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            邁可諾技術(shù)有限公司

            主營(yíng)產(chǎn)品: 美國(guó)Laurell勻膠機(jī),WS1000濕法刻蝕機(jī),Cargille光學(xué)凝膠,EDC-650顯影機(jī),NOVASCAN紫外臭氧清洗機(jī)

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            公司信息

            聯(lián)人:
            鄧經(jīng)理
            話:
            4008800298
            機(jī):
            13681069478
            真:
            址:
            洪山區(qū)珞獅南路147號(hào)未來(lái)城A棟
            編:
            個(gè)化:
            www.mycro.net.cn
            網(wǎng)址:
            www.mycro.cn
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            http://apwanrong.com/st119375/
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            SE-MSP光譜橢偏儀顯微分光光度計(jì)
            光譜橢偏儀顯微分光光度計(jì)
            參考價(jià) 面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 型號(hào) SE-MSP
            • 品牌 其他品牌
            • 廠商性質(zhì) 代理商
            • 所在地 北京市

            更新時(shí)間:2024-05-17 09:09:26瀏覽次數(shù):1505

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            【簡(jiǎn)單介紹】
            產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 電子
            對(duì)于某些應(yīng)用(例如MEMS或半導(dǎo)體產(chǎn)品晶圓上的功能),希望有一個(gè)小的探測(cè)點(diǎn)。將顯微分光光度計(jì)與橢圓偏振光度計(jì)集成在一起后,工具的功能將大大擴(kuò)展??赏ㄟ^(guò)橢圓偏振光度法在超薄膜上工作,并且還具有通過(guò)微反射法與橢圓度計(jì)和微分光光度計(jì)相結(jié)合的*配置的小面積微反射法。
            【詳細(xì)說(shuō)明】

            光譜橢偏儀顯微分光光度計(jì)

            型號(hào):SE-MSP

            可通過(guò)橢圓偏振光度法在超薄膜上工作,并且還具有通過(guò)微反射法與橢圓度計(jì)和微分光光度計(jì)相結(jié)合的*配置的小面積微反射法。TFProbe 3.3版本軟件將處理測(cè)量和分析。

             

            對(duì)于某些應(yīng)用(例如MEMS或半導(dǎo)體產(chǎn)品晶圓上的功能),希望有一個(gè)小的探測(cè)點(diǎn)。將顯微分光光度計(jì)與橢圓偏振光度計(jì)集成在一起后,工具的功能將大大擴(kuò)展。SE-MSP型是為此目的而設(shè)計(jì)的。MSP在反射法模式下工作,并以法向入射角進(jìn)行測(cè)量,這是對(duì)非法向入射角SE設(shè)置的補(bǔ)充。SEMSP的波長(zhǎng)范圍可以根據(jù)應(yīng)用需求進(jìn)行不同配置。所有選項(xiàng)都是可選的。

             

            應(yīng)用范圍:

            •半導(dǎo)體制造(PR,氧化物,氮化物..

            •液晶顯示器(ITOPR,液晶盒間隙…..

            •法醫(yī),生物膜和材料

            •油墨,礦物學(xué),顏料,碳粉

            •藥品,醫(yī)療器械

            •光學(xué)涂料,TiO2SiO2,Ta2O5..

            •半導(dǎo)體化合物

            MEMS / MOEMS中的功能膜

            •非晶,納米和晶體硅

             

            特征:

            •易于使用,基于Window的軟件進(jìn)行操作

            •*光學(xué)設(shè)計(jì)可實(shí)現(xiàn)*系統(tǒng)性能

            •使用SExxxBA選項(xiàng)以0.001度的分辨率自動(dòng)更改入射角

            •高功率光源,適用于寬帶應(yīng)用

            •基于陣列的探測(cè)器系統(tǒng)可確??焖贉y(cè)量

            •測(cè)量多層膜的厚度和折射率,允許用戶設(shè)計(jì)無(wú)限層的模型

            •系統(tǒng)附帶全面的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)

            ••TFProbe 3.3軟件允許用戶為每膜使用NK表,色散或有效介質(zhì)近似值(EMA

            •三種不同的用戶級(jí)別控制:工程師模式,系統(tǒng)服務(wù)模式和簡(jiǎn)易用戶模式

            •靈活的工程師模式,適用于各種配方設(shè)置和光學(xué)模型測(cè)試

            •強(qiáng)大的一鍵式按鈕解決方案,可進(jìn)行快速和常規(guī)的測(cè)量

            •可配置的測(cè)量參數(shù),操作簡(jiǎn)便

            •全自動(dòng)系統(tǒng)校準(zhǔn)和初始化

            •直接從樣品信號(hào)獲得精確的樣品比對(duì)接口,無(wú)需外部光學(xué)器件

            •精確的高度和傾斜度調(diào)整

            •適用于許多不同類型,厚度不同的基材

            •各種選件,附件可用于特殊配置,例如測(cè)繪臺(tái),波長(zhǎng)擴(kuò)展,焦點(diǎn)等

            2D3D輸出圖形和用戶友好的數(shù)據(jù)管理界面

            ••用于微米區(qū)域選擇的數(shù)字成像工具

            •集成反射計(jì),用于小范圍內(nèi)的反射測(cè)量

             

            系統(tǒng)配置:

            探測(cè)器:探測(cè)器陣列

            波長(zhǎng)范圍可配置為1901700nm

            光源:基于SEMSP的波長(zhǎng)范圍

            入射角更改:自動(dòng),帶有程序設(shè)置

            階段:手動(dòng)或自動(dòng)映射階段

            軟件:TFProbe 3.3

            SEMSP結(jié)合

            電腦:Intel i3處理器

            顯示器:22英寸寬屏液晶

            電源:通用110 240 VAC / 50-60Hz,6 A



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