膜厚測試儀測量精度高、穩(wěn)定性好，測量結果至μin。具有高性價價比，有著非破壞、非接觸、多合金測量、測量元素范圍廣、測量、測量時間短等特點；具有高生產力、高再現性，能有效控制產品質量，節(jié)約電鍍成本。 采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。
膜厚測試儀電路設計引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補償等地新技術，利用磁阻來調制測量信號。還采用設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現性有了大幅度的提高（幾乎達一個數量級）?，F代的磁感應測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1%，量程達10mm。
膜厚測試儀自定義報告模板，報告包可含數據、圖像、統計圖表、客戶信息等；統計數據、圖、表含有平均值、標準偏差、相對標準偏差、zui大值、zui小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數據分組、X-bar/R圖表、直方圖等。
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