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            廣州領(lǐng)拓儀器科技有限公司
            初級(jí)會(huì)員 | 第3年

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            手動(dòng)臺(tái)階儀 JS10B

            參  考  價(jià)面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

            產(chǎn)品型號(hào)

            品       牌ZEPTOOLS/澤攸科技

            廠(chǎng)商性質(zhì)代理商

            所  在  地廣州市

            更新時(shí)間:2025-04-24 15:37:23瀏覽次數(shù):18次

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            產(chǎn)地類(lèi)別 國(guó)產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 面議
            應(yīng)用領(lǐng)域 建材/家具,電子/電池,汽車(chē)及零部件,電氣,綜合
            國(guó)產(chǎn)手動(dòng)臺(tái)階儀 JS10B,穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測(cè)量,采用金剛石探針,無(wú)畸變的觀察樣品區(qū),實(shí)時(shí)觀察掃描區(qū)域,突破三個(gè)核心技術(shù),國(guó)內(nèi)研發(fā)生產(chǎn),便于售后服務(wù)?!局С侄ㄖ婆_(tái)階儀】

            手動(dòng)臺(tái)階儀 JS10B

            • 產(chǎn)品介紹:

            澤攸科技JS系列臺(tái)階儀作為國(guó)產(chǎn)高精度表面測(cè)量設(shè)備的代表,憑借其創(chuàng)新的技術(shù)架構(gòu)、靈活的應(yīng)用場(chǎng)景及可靠的測(cè)量性能,可以對(duì)微納結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和臺(tái)階高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測(cè)量,在高校、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所、半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體、高亮度LED、太陽(yáng)能、MEMS微機(jī)電、觸摸屏、汽車(chē)、醫(yī)療設(shè)備等行業(yè)領(lǐng)域有著廣泛應(yīng)用。

            JS系列臺(tái)階儀通過(guò)金剛石探針與樣品表面的接觸掃描,將微觀輪廓的垂直位移轉(zhuǎn)化為電信號(hào),結(jié)合高靈敏度傳感器與信號(hào)處理算法,實(shí)現(xiàn)納米級(jí)精度的表面特征捕捉。其核心技術(shù)亮點(diǎn)在于超微壓力恒定控制系統(tǒng),通過(guò)精密調(diào)節(jié)探針與樣品間的接觸壓力,既避免了對(duì)軟質(zhì)材料的損傷,又確保了測(cè)量過(guò)程的穩(wěn)定性。此外,設(shè)備搭載的攝像頭實(shí)時(shí)成像系統(tǒng),可同步觀察樣品區(qū)域與探針的位置關(guān)系,輔助用戶(hù)精確定位特征結(jié)構(gòu),顯著提升測(cè)量效率。

            作為國(guó)產(chǎn)科學(xué)儀器的突破性成果,JS系列臺(tái)階儀打破了國(guó)外品牌在表面測(cè)量設(shè)備領(lǐng)域的長(zhǎng)期壟斷,憑借高性?xún)r(jià)比與本地化服務(wù)優(yōu)勢(shì),成為國(guó)內(nèi)高校、科研機(jī)構(gòu)及制造企業(yè)的優(yōu)選設(shè)備。


            • 特點(diǎn):

            量測(cè)精確、操作便捷、體積小巧、高性?xún)r(jià)比


            • 應(yīng)用范圍:

            刻蝕、沉積和薄膜等厚度測(cè)量

            薄膜多晶硅等粗糙度、翹曲度等材料表面參數(shù)測(cè)量

            各式薄膜等應(yīng)力測(cè)量


            • 系統(tǒng)組成

            臺(tái)階儀主機(jī)

            電腦及顯示器


            • 選配品

            隔振臺(tái)

            高度校準(zhǔn)標(biāo)樣


            • 技術(shù)參數(shù)

            JS10B

            樣品

            單片(厚度≤10mm)

            樣品尺寸

            ≤150mm

            樣品材質(zhì)

            硅、鉭酸鋰、玻璃等(不透明,半透明)

            重復(fù)性測(cè)量偏差

            ≤0.5nm(1σ 1um標(biāo)準(zhǔn)塊重復(fù)掃描30次)

            最大測(cè)量范圍

            80um

            垂直分辨率

            0.05nm 滿(mǎn)量程

            探針加力范圍

            0.5~50mg

            力控制

            恒定

            采樣速度

            200Hz

            掃描方向

            左右雙向

            掃描最大采集點(diǎn)數(shù)

            200萬(wàn)點(diǎn)

            掃描速度

            5um/s - 100um/s

            樣品臺(tái)運(yùn)動(dòng)方式

            可實(shí)現(xiàn)水平(X/Y),旋轉(zhuǎn)(RZ),手動(dòng)控制

            XY樣品臺(tái)行程

            150mm(快慢速調(diào)節(jié))

            Z樣品臺(tái)行程

            10mm

            樣品旋轉(zhuǎn)臺(tái)

            ±360°

            標(biāo)準(zhǔn)探針

            曲率半徑≥2um 角度60°(標(biāo)配)

            亞微米探

            曲率半徑≤1um 角度60°(選配)

            軟件功能

            臺(tái)階、粗糙度等表面形貌測(cè)量,應(yīng)力測(cè)量


            • 軟件界面

            手動(dòng)臺(tái)階儀 JS10B


            • 掃描圖

            手動(dòng)臺(tái)階儀 JS10B

            18nm樣品

            手動(dòng)臺(tái)階儀 JS10B

            68um樣品


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