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當(dāng)前位置:廣州領(lǐng)拓儀器科技有限公司>>澤攸科技掃描電鏡&臺階儀>>臺階儀>> 全自動臺階儀 JS3000B
參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌ZEPTOOLS/澤攸科技
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地廣州市
更新時間:2025-04-24 15:42:19瀏覽次數(shù):20次
聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 建材/家具,電子/電池,汽車及零部件,電氣,綜合 |
• 產(chǎn)品介紹
澤攸科技JS系列臺階儀作為國產(chǎn)高精度表面測量設(shè)備的代表,憑借其創(chuàng)新的技術(shù)架構(gòu)、靈活的應(yīng)用場景及可靠的測量性能,可以對微納結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和臺階高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量,在高校、研究實驗室和研究所、半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體、高亮度LED、太陽能、MEMS微機(jī)電、觸摸屏、汽車、醫(yī)療設(shè)備等行業(yè)領(lǐng)域有著廣泛應(yīng)用。
JS系列臺階儀通過金剛石探針與樣品表面的接觸掃描,將微觀輪廓的垂直位移轉(zhuǎn)化為電信號,結(jié)合高靈敏度傳感器與信號處理算法,實現(xiàn)納米級精度的表面特征捕捉。其核心技術(shù)亮點在于超微壓力恒定控制系統(tǒng),通過精密調(diào)節(jié)探針與樣品間的接觸壓力,既避免了對軟質(zhì)材料的損傷,又確保了測量過程的穩(wěn)定性。此外,設(shè)備搭載的攝像頭實時成像系統(tǒng),可同步觀察樣品區(qū)域與探針尖的位置關(guān)系,輔助用戶精確定位特征結(jié)構(gòu),顯著提升測量效率。
作為國產(chǎn)科學(xué)儀器的突破性成果,JS系列臺階儀打破了國外品牌在表面測量設(shè)備領(lǐng)域的長期壟斷,憑借高性價比與本地化服務(wù)優(yōu)勢,成為國內(nèi)高校、科研機(jī)構(gòu)及制造企業(yè)的優(yōu)選設(shè)備。
• 特點
量測精確、功能豐富、一體式集成、模塊化設(shè)計、售后便捷、高性價比
• 應(yīng)用范圍
▲ 刻蝕、沉積和薄膜等厚度測量
▲ 薄膜多晶硅等粗糙度、翹曲度等材料表面參數(shù)測量
▲ 各式薄膜等應(yīng)力測量
▲ 3D掃描成像
▲ 計劃任務(wù)和多點掃描
▲ 批量測試晶圓,批量處理數(shù)據(jù)等
▲ EFEM(LP+ROBOT+ALINGER)
▲ JS300B
▲ 高度校準(zhǔn)標(biāo)樣
▲ FFU模塊
▲ 靜電消除模塊
▲ E84接口
• 技術(shù)參數(shù)
JS3000B | |
臺階高度最大范圍 | ≤80um |
臺階高度重復(fù)性 | ≤0.5nm |
垂直分辨率 | 0.05nm |
探針加力范圍 | 0.5mg~50mg |
單次掃描長度 | ≤55mm |
晶圓尺寸 | 可兼容8寸、12寸Wafer |
晶圓厚度 | ≤10mm |
晶圓材質(zhì) | 硅、鉭酸鋰、玻璃等(不透明,半透明,透明) |
圖像識別系統(tǒng)精度 | 定位精度優(yōu)于±10um |
機(jī)械動作穩(wěn)定性 | 馬拉松傳送測試>500片 |
生產(chǎn)效率 | WPH≥10片(單面量測≥5個位置) |
臺階高度最大范圍 | ≤80um |
標(biāo)準(zhǔn)探針 | 曲率半徑≥2um角度60°(標(biāo)配) |
亞微米探針 | 曲率半徑≤1um角度60°(選配) |
軟件功能 | 數(shù)據(jù)處理:臺階、粗糙度、平整度和翹曲度測量; |
應(yīng)力測試和3D掃描成像 | |
數(shù)據(jù)通訊:SECS通訊接口 |
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