損耗分析-準(zhǔn)費(fèi)米能級(jí)檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
Enlitech 隆重推出QFLS-Maper 損耗分析-準(zhǔn)費(fèi)米能級(jí)檢測(cè)儀，可視覺化呈現(xiàn)QFLS image，一眼即可掌握樣品QFLS、Pseudo J-V、P...
光致發(fā)光與發(fā)光量子產(chǎn)率測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
LQ-100X-PL外部量子效率eqe,外量子效率eqe測(cè)試系統(tǒng)適用測(cè)試PLQY (Photoluminescence Quantum Yield, 光致發(fā)光量...
太陽(yáng)能電池Voc損耗分析儀 參考價(jià)：面議
光焱科技REPS+與G2 Voc損耗分析儀是一個(gè)完整的系統(tǒng)，可以幫助科學(xué)家測(cè)量、計(jì)算和分析工作中的太陽(yáng)能電池中的 Voc-loss，并為下一步的工藝改進(jìn)提供思路...
雷射掃描缺陷圖譜儀 參考價(jià)：面議
激光掃描缺陷成像儀是激光束感應(yīng)電流（LBIC）測(cè)試的升級(jí)版本。它利用波長(zhǎng)能量大于半導(dǎo)體帶隙的激光束照射半導(dǎo)體，產(chǎn)生電子空穴對(duì)。通過快速掃描樣品表面，獲得揭示內(nèi)部...
先進(jìn)光電探測(cè)器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
APD-QE 采用了光束空間強(qiáng)度技術(shù)，利用 ASTM 標(biāo)準(zhǔn)制定的「Irradiance Mode」測(cè)試方式，與各種先進(jìn)探尖臺(tái)形成完整的微米級(jí)光感測(cè)器全光譜效率測(cè)...
Enlitech 光伏電池效率損失分析儀 參考價(jià)：面議
光焱科技 QE-RX光伏電池效率損失分析儀 可用于高效太陽(yáng)能電池研發(fā)。QE-RX 不僅可以測(cè)量 PV-EQE、反射率和 PV-IQE 數(shù)據(jù)，還可以通過結(jié)合分析軟...
光焱科技光高靈敏度外部量子效率系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
在半導(dǎo)體器件中，不完好的結(jié)晶度往往會(huì)導(dǎo)致禁帶隙中的缺陷或陷阱態(tài)，這極大地影響了器件的整體光學(xué)和電學(xué)性能。由于帶隙中的吸收系數(shù)極低，產(chǎn)生的光電流信號(hào)也極弱。因此，...
光焱科技量子效率測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
光焱科技QE-R量子效率測(cè)試系統(tǒng)采用了高效的橢圓反射器，比傳統(tǒng)的球形透鏡和反射器具有更高的集光效率。且于60cm x 60cm x 60.7cm 的主體內(nèi)集成了...
鈣鈦礦太陽(yáng)能電池瞬態(tài)光電流光電壓測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
光電流、開路電壓的瞬態(tài)特性、載流子遷移率、載流子壽命、載流子動(dòng)力學(xué)過程等是新型太陽(yáng)電池器件的重要參數(shù)。由于新型太陽(yáng)電池器件面積小、光電流小，非常難以準(zhǔn)確測(cè)量出光...
光電器件響應(yīng)測(cè)量與光偵測(cè)器 參考價(jià)：面議
PD-RS光電器件響應(yīng)測(cè)量與光偵測(cè)器可針對(duì)光電器件 (探測(cè)器或光伏器件) 進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換過程的響應(yīng)行為測(cè)量與分析。
光譜響應(yīng)測(cè)試與光電探測(cè)器特性分析 參考價(jià)：面議
傳統(tǒng)的量子效率系統(tǒng)在新型光電探測(cè)器面臨許多測(cè)試方法挑戰(zhàn)。光焱科技針對(duì)新世代的光電探測(cè)器 (PD) 提供了完整解決方案~命名為 PD-QE光譜響應(yīng)測(cè)試與光電傳感器...
光焱科技 電致發(fā)光效率測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
LQ-50X-EL 光焱科技電致發(fā)光效率測(cè)試系統(tǒng) 擁有以下幾點(diǎn)特色：采用單光子偵測(cè)技術(shù)、NIR 增強(qiáng)光學(xué)設(shè)計(jì)與組件、簡(jiǎn)便的設(shè)計(jì)可與手套箱直接整合，能解決目前LE...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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