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            目錄:上海波銘科學儀器有限公司>>光譜系統(tǒng)>>顯微缺陷膜厚>> 紫外分光配光測量系統(tǒng)

            紫外分光配光測量系統(tǒng)
            • 紫外分光配光測量系統(tǒng)
            參考價 面議
            具體成交價以合同協議為準
            參考價 面議
            具體成交價以合同協議為準
            • 品牌 OTSUKA/日本大塚
            • 型號
            • 廠商性質 生產商
            • 所在地 上海市
            屬性

            >

            更新時間:2025-01-23 12:03:36瀏覽次數:361評價

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            ●通過分光光度分布對紫外光進行高精度測量

            ●從配光上評估紫外光的最大發(fā)光強度、光束開度、光束光通量

            ●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍

            ●支持從 LED 芯片到模塊和應用產品的廣泛樣品

            ●用軟件批量控制電源和測量儀器

            產品信息

            評價項目

            紫外線輻射強度或輻照度中的光分布角分布

            最大光度、光束開度、光束光通量

            輻射通量、輻射強度、輻照度

            總光通量

            光譜數據

            根據配光測量系統(tǒng)的測量項目

            總光通量、色度坐標xy、uv、u’v’相關色溫、Duv、主波長、刺激純度顯

            色指數Ra、R1至R15

            峰值波長、半值范圍

            規(guī)格

            紫外分光配光測量系統(tǒng)

            * 1:測量期間安裝樣品的方向。
            底座朝下:水平面安裝
            底座側:垂直面 安裝
            *2:配光測量的測量波長范圍為250~850nm
            *3:可選產品請參考總光通量測量系統(tǒng)規(guī)格頁.

            設備配置

            GP-510U

            紫外分光配光測量系統(tǒng)

            桌面型設備。將 LED 芯片放置在水平面上并進行測量。
            受光部一側為1軸,樣品側為1軸的驅動系統(tǒng)。
            由于樣品可以放置在平坦的表面上,因此測量再現性和位置調整很容易。
            適用于測量LED芯片等不易安裝的小樣品。

             

            GP-500 / GP-1100

            紫外分光配光測量系統(tǒng)

            桌面型設備。這是一般配光裝置的光學系統(tǒng)。
            受光部分與樣品部分高度相同,樣品側采用2軸驅動系統(tǒng)。
            它可以處理從芯片類型到小模塊樣品的廣泛產品。

             

            GP-2000

            紫外分光配光測量系統(tǒng)

            大型設備。安裝需要一個使用一個暗室的地方。
            該設備用于測量大而重的光源,如泛光燈。

            測量示例

            UV-LED 測量結果

            紫外分光配光測量系統(tǒng)

            紫外分光配光測量系統(tǒng)

            這是用光譜光分布測量 UV-LED 的結果。
            根據輻射強度繪制配光曲線。
            通過對光分布測量得到的每個θ處的光譜輻射強度
            使用球面系數法,可以得到UV-LED發(fā)射的總光譜通量。


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