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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子/電池 |
我公司推出OLED器件和鈣鈦礦LED發(fā)射角度光譜分析系統(tǒng)（OLED光譜分析儀）、載流子遷移率測量系統(tǒng)、電學(xué)性能評估系統(tǒng)以及軟件模擬研發(fā)系統(tǒng)，為廣大科研工作者和研發(fā)機(jī)構(gòu)提供了有力的測試工具。
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
OLED光譜分析系統(tǒng)
我公司推出OLED器件和鈣鈦礦LED發(fā)射角度光譜分析系統(tǒng)（OLED光譜分析儀）、載流子遷移率測量系統(tǒng)、電學(xué)性能評估系統(tǒng)以及軟件模擬研發(fā)系統(tǒng)，為廣大科研工作者和研發(fā)機(jī)構(gòu)提供了有力的測試工具。
OLED光譜分析系統(tǒng)用于測量OLED、鈣鈦礦LED及其其他發(fā)光器件的發(fā)射光譜特性和極化角，同事也可測量器件的s和p偏振光譜、發(fā)射光譜與角度的關(guān)系，計算出發(fā)射層中激子的發(fā)光角度及位置分布。
產(chǎn)品名稱：OLED/LED電致發(fā)光/光致發(fā)光測量系統(tǒng)，EL/PL測量系統(tǒng)，多角度光譜測量系統(tǒng)，發(fā)光效率測量系統(tǒng)，發(fā)光光譜測量系統(tǒng)，外量子效率測量系統(tǒng)。
技術(shù)優(yōu)勢：
• 角度依賴的PL光致發(fā)光譜分析
• 角度依賴的EL電致發(fā)光譜分析
• 角度依賴的發(fā)光分析
• 兼容頂發(fā)光和底發(fā)光結(jié)構(gòu)的OLED的及其他發(fā)光器件
• p- and s-偏振態(tài)檢測
• 偏振角度連續(xù)掃描
• 發(fā)光層中發(fā)光偶極子檢測及偶極子趨向分析
• 兼容各種幾何尺寸樣品
• 樣品便捷對準(zhǔn)
• 可與Setfos結(jié)合，對發(fā)光層進(jìn)行分析
測量功能：
• 顏色效率分析
• 可視角分析
• 量子效率EQE
• 流明效率lm/W
• 發(fā)光效率Cd/A
• 發(fā)光區(qū)域擬合
• 發(fā)光趨向分析
• 發(fā)光特性角度依賴分析
• 光譜和顏色VS.發(fā)射角
• 發(fā)光層中偏振態(tài)分析
• 散射特性分析
• 工作點(diǎn)
• 效能 (cd/A)
• CIE坐標(biāo)
• 色溫和顯色指數(shù)等分析
• 電流-電壓-亮度(J-V-L)曲線測量
• 光譜輻照度/強(qiáng)度
技術(shù)規(guī)格：
測試模式：
測量實(shí)例：
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