目錄:北京儀光科技有限公司>>激光干涉儀>>Zygo激光干涉儀>> Verifire MST美國ZYGO激光干涉儀
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 15萬-20萬 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,地礦,能源,建材/家具,綜合 |
美國ZYGO激光干涉儀Verifire™ MST概述：
Verifire™ MST激光干涉儀可以進行三個甚至四個平行面的測量，不僅可以顯示所有的面，并且可以排除其他的面而單獨顯示你所需要的面。
Verifire™ MST波長調(diào)制激光干涉儀詳情介紹：
美國ZYGO激光干涉儀Verifire™ MST激光干涉儀提供了一個嶄新的測量方式和能力，傳統(tǒng)的激光干涉儀應(yīng)用是測量兩個面的波前變化，也就是說測量一個 由兩個面所形成的腔。但是，如果所測量的是一個沒有經(jīng)過鍍膜的平行平板，則就會產(chǎn)生兩個疊加的干涉條紋（三個面的腔所形成），這樣就會干擾標準的位相干涉測量分析。現(xiàn)在，ZYGO的Verifire™ MST激光干涉儀解決了這一個問題，通過波長調(diào)制技術(shù)和ZYGO新的傅立葉變換方法，可以進行三個甚至四個平行面的測量，不僅可以顯示所有的面，并且可以排除其他的面而單獨顯示你所需要的面。
三平面干涉測量
激光干涉儀可以在你的測量中，只要一次數(shù)據(jù)采集，就可以得到平行平板前表面和后表面的平面度，同時還能得到平行平板的光學(xué)厚度：
• 前表面形貌圖
• 光學(xué)厚度變化
• 物理厚度變化和后表面形變
四表面干涉測量
這一技術(shù)能夠通過兩次數(shù)據(jù)采集得到下列結(jié)果：
• 前表面和后表面的形貌圖
• 物理厚度變化
• 光學(xué)厚度變化
• 折射率變化
- 非線性材料均勻性
- 線性材料均勻性
多表面樣品測量快速、簡單和質(zhì)量提升
同時測量表面形變和光學(xué)厚度變化
平行平板兩側(cè)測量就可以得到其均勻性：
• 不需要涂油就可以進行安全、快速測量
• 兩次測量不需要進行調(diào)整
新型的線性材料均勻性測量
快速測量，只需要幾分鐘而不是幾個小時
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