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            首頁>>上海波銘科學(xué)儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>光譜系統(tǒng)>>高光譜測(cè)試系統(tǒng)

            • 高光譜測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià):面議

              高光譜測(cè)試系統(tǒng)基于offner型的凸面光柵分光系統(tǒng),其原理新穎,相比較其他分光系統(tǒng)具有光學(xué)相對(duì)孔徑大、色散線性度好、結(jié)構(gòu) 緊湊和圖像成像質(zhì)量佳等優(yōu)點(diǎn)。
              型號(hào): 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對(duì)比
              高光譜測(cè)試系統(tǒng)高光譜測(cè)試系統(tǒng)高光譜測(cè)試
              2025/1/22 19:33:151828

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