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            長(zhǎng)沙科美分析儀器有限公司
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            日立球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700

            參  考  價(jià)面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

            產(chǎn)品型號(hào)HD-2700

            品       牌Techcomp/天美

            廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

            所  在  地長(zhǎng)沙市

            更新時(shí)間:2016-09-18 11:20:34瀏覽次數(shù):5035次

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            日立球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700,相比于普通的透射電鏡,HD-2700采用球差校正技術(shù),大大減小了透鏡球差對(duì)分辨率的影響,從而可以實(shí)現(xiàn)超高分辨率的觀察。同時(shí),HD-2700是目前少數(shù)以掃描透射(STEM)功能為主的透射電鏡,大會(huì)聚角的STEM功能配合場(chǎng)發(fā)射電子槍和球差校正技術(shù)可以使HD-2700獲得亞納米級(jí)的電子束

            日立球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700

             

            產(chǎn)品介紹:

            HD-2700是一款200kV的場(chǎng)發(fā)射球差校正掃描透射電鏡。相比于普通的透射電鏡,HD-2700采用球差校正技術(shù),大大減小了透鏡球差對(duì)分辨率的影響,從而可以實(shí)現(xiàn)超高分辨率的觀察。同時(shí),HD-2700是目前少數(shù)以掃描透射(STEM)功能為主的透射電鏡,大會(huì)聚角的STEM功能配合場(chǎng)發(fā)射電子槍和球差校正技術(shù)可以使HD-2700獲得亞納米級(jí)的電子束,使得原子級(jí)分辨率的圖像觀察和元素分析成為了可能,大大提高了電鏡的觀察和分析能力。

             

            日立球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700主要特點(diǎn):

            高分辨觀察

            利用金顆粒保證0.144nm分辨率DF-STEM像(標(biāo)準(zhǔn)型)。

            大束流分析

            約為非校正的STEM探針電流的10倍,可以進(jìn)行高速、高靈敏度能譜分析,可以在更短的時(shí)間內(nèi)獲得元素的面分布圖,使得檢測(cè)微量元素成為可能。
            簡(jiǎn)化的操作

            提供了的GUI自動(dòng)調(diào)節(jié)球差校正器

            整體的解決方案

            樣品桿與日立FIB兼容,提供了納米尺度的整體解決方案,從制樣到數(shù)據(jù)獲得和zui終分析

            多種評(píng)價(jià)和分析功能可選
            可同時(shí)獲得和顯示SE&BF、SE&DF、BF&DF、DF/EDX和DF/EELS像;可以配備ELV-2000型實(shí)時(shí)元素Mapping系統(tǒng)(DF-STEM像可以同時(shí)獲得);可以同時(shí)觀察DF-STEM像和衍射像;可以配備超微柱頭樣品桿進(jìn)行三維分析(360度旋轉(zhuǎn))等。

             

            技術(shù)參數(shù):

            項(xiàng)目主要參數(shù)
            電子槍冷場(chǎng)或熱場(chǎng)發(fā)射電子槍
            加速電壓200kV、120kV*
             0.144nm(標(biāo)準(zhǔn)型,配有球差、冷場(chǎng)或熱場(chǎng))
            線分辨率0.136nm(高分辨型,配有球差、冷場(chǎng))
             0.204nm(標(biāo)準(zhǔn)型,配有熱場(chǎng),無(wú)球差)
            放大倍率200x - 10,000,000x
            圖像模式BF-STEM相襯度像(TE像)、DF-STEM原子序數(shù)襯度像(ZC像)、二次電子像(SE像)、電子衍射花樣(可選)、特征X射線像(可選:EDX)、EELS像(可選:ELV-2000)
            電子光學(xué)電子槍:冷場(chǎng)或熱場(chǎng)發(fā)射電子槍,內(nèi)置陽(yáng)極加熱器
            透鏡系統(tǒng):兩級(jí)聚光鏡、物鏡、投影鏡
            球差校正器:六極/傳輸 雙重(標(biāo)準(zhǔn)型和高分辨型)
            掃描線圈:兩級(jí)電磁線圈
            電位移:±1μm
            樣品桿側(cè)插式,X=Y=±1mm,Z=±0.4mm ,T=±30°(單傾樣品桿)

             

            應(yīng)用領(lǐng)域:

            HD-2700作為一款場(chǎng)發(fā)射球差校正的掃描透射電鏡,不僅具有高分辨率的圖像觀察能力,同樣具有高空間分辨率的分析能力,配合EELS和EDS可以實(shí)現(xiàn)原子級(jí)元素的分析。HD-2700具有多種成像模式,可以滿足大部分樣品的觀察需求,日立*的SE成像模式可以獲得透射電鏡無(wú)法獲得的樣品表面的信息,同時(shí)又比普通掃描電鏡具有更高的分辨率,可以實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品表面的高分辨觀察。      

            應(yīng)用文章:

            [1] Ciston1, J., Brown2, H. G., D`Alfonso2, A. J., Koirala3, P., Ophus1, C., Lin3, Y., Suzuki4, Y., Inada5, H., Zhu6, Y. & Marks3, L. D. Surface determination through atomically resolved secondary electron imaging.Nature Communications,2005,6, 7358-7365.

            [2] Zhu1*, Y., Inada2, H., Nakamura2, K. & Wall1, J. Imaging single atoms using secondary electrons with an aberration-corrected electron microscope.Nature Materials,2009,8, 808-812.

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