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            目錄:上海波銘科學(xué)儀器有限公司>>光譜系統(tǒng)>>顯微缺陷膜厚>> 線掃描膜厚儀(離線型)

            線掃描膜厚儀(離線型)
            • 線掃描膜厚儀(離線型)
            參考價(jià) 面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            參考價(jià) 面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 品牌 OTSUKA/日本大塚
            • 型號
            • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
            • 所在地 上海市
            屬性

            >

            更新時(shí)間:2025-01-23 12:07:23瀏覽次數(shù):513評價(jià)

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            ●硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì)

            ●作為專業(yè)膜厚測定廠商,提供多種支援

            ●實(shí)現(xiàn)高精度測量(已取得專zhuan利)

            ●實(shí)現(xiàn)高速測量(500萬點(diǎn)以上/分)

            產(chǎn)品信息

            式樣

            線掃描膜厚儀(離線型)

            測量案例

            250mm寬的薄膜案例

             








            上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測試設(shè)備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展,上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度,客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力,不斷提升市場地位和影響力。

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