汞探針測試 參考價(jià):面議
LEI Model2017B,通過汞探針接觸方法,對(duì)各類半導(dǎo)體材料的載流子濃度分布進(jìn)行測試,特別適合GaN.SiC等化合物材料。汞CV測試系統(tǒng) 參考價(jià):面議
汞CV測試系統(tǒng),用于對(duì)外延或前道工藝中的non-pattemed晶片做汞C-V測試;MCV-530L可測最大200mm的樣品。CV-1500非接觸CV測試系統(tǒng) 參考價(jià):面議
CV-1500,用于測試界面和介電層的科研平臺(tái),基于SDI Corona-Kelvin技術(shù),可以進(jìn)行非接觸C-V/I-V測試。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)