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Supermini200半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀PX 3385
XtaLAB mini日本理學(xué)Rigaku單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測裝置PX 3385
XtaLAB Synergy-i日本理學(xué)Rigaku單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測裝置PX 3385
XtaLAB Synergy-DW日本理學(xué)Rigaku單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測裝置PX 3385
XtaLAB Synergy-R日本理學(xué)Rigaku單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測裝置PX 3385
XtaLAB Synergy-S日本理學(xué)Rigaku單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測裝置PX 3385
輻射成像高分辨率X射線成像系統(tǒng)PX 3479
FPCRY-microX-XRMX射線顯微鏡PX 3479
inCiTe 3D工業(yè)CT MicroCT_2μm臺式CT掃描儀(XRM)PX 0
inCiTe加拿大 工業(yè)CT MicroCT_5μm微型CT掃描儀PX 0
REVEAL R 35CKA Imaging便攜式三能量探測器PX 0
Reveal 35CKA Imaging便攜雙能 探測器PX 0
BrillianSe非晶硒高分辨X射線探測器PX 0
AX8200X射線透視檢測設(shè)備PX 3746
AX8200x-ray無損探傷檢測儀PX 3746
AX8200半導(dǎo)體微聚焦X射線檢測設(shè)備PX 3746
LX2000在線X-RAY檢測設(shè)備 工業(yè)CT代檢測服務(wù)PX 3746
AX92003D在線X射線自動檢查設(shè)備PX 3746
AX8200X-Ray透視檢測設(shè)備 工業(yè)CT代檢測服務(wù)PX 3746
ACRE 902ACRE 902 常規(guī)鑄件X射線設(shè)備PX 2974
SRESRE萬能鑄件X射線設(shè)備PX 2974
ISOVOLT mobile 160ISOVOLT mobile 160 移動式X射線機(jī)PX 2974
Linatron-Mi2Linatron-Mi2模塊化交錯高能X射線源PX 2974
Linatron-M7Linatron-M7模塊化高能X射線源PX 2974
Linatron-M4Linatron-M4模塊化高能X射線源PX 2974
Linatron-MiLinatron-Mi模塊化交錯高能X射線源PX 2974
Linatron-M9Linatron-M9模塊化高能X射線源PX 2974
Linatron-M6Linatron-M6模塊化高能X射線源PX 2974
Linatron-M3Linatron-M3模塊化高能X射線源PX 2974
Linatron-M1Linatron-M1模塊化高能X射線源PX 2974
ERESCOERESCO 便攜式工業(yè)X射線機(jī)PX 2974
RIX系列RIX系列 便攜X射線機(jī)PX 2974
射線機(jī)理學(xué)X射線機(jī)PX 2974
2520HE DR平板萬睿視VAREX平板探測器PX 2974
inspeXio SMX-225CT微焦點(diǎn)X射線CT裝置PX 3161
SMX-800微焦點(diǎn)X射線檢查裝置PX 3161
小型高功率X射線管PX 3303
USAXS 模塊SAXS/WAXBonse-Hart USAXS 相機(jī):PX 2204
SAXS/WAXS/BioSAXS 系統(tǒng): SAXSpacePX 2204
RheoSAXS Module流變測量和 SAXS 聯(lián)用裝置:PX 2204
色譜
光譜
質(zhì)譜
波譜
電化學(xué)分析儀
元素分析儀
水分測定儀
樣品處理設(shè)備
X射線儀器
數(shù)據(jù)處理設(shè)備
其它分析儀器
X-RAY無損檢測設(shè)備
Thermo賽默飛微聚焦80kV X射線源
Thermo 賽默飛微聚焦130kV X- 射線源
X射線檢測儀
X12 X射線檢測設(shè)備 System
toreck X射線出墨機(jī) X-BACK / AC-1000
萬睿視平板探測器 4343W 無線板
半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀
X射線成像檢測設(shè)備 CT代檢測服務(wù)
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學(xué)儀器有限公司
廣播電視節(jié)目經(jīng)營許可證
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