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            首頁>>上海波銘科學(xué)儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>半導(dǎo)體材料測試>>CV測試

            • 汞探針測試 參考價(jià):面議

              LEI Model2017B,通過汞探針接觸方法,對(duì)各類半導(dǎo)體材料的載流子濃度分布進(jìn)行測試,特別適合GaN.SiC等化合物材料。
              型號(hào): LEI Model... 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對(duì)比
              汞探針測試
              2025/1/23 12:49:09310
            • 汞CV測試系統(tǒng) 參考價(jià):面議

              汞CV測試系統(tǒng),用于對(duì)外延或前道工藝中的non-pattemed晶片做汞C-V測試;MCV-530L可測最大200mm的樣品。
              型號(hào): 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對(duì)比
              CV測試
              2025/1/23 12:47:03424
            • CV-1500非接觸CV測試系統(tǒng) 參考價(jià):面議

              CV-1500,用于測試界面和介電層的科研平臺(tái),基于SDI Corona-Kelvin技術(shù),可以進(jìn)行非接觸C-V/I-V測試。
              型號(hào): 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對(duì)比
              CV測試
              2025/1/23 12:44:49373

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