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光電流測(cè)試 參考價(jià)：面議
光電流測(cè)試是一種用于測(cè)量器件或材料的光電性能的測(cè)試方法，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件、光電器件、太陽(yáng)能電池等領(lǐng)域。
光電流成像 參考價(jià)：面議
光電流成像是一種用于表征材料或器件的光電特性的成像技術(shù)。該技術(shù)通過(guò)在器件或材料表面照射光源，并測(cè)量其產(chǎn)生的電流信號(hào)，來(lái)獲得材料或器件的空間分布信息。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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