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            目錄:深圳市新瑪科技有限公司>>半導(dǎo)體C-V特性分析儀>>半導(dǎo)體靜動(dòng)態(tài)測(cè)試系統(tǒng)>> LET-2000D力鈦科(Letak)半導(dǎo)體靜動(dòng)態(tài)測(cè)試系統(tǒng)

            力鈦科(Letak)半導(dǎo)體靜動(dòng)態(tài)測(cè)試系統(tǒng)
            • 力鈦科(Letak)半導(dǎo)體靜動(dòng)態(tài)測(cè)試系統(tǒng)
            參考價(jià) 面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            參考價(jià) 面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 品牌 其他品牌
            • 型號(hào) LET-2000D
            • 廠商性質(zhì) 代理商
            • 所在地 深圳市
            屬性

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            更新時(shí)間:2024-01-28 17:25:50瀏覽次數(shù):1878評(píng)價(jià)

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            LET-2000D力鈦科(Letak)半導(dǎo)體靜動(dòng)態(tài)測(cè)試系統(tǒng)

            LET-2000D力鈦科(Letak)半導(dǎo)體靜動(dòng)態(tài)測(cè)試系統(tǒng)

            是滿足IEC60747-8/9、JESD24標(biāo)準(zhǔn),旨在幫助工程師解決器件驗(yàn)證、器件參數(shù)評(píng)估、驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)、PCB設(shè)計(jì)等需要半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)參數(shù)的場(chǎng)合。特別對(duì)于應(yīng)用第三代半導(dǎo)體的需要,有著較高的系統(tǒng)帶寬,可以有效的測(cè)量出實(shí)際的器件參數(shù)。

            圖片2.png


              雙脈沖測(cè)試法可以測(cè)試IGBT模塊和驅(qū)動(dòng)的性能,獲取IGBT穩(wěn)態(tài)和暫態(tài)過程中的主要參數(shù),用以評(píng)估IGBT模塊和驅(qū)動(dòng)的性能,并進(jìn)行電路參數(shù)的優(yōu)化。

            具體包括測(cè)試IGBT的實(shí)際工況、開關(guān)損耗、關(guān)斷電壓尖峰、開關(guān)暫態(tài)震蕩情況、二極管反向恢復(fù)電流、雜散電感影響、吸收電路影響、短路保護(hù)功能等,可以通過測(cè)試進(jìn)行優(yōu)化柵極電阻RGON和RGOFF參數(shù)、吸收電路參數(shù)、開關(guān)頻率設(shè)置等,并可以進(jìn)行IGBT模塊的并聯(lián)和串聯(lián)實(shí)驗(yàn)。


            圖片3.png


              硬件優(yōu)勢(shì):


              -采用12 bit示波器:正確反映波形的細(xì)節(jié),并準(zhǔn)確計(jì)算出參數(shù)


              -采用光隔離、高CMRR探頭系統(tǒng),解決SIC\GAN的測(cè)試難點(diǎn)


              -高帶寬的電壓和電流探測(cè),彌補(bǔ)一般系統(tǒng)對(duì)SIC/GAN的測(cè)量要求


              -可以滿足上/下管測(cè)試,避免頻繁連接探頭


              -電壓覆蓋范圍寬、并可以再次擴(kuò)展


              -器件驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)支持SIC/GAN器件


              -系統(tǒng)帶寬:>400MHz


              -系統(tǒng)可以定制


              半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)


            軟件特點(diǎn):


            測(cè)量參數(shù)齊全:開關(guān)參數(shù)、短路參數(shù)、反向恢復(fù)參數(shù)

            支持器件類型多:單管/模塊,MOSFET、IGBT、FWD、GTR…

            測(cè)試方式:單脈沖、多脈沖

            離線數(shù)據(jù)分析:既可以在線測(cè)量,也可以記錄數(shù)據(jù)離線分析

            測(cè)試UI符合工程師的使用習(xí)慣

            測(cè)量項(xiàng)目及器件支持?jǐn)U展


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