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            岱美儀器技術(shù)服務(wù)(上海)有限公司

            EVG光刻機(jī)
            EVG鍵合機(jī)
            晶圓關(guān)鍵尺寸測(cè)量
            EVG納米壓印機(jī)
            膜厚儀
            防震臺(tái)
            晶圓厚度測(cè)量
            應(yīng)力測(cè)量
            3D形貌儀/白光干涉輪廓儀
            光學(xué)鏡頭對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)(定心儀)
            片電阻測(cè)量?jī)x
            晶圓缺陷檢測(cè)
            等離子去膠
            橢偏儀
            臺(tái)階儀
            4D 動(dòng)態(tài)激光干涉儀
            光學(xué)粗糙度測(cè)試儀
            電容式位移傳感器
            磁性材料檢測(cè)設(shè)備
            全自動(dòng)測(cè)量機(jī)臺(tái)
            • UltraINSP 晶圓表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià): 面議

              參考價(jià): 面議 型號(hào):
              UltraINSP晶圓表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)是表面缺陷檢測(cè)的蕞完善的國(guó)產(chǎn)化替代產(chǎn)品,系統(tǒng)包括四個(gè)模塊可以檢測(cè)所有晶圓表面并同步采集數(shù)據(jù):晶圓正面、背面、邊緣缺陷檢測(cè)模...
              型號(hào): 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
              晶圓檢測(cè)表面缺陷檢測(cè)缺陷檢測(cè)
              2024/12/18 13:38:331687
            • UltraFilm薄膜測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià): 面議

              參考價(jià): 面議 型號(hào):
              系統(tǒng)可以為各種材質(zhì)薄膜提供高精度的厚度均勻性測(cè)量。使用創(chuàng)新的融合光譜反射技術(shù)、近紅外干涉技術(shù)以及高亮度光源驅(qū)動(dòng)的光譜橢偏儀技術(shù)的多傳感器融合測(cè)量技術(shù),是國(guó)內(nèi)可以...
              型號(hào): 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
              薄膜測(cè)量同質(zhì)膜厚全自動(dòng)檢測(cè)
              2024/11/26 17:16:591901
            • QuickOCT-4D--膜厚輪廓儀 參考價(jià): 面議

              參考價(jià): 面議 型號(hào):
              QuickOCT-4D™ 將單點(diǎn)可見光光譜域光學(xué)相干斷層掃描 (SD-OCT) 傳感器與高速納米編碼的 X/Y/Z 運(yùn)動(dòng)控制平臺(tái)相結(jié)合,可以在高達(dá) ...
              型號(hào): 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
              光學(xué)相干斷層掃描OATI
              2024/11/9 15:44:272276
            • QuickPRO-RPS--旋轉(zhuǎn)剖面儀 參考價(jià): 面議

              參考價(jià): 面議 型號(hào):
              專為測(cè)量旋轉(zhuǎn)對(duì)稱樣品的表面形貌和透明薄膜的厚度而設(shè)計(jì),如金剛石車削光學(xué)表面和模塑或拋光的非球面透鏡
              型號(hào): 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
              旋轉(zhuǎn)剖面儀OATI輪廓儀形貌儀
              2024/11/9 15:42:531235
            • QuickPRO-3D--表面輪廓儀 參考價(jià): 面議

              參考價(jià): 面議 型號(hào):
              適用于光學(xué)、工業(yè)和半導(dǎo)體市場(chǎng)的高速、中精度、經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的表面輪廓儀,納米分辨率彩色共聚焦傳感器(可配制點(diǎn)和線傳感器),為在線過程測(cè)量和控制而設(shè)計(jì),結(jié)構(gòu)緊湊,易于上...
              型號(hào): 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
              輪廓儀表面測(cè)量3D形貌儀白光干涉輪廓儀
              2024/11/9 15:41:001777
            • QuickOCT-4D —膜厚輪廓儀 參考價(jià): 面議

              參考價(jià): 面議 型號(hào):
              QuickOCT-4D™ 將單點(diǎn)可見光光譜域光學(xué)相干斷層掃描 (SD-OCT) 傳感器與高速納米編碼的 X/Y/Z 運(yùn)動(dòng)控制平臺(tái)相結(jié)合,可以在高達(dá) ...
              型號(hào): 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
              應(yīng)力測(cè)量光學(xué)相干斷層掃描OATI
              2024/11/9 15:36:491182
            • iFocus晶圓檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià): 面議

              參考價(jià): 面議 型號(hào):
              iFocus是一款用于晶圓外觀缺陷檢測(cè)設(shè)備,利用STI的2D/3D視覺檢測(cè)系統(tǒng),采用雙2D Camera同時(shí)采集亮區(qū)和暗區(qū)照片分析特征缺陷;True 3D技術(shù),...
              型號(hào): 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
              長(zhǎng)川晶圓檢測(cè)iFocus晶圓缺陷檢測(cè)STI
              2024/11/9 15:34:222033
            • 光學(xué)粗糙度測(cè)試儀 參考價(jià): 面議

              參考價(jià): 面議 型號(hào):WM 300
              光學(xué)粗糙度測(cè)試儀WaferMaster WM 300 不像傳統(tǒng)輪廓儀需要長(zhǎng)時(shí)間的垂直高度掃描加上水平拼接以得到3D的表面輪廓進(jìn)行耗時(shí)粗糙度計(jì)算。利用角分辨光散射...
              型號(hào): WM 300 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
              WM 300光學(xué)粗糙度測(cè)試儀Optosurf
              2024/11/9 14:35:192333
            • 晶圓幾何形貌測(cè)量及參數(shù)自動(dòng)檢測(cè)機(jī) 參考價(jià): 面議

              參考價(jià): 面議 型號(hào):PLS-F1000
              晶圓幾何形貌測(cè)量及參數(shù)自動(dòng)檢測(cè)機(jī)使用高精度高速光譜共焦雙探頭對(duì)射傳感器實(shí)現(xiàn)晶圓的非接觸式測(cè)量,結(jié)合高精度運(yùn)動(dòng)模組及晶圓機(jī)械手可實(shí)現(xiàn)晶圓形貌的亞微米級(jí)精度的測(cè)量,...
              型號(hào): PLS-F1000 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
              PLS-F1000形貌測(cè)量參數(shù)自動(dòng)檢測(cè)機(jī)
              2024/11/9 14:30:533935
            • 微波等離子清洗機(jī) 參考價(jià): 面議

              參考價(jià): 面議 型號(hào):P03Q-6LS Plasma
              微波等離子清洗機(jī)專為微電子表面清潔與改性設(shè)計(jì),用于改善引線鍵合和芯片鍵合結(jié)合力,倒裝芯片填充不足等封裝制程,可用于處理各種電子材料,包括塑料、金屬或者玻璃等。
              型號(hào): P03Q-6LS ... 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
              微波等離子清洗微波等離子清洗機(jī)
              2024/11/26 17:10:303403
            • 微流控缺陷檢測(cè) 參考價(jià): 面議

              參考價(jià): 面議 型號(hào):Nanotronics nSpec Macro
              微流控缺陷檢測(cè) Nanotronics nSpec Macro可以照亮樣品的整個(gè)面,或設(shè)置照明角度和/或離散照明矢量。 明場(chǎng),暗場(chǎng),正交和可配置的傾斜照明角度與...
              型號(hào): Nanotroni... 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
              微流控缺陷檢測(cè)
              2024/11/9 14:22:118439
            • 晶圓缺陷檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng) 參考價(jià): 面議

              參考價(jià): 面議 型號(hào):Nanotronics nSpec LS
              Nanotronics nSpec LS晶圓缺陷檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)是研發(fā)和過程開發(fā)的理想系統(tǒng)。它按順序運(yùn)行多個(gè)掃描。友好的用戶界面軟件使配置配方變得毫不費(fèi)力。而且,隨...
              型號(hào): Nanotroni... 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
              晶圓缺陷檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)晶圓缺陷檢測(cè)
              2024/11/9 14:14:144079
            • 硅片厚度測(cè)量 參考價(jià): 面議

              參考價(jià): 面議 型號(hào):Filmetrics F3-sX
              硅片厚度測(cè)量?jī)x采用的是近紅外光(NIR)來測(cè)量膜層厚度,因此可以測(cè)試一些肉眼看是不透明的膜層( 比如半導(dǎo)體膜層) 。
              型號(hào): Filmetric... 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
              硅片厚度測(cè)量Filmetrics F3-sX薄膜厚度測(cè)量?jī)x薄膜厚度測(cè)量?jī)x膜厚儀
              2025/1/16 10:05:373452
            • StrainScope Flex可調(diào)式實(shí)時(shí)應(yīng)力儀 參考價(jià): 面議

              參考價(jià): 面議 型號(hào):
              StrainScope Flex可調(diào)式實(shí)時(shí)應(yīng)力儀 產(chǎn)品具有測(cè)量速度快、精度高、重復(fù)性好等特點(diǎn),對(duì)大尺寸樣品可拼接測(cè)量。其應(yīng)力測(cè)量設(shè)備用戶包括肖特、卡爾-蔡司、J...
              型號(hào): 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
              薄膜應(yīng)力儀薄膜應(yīng)力測(cè)試儀薄膜應(yīng)力測(cè)試儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
              2024/11/9 13:59:552932
            • 實(shí)時(shí)型StrainScope S3/S4 應(yīng)力儀 參考價(jià): 面議

              參考價(jià): 面議 型號(hào):
              實(shí)時(shí)型StrainScope S3/S4 應(yīng)力儀 產(chǎn)品具有測(cè)量速度快、精度高、重復(fù)性好等特點(diǎn),對(duì)大尺寸樣品可拼接測(cè)量。其應(yīng)力測(cè)量設(shè)備用戶包括肖特、卡爾-蔡司、J...
              型號(hào): 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
              薄膜應(yīng)力儀薄膜應(yīng)力測(cè)試儀薄膜應(yīng)力測(cè)試儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
              2024/11/9 13:57:422922
            • 拼接型StrainMatic stepper應(yīng)力儀 參考價(jià): 面議

              參考價(jià): 面議 型號(hào):
              拼接型StrainMatic stepper應(yīng)力儀 產(chǎn)品具有測(cè)量速度快、精度高、重復(fù)性好等特點(diǎn),對(duì)大尺寸樣品可拼接測(cè)量。其應(yīng)力測(cè)量設(shè)備用戶廣,用戶包括肖特、卡爾...
              型號(hào): 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
              薄膜應(yīng)力儀薄膜應(yīng)力測(cè)試儀薄膜應(yīng)力測(cè)試儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
              2024/11/9 13:56:052480
            • Filmetrics F3-sX半導(dǎo)體薄膜測(cè)量?jī)x 參考價(jià): 面議

              參考價(jià): 面議 型號(hào):
              Filmetrics F3-sX半導(dǎo)體薄膜測(cè)量?jī)x可以測(cè)試眾多半導(dǎo)體及電解層的厚度,可測(cè)大厚度達(dá)3毫米。此類厚膜,相較于較薄膜層表面較粗糙且不均
              型號(hào): 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
              膜厚儀膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)膜儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
              2024/11/26 17:22:524193
            • Filmetrics F32薄膜厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià): 面議

              參考價(jià): 面議 型號(hào):
              Filmetrics F32薄膜厚度測(cè)量?jī)x 使用F32可以簡(jiǎn)單快速地在線測(cè)量膜厚。從對(duì)膜的頂部和底部反射光譜進(jìn)行分析可得到實(shí)時(shí)厚度信息。
              型號(hào): 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
              膜厚儀膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)膜儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
              2024/11/9 13:50:163391
            • Filmetrics F60高級(jí)光譜反射系統(tǒng) 參考價(jià): 面議

              參考價(jià): 面議 型號(hào):
              Filmetrics F60薄膜厚度測(cè)量?jī)x 電動(dòng)R-Theta平臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn),并在幾秒鐘內(nèi)提供厚度測(cè)量。 選擇數(shù)十種預(yù)定義的極坐標(biāo),矩形或線性地圖...
              型號(hào): 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
              膜厚儀膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)膜儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
              2024/11/9 13:48:262385
            • Filmetrics F40薄膜厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià): 面議

              參考價(jià): 面議 型號(hào):
              Filmetrics F40薄膜厚度測(cè)量?jī)x 產(chǎn)品能以一個(gè)電動(dòng)R-Theta 平臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)以每秒測(cè)繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測(cè)繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)45...
              型號(hào): 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
              膜厚儀膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)膜儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
              2024/11/9 13:46:332743
            • Filmetrics F54薄膜厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià): 面議

              參考價(jià): 面議 型號(hào):
              Filmetrics F54薄膜厚度測(cè)量?jī)x能以一個(gè)電動(dòng)R-Theta 平臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)以每秒測(cè)繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測(cè)繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)450毫米
              型號(hào): 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
              膜厚儀膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)膜儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
              2024/11/26 17:19:074191
            • Filmetrics F10-RT薄膜厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià): 面議

              參考價(jià): 面議 型號(hào):
              Filmetrics F10-RT薄膜厚度測(cè)量?jī)x 僅需要透過單擊滑鼠就能夠同時(shí)收集反射與透射光譜,不到一秒鐘的時(shí)間,陣列的光譜儀就可以快速的收集到資料。
              型號(hào): 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
              膜厚儀膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)膜儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
              2024/11/9 13:43:012746
            • F2-RT 光譜反射和透射測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià): 面議

              參考價(jià): 面議 型號(hào):
              F2-RT 光譜反射和透射測(cè)量系統(tǒng)是美國(guó)Filmetrics新推出的物超所值同時(shí)測(cè)量反射率和透射率的儀器。
              型號(hào): 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
              膜厚儀膜厚測(cè)量?jī)x折射率測(cè)量?jī)x薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
              2024/11/9 13:41:002682
            • Filmetrics F10-ARc薄膜分析儀 參考價(jià): 面議

              參考價(jià): 面議 型號(hào):
              Filmetrics F10-ARc薄膜分析儀 目標(biāo)光譜與多條反射光譜比較 – 自動(dòng)評(píng)估反射率,*小/*大位置,并得出明確的讀數(shù)結(jié)論。大 大的減少了人為造成的讀...
              型號(hào): 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
              膜厚儀膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)膜儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
              2024/11/9 13:39:162824

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