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Bruker VERTEX 70v 傅立葉變換紅外光譜儀 參考價：面議
Bruker VERTEX 70v 傅立葉變換紅外光譜儀VERTEX70v為要求嚴格的分析和研究應用提供了超高性能。具創(chuàng)新意義的設計成就了該系列譜儀佳的靈活性和...
Bruker VERTEX 80/80v 傅立葉紅外光譜儀 參考價：面議
bruker VERTEX 80/80v 傅立葉變換紅外光譜儀VERTEX 80和VERTEX 80v真空FTIR光譜儀采用主動準直的 UltraScan&tr...
bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-100 參考價：面議
bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-100具備高性價比的 ContourX-100 光學輪廓儀為可重復的、非接觸式表面測量樹立了新基準。該系統占地...
SNL-10探針 bruker 原子力顯微鏡探針 參考價：面議
SNL-10探針 bruker 原子力顯微鏡探針懸臂規(guī)范材料:氮化硅幾何:三角懸臂梁數量4懸臂厚度(Nom): 0.6pm懸臂厚度(RNG): 0.55 ~ 0...
SCANASYST-AIR bruker afm探針 氮化硅針尖 參考價：面議
SCANASYST-AIR bruker afm探針 氮化硅針尖ScanAsyst®利用一種的曲線采集方法和復雜的算法，對圖像質量進行持續(xù)的監(jiān)測，并能...
NCHV-A探針 bruker 原子力顯微鏡探針 參考價：面議
NCHV-A探針 bruker 原子力顯微鏡探針一組硅探針。數量為10用于TappingMode成像的Bruker's Value Li ne蝕刻硅探針TM在空...
bruker布魯克納米紅外光譜nanoIR3 參考價：面議
bruker布魯克納米紅外光譜nanoIR3，是一款基于原子力顯微鏡（AFM）的納米表征工具。其采用光熱誘導共振技術（PTIR，也稱AFM-IR），使紅外光譜的...
bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-200 參考價：面議
bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-200融合了高級表征、可定制選項和易用性，可提供快速、準確和可重復的非接觸式三維表面計量方法。該設備作為可用于...
布魯克納米壓痕Hysitron TI 980 參考價：面議
布魯克納米壓痕Hysitron TI 980同時具有靈活性、可靠性、可用性和速度。這臺行業(yè)系統以數十年的 Hysitron 技術創(chuàng)新為基礎，在納米力學特性測試方...
Bruker布魯克納米壓痕儀劃痕儀PI 89 參考價：面議
Bruker布魯克納米壓痕儀劃痕儀PI 89利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的成像能力，可以在成像的同時進行定量納米力學測試。這套全新系統搭載 Br...
布魯克BRUKER納米壓痕儀 參考價：面議
布魯克BRUKER納米壓痕儀TS 77 Select精選是自動化臺式納米力學和納米摩擦測試系統，可提供同類儀器的性能、多功能和易用性。這種新型測試系統以布魯克的...
BRUKER原子力顯微鏡 參考價：面議
為滿足AFM使用者對提高AFM使用效率的需求，Bruker開發(fā)了BRUKER原子力顯微鏡Dimension FastScan，不降低分辨力，不增加設備復雜性，不...
布魯克掃描探針顯微鏡Dimension XR 參考價：面議
布魯克掃描探針顯微鏡Dimension XR（SPM）系統攘括了原子力顯微鏡數十年來的研究和技術創(chuàng)新。通過常規(guī)的真原子相分辨率，以及一系列*的技術，包括峰值力輕...
bruker生物型原子力顯微鏡 參考價：面議
bruker生物型原子力顯微鏡NanoWizard 4 XP特點：·高分辨定量成像·150Hz快速掃描助力動態(tài)變化過程研究·與精密...
布魯克bruker掃描探針顯微鏡 參考價：面議
布魯克bruker掃描探針顯微鏡Innova SPM體積較小，成本適中，為科學研究提供了嚴謹而靈活的解決方案。其*的閉環(huán)掃描系統既確保了高的測試精度，又可以實現...
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