Prisma E環(huán)境掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Prisma E環(huán)境掃描電鏡具有環(huán)境功能的掃描電鏡，適用于工業(yè)研究和開發(fā)。始終在線的分析能力可提高您的工作效率，并獲取完整的樣品信息。
Apreo 2 SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Apreo 2 SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡可進(jìn)行高分辨率成像，并且可以擴(kuò)展至材料的元素分析。
Volumescope 2 SEM掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Volumescope 2 SEM掃描電鏡適用于對(duì)樣品進(jìn)行大體積連續(xù)切片以及多能量反卷積三維重構(gòu)的SEM掃描電鏡。
集成能譜場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Thermo Scientic™ Apreo™ ChemiSEM™集成能譜場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡實(shí)現(xiàn)了技術(shù)創(chuàng)新，簡(jiǎn)化了分析流程。通過...
賽默飛礦物參數(shù)自動(dòng)定量分析系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
Maps Mineralogy賽默飛礦物參數(shù)自動(dòng)定量分析系統(tǒng)軟件采用Maps軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，而Maps軟件為顯微鏡自動(dòng)化和關(guān)聯(lián)工作流程平臺(tái)，軟件界面直觀，數(shù)據(jù)...
Quattro ESEM環(huán)境掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Quattro ESEM環(huán)境掃描電鏡環(huán)境掃描電鏡(ESEM)，用于研究包括含水樣品在內(nèi)的各種樣品。
Verios 5 XHR SEM超高分辨掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Verios 5 XHR SEM超高分辨掃描電鏡利用亞納米分辨率和高材料對(duì)比度進(jìn)行納米材料表征和分析。
Axia ChemiSEM掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Axia ChemiSEM掃描電鏡重新定義掃描電鏡工作流程，讓使用體驗(yàn)更加愉悅。
賽默飛（原FEI）Volumescope 2 sem掃描電鏡 參考價(jià)：7000000
賽默飛（原FEI）Volumescope 2 sem掃描電鏡簡(jiǎn)單易用，讓使用者能夠精準(zhǔn)的控制實(shí)驗(yàn)，已驗(yàn)證的解決方案適用于各種樣品類型，保證數(shù)據(jù)采集的每一步都達(dá)到...
賽默飛Axia ChemiSEM 鎢燈絲掃描電鏡 參考價(jià)：1000000
新一體化賽默飛Axia ChemiSEM 鎢燈絲掃描電鏡，該儀器將微區(qū)成分分析與電鏡成像集成在同一平臺(tái)上，快速提供所需微觀形貌及實(shí)時(shí)成分信息，幫助學(xué)術(shù)和工業(yè)用戶...
賽默飛 原FEI掃描電鏡 參考價(jià)：5000000
賽默飛 原FEI掃描電鏡Verios XHR SEM 是FEI 的 XHR（分辨率）SEM 系列的第二代產(chǎn)品。在尖部半導(dǎo)體制造和材料科學(xué)應(yīng)用中，它可在 1 至 ...
賽默飛（原FEI）Quattro 進(jìn)口掃描電鏡 參考價(jià)：4000000
賽默飛（原FEI）Quattro 進(jìn)口掃描電鏡將成像和分析的全面性能與環(huán)境模式（ESEM）相結(jié)合，使得樣品研究得以在自然狀態(tài)下進(jìn)行。
賽默飛（原FEI）Apreo場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：3000000
賽默飛（原FEI）Apreo場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡所有功能都能通過簡(jiǎn)單的樣品處理和熟悉的 xT UI 獲得，節(jié)省了新用戶和專家級(jí)用戶的時(shí)間?？勺远x的用戶界面提供...
Prisma E sem掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：2000000
新一代Prisma E Prisma E sem掃描電子顯微鏡可搭載Thermo Scientific ColorSEM技術(shù)，該技術(shù)將傳統(tǒng)的SE或者BSE成像技...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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