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            首頁>>上海波銘科學儀器有限公司>>產品展示>>半導體材料測試>>橢偏拉曼AFM

            • 納米壓痕測試設備 參考價:面議

              對小體積樣品材料力學性質進行定量化測試的關鍵技術。
              型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
              納米壓痕測試
              2025/5/7 12:36:34514
            • 拉曼光譜分析 參考價:面議

              拉曼光譜用來測試材料應力,摻雜濃度和sheet& pattem等。從散射光的能量轉移,強度和偏振等方面可以獲取樣品豐富信息,如:結晶取向,組分,機械應力,摻雜和...
              型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
              拉曼光譜
              2025/5/7 12:35:01486
            • 原子力顯微鏡 參考價:面議

              原子力顯微鏡使用非常小的探針,掃描樣品表面,在原子尺度探測樣品形貌。Semilab的AFM設備,可靈活配置和測試,具備優(yōu)異測試穩(wěn)定性和可靠性。
              型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
              原子力顯微鏡
              2025/5/7 12:32:45551
            • 反射譜成像技術 參考價:面議

              iSR是一種微光斑測試技術,用于實時刻蝕和Halftone工藝中的厚度測試
              型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
              反射譜成像
              2025/5/7 12:31:08384
            • 光譜型橢偏儀 參考價:面議

              光譜型橢偏儀是多功能薄模測試系統(tǒng),適合各種薄材料的研究。
              型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
              橢偏儀
              2025/5/7 12:27:52756

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