機(jī)械結(jié)構(gòu)以及現(xiàn)代計(jì)算機(jī)控制等技術(shù)。是在加速高壓作用下將電子槍發(fā)射的電子經(jīng)過(guò)多級(jí)電磁透鏡匯集成細(xì)?。ㄖ睆揭话銥?~5nm)的電子束(相應(yīng)束流為10-11~10-12A)。在末級(jí)透鏡上方掃描線圈的作用下,使電子束在試樣表面做光柵掃描(行掃+幀掃)。入射電子與試樣相互作用會(huì)產(chǎn)生二次電子、背散射電子、X射線等各種信息。臺(tái)式電鏡直觀的用戶界面、簡(jiǎn)便的觸摸屏控制,以及各項(xiàng)自動(dòng)調(diào)節(jié)功能,使用戶僅需極少的培訓(xùn),就可以得到高質(zhì)量的圖像。將通常電子顯微鏡所
            • 2021

              11-02

              煤巖分析系統(tǒng)技術(shù)優(yōu)勢(shì)

              近年來(lái),我國(guó)國(guó)民經(jīng)濟(jì)的持續(xù)高速發(fā)展刺激了對(duì)鋼鐵的需求,同時(shí)也拉動(dòng)了煉焦生產(chǎn)的高速度發(fā)展。焦炭產(chǎn)能的快速擴(kuò)張導(dǎo)致煉焦煤供應(yīng)緊張,煉焦煤價(jià)格大幅度升高,又由于高爐大型化、噴吹煤粉等技術(shù)的應(yīng)用,對(duì)焦炭質(zhì)量提出了更高的要求,致使優(yōu)質(zhì)煉焦煤供應(yīng)更加緊張。同時(shí),由于焦炭產(chǎn)能過(guò)剩,焦炭?jī)r(jià)格低迷。焦化行業(yè)面臨著煤炭資源供應(yīng)緊張和經(jīng)濟(jì)效益低下的雙重壓力,如何合理利用煤炭資源,提高企業(yè)經(jīng)濟(jì)效益,滿足鋼鐵工業(yè)持續(xù)發(fā)展是擺在焦化企業(yè)面前的緊迫任務(wù),也是長(zhǎng)期任務(wù)。煤巖分析系統(tǒng)是用于煤田地質(zhì)勘探、煤礦開(kāi)采、洗煤、焦化等部門
            • 2021

              10-23

              淺析SEM掃描電鏡生物樣品制備技術(shù)

              掃描電子顯微鏡,簡(jiǎn)稱為掃描電鏡,英文縮寫為SEM(ScanningElectronMicroscope)。它是用細(xì)聚焦的電子束轟擊樣品表面,通過(guò)電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等對(duì)樣品表面或斷口形貌進(jìn)行觀察和分析。SEM已廣泛應(yīng)用于材料、冶金、礦物、生物學(xué)等領(lǐng)域。SEM掃描電鏡由電子槍、電磁透鏡、掃描線圈和樣品室等部件組成。作用:獲得掃描電子束、作為產(chǎn)生物理信號(hào)的激發(fā)源。為了獲得較高的信號(hào)強(qiáng)度和圖像分辨率,掃描電子束應(yīng)具有較高的亮度和盡可能小的束斑直徑。電子槍利用陰極與陽(yáng)極燈絲間的高
            • 2021

              10-11

              低溫環(huán)境XRD到底是什么?

              低溫環(huán)境XRD已成為了解溫度、氣氛或壓力對(duì)材料影響*的技術(shù)。除了與研究相關(guān)外,這些知識(shí)對(duì)于優(yōu)化技術(shù)流程和進(jìn)行工業(yè)質(zhì)量控制也至關(guān)重要。通過(guò)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)樣品在不同溫度條件下的結(jié)晶情況,分析其衍射圖譜可以得到不同溫度條件下的半峰寬、強(qiáng)度、晶面間距以及晶粒尺寸等信息,從而研究樣品的相變、結(jié)晶度變化規(guī)律。低溫環(huán)境XRD采用環(huán)境降溫的方式,溫度探頭測(cè)試的為內(nèi)層密封罩內(nèi)低溫惰性氣體的溫度,當(dāng)腔體內(nèi)溫度達(dá)到平衡后,樣品表面的溫度近似與腔體內(nèi)溫度相等,故此時(shí)監(jiān)測(cè)的溫度為樣品表面溫度,測(cè)試的圖譜為該溫度下樣品相變的真實(shí)
            • 2021

              09-29

              激光拉曼光譜儀的主要部件有哪些?

              激光拉曼光譜儀分析是一種非破壞性的微區(qū)分析手段,液體、粉末及各種固體樣品均不需特殊處理即可用于拉曼光譜的測(cè)定。拉曼光譜可以單獨(dú),或與其他技術(shù)(如X衍射譜、紅外吸收光譜、中子散射等)結(jié)合起來(lái)應(yīng)用,方便地確定離子、分子種類和物質(zhì)結(jié)構(gòu)。其應(yīng)用主要是對(duì)各種固態(tài)、液態(tài)、氣態(tài)物質(zhì)的分子組成、結(jié)構(gòu)及相對(duì)含量等進(jìn)行分析,實(shí)現(xiàn)對(duì)物質(zhì)的鑒別與定性。激光拉曼光譜儀的主要部件有:激光光源、樣品池、單色器、光電檢測(cè)器、記錄儀和計(jì)算機(jī)。1.激光光源:多用連續(xù)式氣體激發(fā)器,有主要波長(zhǎng)為632.8nm的He-Ne激光器和主要波
            • 2021

              09-24

              臺(tái)式電鏡SEM在半導(dǎo)體中的應(yīng)用

              臺(tái)式電鏡SEM可以對(duì)器件的尺寸和一些重要的物理參數(shù)進(jìn)行分析,如結(jié)深、耗盡層寬度少子壽命、擴(kuò)散長(zhǎng)度等等,也就是對(duì)器件的設(shè)計(jì)、工藝進(jìn)行修改和調(diào)整。臺(tái)式掃描電鏡二次電子像可以分析器件的表面形貌,結(jié)合縱向剖面解剖和腐蝕,可以確定PN結(jié)的位置、結(jié)的深度。利用臺(tái)式掃描電鏡束感生電流工作模式,可以得到器件結(jié)深、耗盡層寬度、MOS管溝道長(zhǎng)度,還能測(cè)量擴(kuò)散長(zhǎng)度、少子壽命等物理參數(shù)。對(duì)于1nm以下的短溝道器件檢測(cè),可用類似于測(cè)量耗盡層寬度的方法,電子束對(duì)MOS場(chǎng)效應(yīng)管進(jìn)行掃描,得到二條束感生電流曲線,就可得知此場(chǎng)效
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