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            玉崎科學(xué)儀器(深圳)有限公司
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            19270095986

            當(dāng)前位置:玉崎科學(xué)儀器(深圳)有限公司>>HITACHI日立>>原子力顯微鏡>> AFM5500M日本日立5500M全自動型原子力顯微鏡

            日本日立5500M全自動型原子力顯微鏡

            參   考   價: 26984

            訂  貨  量: ≥1 臺

            具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

            產(chǎn)品型號AFM5500M

            品       牌其他品牌

            廠商性質(zhì)代理商

            所  在  地深圳市

            更新時間:2024-08-08 14:07:31瀏覽次數(shù):391次

            聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)
            產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價格區(qū)間 面議
            儀器種類 其它 應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,綜合
            日本日立5500M全自動型原子力AFM5500M顯微鏡
            日本日立5500M全自動型原子力顯微鏡

            1. 自動化功能
            高度集成自動化功能追求高效率檢測
            降低檢測中的人為操作誤差

            日本日立5500M全自動型原子力顯微鏡

            日本日立5500M全自動型原子力顯微鏡


            特點

            1. 自動化功能

            • 高度集成自動化功能追求高效率檢測

            • 降低檢測中的人為操作誤差



            4英寸自動馬達(dá)臺




            自動更換懸臂功能


            2. 可靠性

            排除機械原因造成的誤差

            • 大范圍水平掃描
              采用管型掃描器的原子力顯微鏡,針對掃描器圓弧運動所產(chǎn)生的曲面,通常通過軟件校正方式獲得平面數(shù)據(jù)。但是,用軟件校正方式不能消除掃描器圓弧運動的影響,圖片上經(jīng)常發(fā)生扭曲效果。
              AFM5500M搭載了最新研發(fā)的水平掃描器,可實現(xiàn)不受圓弧運動影響的準(zhǔn)確測試。


            Sample :Amorphous silicon thin film on a silicon substrate

            • 高精角度測量
              普通的原子力顯微鏡所采用的掃描器,在豎直伸縮的時候,會發(fā)生彎曲(crosstalk)。這是圖像在水平方向產(chǎn)生形貌誤差的直接原因。
              AFM5500M中搭載的全新掃描器,在豎直方向上不會發(fā)生彎曲(crosstalk) ,可以得到水平方向沒有扭曲影響的正確圖像。


            Sample : Textured-structure solar battery(having symmetrical structure due to its crystal orientation.)

            *使用AFM5100N(開環(huán)控制)時

            3. 融合性

            親密融合其他檢測分析方式

            通過SEM-AFM的共享坐標(biāo)樣品臺,可實現(xiàn)在同一視野快速的觀察?分析樣品的表面形貌,結(jié)構(gòu),成分,物理特性等。

            SEM-AFM在同一視野觀察實例(樣品:石墨烯/SiO2)


            The ovrlay images createed by using AZblend Ver.2.1, ASTRON Inc.

            上圖是AFM5500M拍攝的形狀像(AFM像)和電位像(KFM像)分別和SEM圖像疊加的應(yīng)用數(shù)據(jù)。

            • 通過分析AFM圖像可以判斷,SEM對比度表征石墨烯層的厚薄。

            • 石墨烯層數(shù)不同導(dǎo)致表面電位(功函數(shù))的反差。

            • SEM圖像對比度不同,可以通過SPM的高精度3D形貌測量和物理特性分析找到其原因。


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