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當(dāng)前位置:藤田(重慶)精密儀器設(shè)備有限公司>>檢測、計(jì)量類>>日本Otsuka大塚>> OPTM-A1日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM series
產(chǎn)品型號OPTM-A1
品 牌OTSUKA/日本大塚
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地重慶市
更新時間:2025-04-10 10:05:01瀏覽次數(shù):55次
聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)Otsuka大塚高感度分光輻射亮度計(jì) HS-1000
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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可攜帶至現(xiàn)場的手持式
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM series
● 可測量0.1μm單位
● 具有形狀的樣品也可非破壞的測量
● 不論基材材質(zhì)、可測量其鍍膜
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM series
與桌上型光學(xué)膜厚儀相比,Smart膜厚儀在“現(xiàn)場"以非破壞式直接量測樣品,且可以量測特殊形狀樣品。
與接觸式膜厚儀相比,Smart膜厚儀不僅不會破壞您的樣品,也不會因用戶不同而產(chǎn)生誤差且遠(yuǎn)高于接觸式膜厚的量測精度。
與渦電流/電磁式膜厚儀相比,Smart膜厚儀不需要制作檢量線,且可以量測非金屬基材并且得到絕對值!
非接觸式載臺
對于濕膜或半導(dǎo)體晶圓等不想接觸的樣品,可以通過自由設(shè)定探頭位置進(jìn)行非接觸測量。
產(chǎn)品開發(fā)-量測試作品
1.攜帶到合作廠商等,直接在現(xiàn)場量測效率Up
2.試作階段的檢查方法商定效率Up
規(guī)格樣式
量測原理 | 反射分光法(光干涉法)、非破壞性量測 |
膜厚量測范圍 | 1~50μm(顯示上限60μm) |
重復(fù)精度 | 2.1σ 0.01μm(SiO2膜1μm) |
量測時間 | 1秒內(nèi) |
量測層數(shù) | 1層 |
數(shù)據(jù)輸出 | 附屬操作屏幕顯示或以USB輸出Excel檔案 |
量測Spot | Φ1mm以下 |
重量 | 約1.1kg |
選配
筆型探頭
能夠測量狹窄區(qū)域或形狀的樣品。 探頭端Φ6mm。
膜厚測量范圍 | 1μm~50μm |
測量重復(fù)性 | 0.01μm |
測量時間 | 1秒以下 |
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