目錄:光焱科技股份有限公司>>EQE/光子-電子轉(zhuǎn)換測(cè)試>>PD檢測(cè)>> PD-QE光譜響應(yīng)測(cè)試與光電探測(cè)器特性分析
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更新時(shí)間:2025-03-13 14:37:23瀏覽次數(shù):3065評(píng)價(jià)
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子 |
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偏置電壓 | 由20V~1000V | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
測(cè)量模式 | 咨詢(xún)光焱科技專(zhuān)家 |
此系統(tǒng)與手套箱無(wú)縫整合,為分析敏感材料和組件提供了理想的環(huán)境。
PD-QE 結(jié)合先進(jìn)科技與使用者友善的設(shè)計(jì),讓研究人員和工程師能夠探索光譜學(xué)的新領(lǐng)域,并釋放光電探測(cè)器的全部潛力。
光電探測(cè)器基本特性分析設(shè)備的可用性對(duì)于這些組件的開(kāi)發(fā)者和用戶都至關(guān)重要。
不同的應(yīng)用領(lǐng)域,例如光電二極管制造商、光纖通訊系統(tǒng)開(kāi)發(fā)商、太陽(yáng)能電池板制造商、大學(xué)和研究機(jī)構(gòu)的實(shí)驗(yàn)室以及質(zhì)量控管公司,在功能方面可能有其他特定需求,包括所需的檢測(cè)范圍、分辨率或?qū)μ囟ōh(huán)境條件的適應(yīng)性。
傳統(tǒng)的量子效率系統(tǒng)在新型光電探測(cè)器的測(cè)試中面臨許多挑戰(zhàn)。 例如:
1.偏置電壓無(wú)法超過(guò)12V:傳統(tǒng)量子效率系統(tǒng)使用鎖相放大器,其承受直流電壓無(wú)法過(guò)大,因此在一般的量子效率測(cè)試儀,電偏壓無(wú)法施加超過(guò)12V。
2.無(wú)法做噪聲頻率分析。
3.無(wú)法直接測(cè)得NEP與D*。
光焱科技針對(duì)新世代的光電探測(cè)器(PD)提供了完整解決方案,命名為PD-QE。
PD-QE提供高精度的EQE和IV曲線測(cè)量,光源不穩(wěn)定度低于1%,確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性,滿足客戶對(duì)高精度測(cè)量的期望。
PD-QE 集成了多種功能,包括 EQE 測(cè)試、IV 曲線檢測(cè)、D* 分析、NEP 分析和頻率噪聲頻譜分析。 這種整合為客戶提供了一站式性能評(píng)估解決方案,滿足他們對(duì)整合多功能性的期望。
PD-QE 能夠測(cè)量高分辨率的光電流(分辨率高達(dá) 10^-14 安培),使其適用于測(cè)試高靈敏度的光電探測(cè)器。 這有助于客戶準(zhǔn)確評(píng)估探測(cè)器在低光照條件下的性能,滿足他們對(duì)靈敏度測(cè)試的期望。
PD-QE 適用于各種光電探測(cè)器,無(wú)論是在研發(fā)階段還是生產(chǎn)線上,都能提供先進(jìn)的性能測(cè)試能力。
PD-QE 通過(guò)其光束耦合模塊提供精確的光束尺寸控制 (1*1 平方毫米),滿足精確光束控制的要求。 這讓客戶能夠進(jìn)行精確的性能測(cè)試,并模擬特定的應(yīng)用情境。 這滿足了客戶對(duì)精確光束控制的需求,幫助他們執(zhí)行更準(zhǔn)確的效能評(píng)估和優(yōu)化。
PD-QE支持從20伏特到200伏特的偏壓電壓調(diào)整,滿足客戶在不同電壓條件下測(cè)試光電探測(cè)器的需求。 這有助于客戶全面評(píng)估產(chǎn)品效能,并確保在各種應(yīng)用條件下穩(wěn)定運(yùn)作。
PD-QE 采用用戶友善的設(shè)計(jì),操作簡(jiǎn)單,維護(hù)成本低,滿足客戶對(duì)易用性和維護(hù)性的需求。 這有助于客戶節(jié)省時(shí)間和成本,同時(shí)保持高效的測(cè)試流程。
PD-QE 提供專(zhuān)業(yè)的客戶支持和技術(shù)服務(wù),協(xié)助客戶快速解決使用過(guò)程中遇到的問(wèn)題,確保設(shè)備穩(wěn)定運(yùn)作。 這滿足了客戶對(duì)及時(shí)有效支持的需求,幫助他們維持高效的測(cè)試流程。
● 光源不穩(wěn)定性< 1%
● 單色光模:波長(zhǎng)范圍 300~1100 nm。
● 光斑耦合模組光斑尺寸:1*1mm2 。
● 偏置電壓也可由20V到200V。
● 可測(cè)量高分辨率的光電流,分辨率最高可達(dá)10~14 A。
● 波長(zhǎng)擴(kuò)充可達(dá)1800 nm。
PD-QE光譜響應(yīng)測(cè)試與光電傳感器特性分析可用于:
● 第三代半導(dǎo)體材料:光電二極體/光電探測(cè)器。
● 有機(jī)光傳感器 (OPD, Organic Photodiode)。
● 鈣鈦礦光傳感器 (PPD, Perovskite Photodiode)。
● 量子點(diǎn)光傳感器(QDPD, Quantum Dots Photodiode)。
● 新型材料光傳感器。
● NEP/D*:
PD-QE可直接針對(duì)器進(jìn)進(jìn)行頻率雜訊的測(cè)量與作圖。
● EQE 光譜:
PD-QE 可以進(jìn)行 EQE 光譜測(cè)試。除了標(biāo)準(zhǔn)的 300nm ~ 1100nm 波段,PD-QE 可擴(kuò)展到 1800nm。圖中顯示不同波長(zhǎng)響應(yīng)器件,在 PD-QE 系統(tǒng)下,測(cè)的 EQE 量子效率光譜。
● 整合多種SMU控制進(jìn)行IV曲線測(cè)試:
PD-QE 已整合 Keithley 與 Keysight 出產(chǎn)的多種 SMU,進(jìn)行多種的 IV 曲線掃描。用戶無(wú)需另外尋找或是自行整合 IV 曲線測(cè)試。圖中顯示 PD-QE 測(cè)試不同樣品的 IV 曲線,并進(jìn)行多圖顯示。
● 噪聲電流頻譜圖:
PD-QE 憑借*進(jìn)數(shù)字訊號(hào)采集與處理技術(shù),直接可測(cè)試各種探測(cè)器在不同頻率下的噪聲電流圖。用戶無(wú)需在額外購(gòu)買(mǎi)、整合頻譜分析儀進(jìn)行測(cè)種測(cè)試!并且軟件可以進(jìn)行多種頻段的特性分析,如 Shot Noise、Johnson Noise、1/f Noise 等。PD-QE 是針對(duì)新世代 PD 測(cè)試的完整解決方案。
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