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當前位置：玉崎科學儀器（深圳）有限公司>>HITACHI日立>>原子力顯微鏡>> AFM5300E日立環(huán)境型原子力顯微鏡 分辨率原子相
| 產地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 其它 | 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,綜合 |
日立環(huán)境型原子力顯微鏡 分辨率原子相
日立環(huán)境型原子力顯微鏡 分辨率原子相
AFM5300E能夠實現高真空的測試環(huán)境，最大限度減小樣品表面吸附水對測試的影響，實現精確的物理特性測量。 真空環(huán)境下可以實現更大范圍的溫度控制。
●大氣中 ●液體中 ●真空中 ●特殊氣氛（流量控制）
●溫度控制 加熱?冷卻(-120～300℃) 高溫(室溫～800℃)
●濕度控制(0～80%)
通過采用『綜合型Holder Flange開合功能』，樣品和掃描器更換更為方便的同時，免去了以往環(huán)境型SPM的樣品更換后的所需的光軸調整。 也省去測試模式切換時的支架更換環(huán)節(jié)。
采用了『Swing Cancel功能』，減輕了樣品的浮動，降低了漂移。提高了納米分析性能，提升了可信度。
真空環(huán)境下減輕樣品表面吸附的水分和污染物的影響，因而實現高分辨高靈敏的電學性能分析。
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