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日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM 系列可攜帶至現(xiàn)場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
Otsuka大塚高感度分光輻射亮度計(jì) HS-1000可攜帶至現(xiàn)場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀OPTM-H3可攜帶至現(xiàn)場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM-H2可攜帶至現(xiàn)場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM-H1可攜帶至現(xiàn)場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM series 可攜帶至現(xiàn)場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 SF-3可攜帶至現(xiàn)場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
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日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM series 可攜帶至現(xiàn)場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM series 可攜帶至現(xiàn)場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀Smart 可攜帶至現(xiàn)場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
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