目錄:上海波銘科學儀器有限公司>>光譜系統(tǒng)>>顯微缺陷膜厚>> 彩色濾光片、光刻膠測量裝置 LCF SERIES
以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應(yīng)彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置
可用于彩色濾光片的光學特性或玻璃基板上膜的薄膜解析等各類評價
通過自動對焦功能和自動繪素位置相結(jié)合，測量精度高，登陸recipe實現(xiàn)完wan全自動檢查
| 彩色濾光片評價 | 色測量（透過光譜測量） 色度（XYZ，xy，Lab，L*a*b*，u’v’，u*v*） 色差，白平衡 |
|---|---|
| 反射率測量 * | |
| 濃度（OD）測量 * | |
| 畫素幅測量 * | |
| AF（自動對焦），結(jié)合自動繪素 * | |
| 膜厚評價 | 膜厚測量 |
| 膜物性解析（n:折射率，k：消減系數(shù)） |
R, G, B, ITO, PI, PR, OC, BM
| 型號 | LCF series |
|---|---|
| 樣品尺寸 | 50mm×50mm ～* |
| 檢出器 | 分光光度計 ( MCPD檢出器 )，PMT （option） |
| 圖像處理 | CCD相機及monitor 自動對焦結(jié)合自動繪畫素機構(gòu) |
| Stage及測量部支架 | X-Y-Zstage自動及手動（電動方式） |
* 也可用于大型玻璃基板（3000mm×3000mm以上）
彩色濾光片R、G、B測量
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