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            長(zhǎng)沙科美分析儀器有限公司
            中級(jí)會(huì)員 | 第19年

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            當(dāng)前位置:長(zhǎng)沙科美分析儀器有限公司>>通用實(shí)驗(yàn)室儀器>>顯微鏡>> HF-5000日立球差校正透射電子顯微鏡HF-5000

            日立球差校正透射電子顯微鏡HF-5000

            參  考  價(jià)面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

            產(chǎn)品型號(hào)HF-5000

            品       牌Techcomp/天美

            廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

            所  在  地長(zhǎng)沙市

            更新時(shí)間:2016-09-18 11:13:38瀏覽次數(shù):4519次

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            日立球差校正透射電子顯微鏡HF-5000,是日立的200kV球差校正場(chǎng)發(fā)射透射電鏡,采用冷場(chǎng)發(fā)射電子槍和全自動(dòng)化的球差校正技術(shù),在保證超高分辨率的同時(shí)大大簡(jiǎn)化操作,實(shí)現(xiàn)高分辨觀察與易用性的*結(jié)合。HF-5000同樣具有超高空間分辨率的分析能力,配合電子能量損失譜(EELS)和大面積無(wú)窗能譜(EDS)可以對(duì)原子級(jí)圖像進(jìn)行觀察和分析,是材料微觀結(jié)構(gòu)研究的Z佳工具。

            日立球差校正透射電子顯微鏡HF-5000

            產(chǎn)品介紹:

            HF-5000是日立的200kV球差校正場(chǎng)發(fā)射透射電鏡,采用冷場(chǎng)發(fā)射電子槍和全自動(dòng)化的球差校正技術(shù),在保證超高分辨率的同時(shí)大大簡(jiǎn)化操作,實(shí)現(xiàn)高分辨觀察與易用性的*結(jié)合。HF-5000同樣具有超高空間分辨率的分析能力,配合電子能量損失譜(EELS)和大面積無(wú)窗能譜(EDS)可以對(duì)原子級(jí)圖像進(jìn)行觀察和分析,是材料微觀結(jié)構(gòu)研究的*工具。

             

            日立球差校正透射電子顯微鏡HF-5000主要特點(diǎn):

            日立研發(fā)的全自動(dòng)STEM球差校正器

            高穩(wěn)定、高亮度的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍

            TEM、STEM、SEM三位一體

            大面積、大固體角的無(wú)窗能譜儀

            全新設(shè)計(jì)的鏡筒和高壓系統(tǒng)

            全新設(shè)計(jì)的保護(hù)罩和熒光屏相機(jī)

            高穩(wěn)定性側(cè)插樣品桿

            兼容日立的特殊樣品桿和FIB系統(tǒng)

             

            技術(shù)參數(shù):

            項(xiàng)目主要參數(shù)
            電子槍冷場(chǎng)發(fā)射電子槍
            加速電壓60-200kV
            TEM點(diǎn)分辨率0.23nm
            HAADF-STEM分辨率0.078nm
            能譜無(wú)窗SDD能譜,2 x 100mm2,固體角2.0 Sr
            電子能量損失譜Gatan GIF Quantum or Enfinium spectrometer
            圖像模式TEM明場(chǎng)像、BF-STEM明場(chǎng)像、ABF-STEM環(huán)形暗場(chǎng)像、HAADF-STEM高角度環(huán)形暗場(chǎng)像、二次電子像、電子衍射花樣、特征X射線像(可選)、EELS像(可選)

             

            應(yīng)用領(lǐng)域:

            HF-5000作為一款球差校正冷場(chǎng)發(fā)射透射電鏡,其分辨率達(dá)到了亞埃級(jí),可以實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的超細(xì)微觀結(jié)構(gòu)的觀察和分析,適用于金屬、陶瓷、半導(dǎo)體、納米材料等的觀察。同時(shí),HF-5000*的TEM、STEM、SEM三位一體功能不僅可以實(shí)現(xiàn)對(duì)材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的研究,也可以獲得材料表面的信息。原子級(jí)分辨率的二次電子探測(cè)器可以彌補(bǔ)TEM和STEM無(wú)法觀察樣品表面的缺陷,同時(shí)相比普通的SEM又具有更高的分辨率,可以滿足樣品表面高分辨形貌和結(jié)構(gòu)觀察的需求,與TEM和STEM形成互補(bǔ)。全自動(dòng)化的球差校正過(guò)程又大大簡(jiǎn)化了球差校正透射電鏡的使用難度,提高了觀察效率,尤其適合測(cè)試平臺(tái)和科研中心等用戶。

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