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2020
11-16

巖礦分析系統(tǒng)怎樣分析礦物中的金含量？
巖礦分析系統(tǒng)相比于傳統(tǒng)單點(diǎn)測(cè)試，在全圖范圍內(nèi)進(jìn)行定標(biāo)，客戶可以使用鼠標(biāo)點(diǎn)擊任意一點(diǎn)測(cè)量反射率。十字中心點(diǎn)提供正確測(cè)量，測(cè)量位置和圖片可以同時(shí)保存。測(cè)量可以*在屏幕上完成，客戶無(wú)須長(zhǎng)時(shí)間使用物鏡尋找測(cè)試點(diǎn)。全自動(dòng)煤巖分析系統(tǒng)可適配多種系列智能顯微鏡，結(jié)合MZ電動(dòng)載物臺(tái)，可實(shí)現(xiàn)電動(dòng)控制XY方向移動(dòng)，以及Z軸方向自動(dòng)聚焦，可切換手動(dòng)調(diào)焦模式，以實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)全自動(dòng)化控制分析。對(duì)于礦物中的金含量的測(cè)定可運(yùn)用共振散射光譜法，采用的主要儀器是熒光分光光度計(jì)和紫外可見光分光光度計(jì)。金標(biāo)準(zhǔn)儲(chǔ)備溶液1mg/ml，將99
2020
11-14

1064nm激光拉曼光譜儀在石油化工中的應(yīng)用
石油主要是碳?xì)浠衔?，它由不同的碳?xì)浠衔锘旌辖M成，組成石油的化學(xué)元素主要是碳（83%~87%）、氫（11%~14%），其余為硫（0.06%~0.8%）、氮（0.02%~1.7%）、氧（0.08%~1.82%）及微量金屬元素（鎳、釩、鐵、銻等）。由碳和氫化合形成的烴類構(gòu)成石油的主要組成部分，約占95%~99%，各種烴類按其結(jié)構(gòu)分為：烷烴、環(huán)烷烴、芳香烴。一般天然石油不含烯烴而二次加工產(chǎn)物中常含有數(shù)量不等的烯烴和炔烴。含硫、氧、氮的化合物對(duì)石油產(chǎn)品有害，在石油加工中應(yīng)盡量除去。拉曼光譜作為一種快速
2020
11-11

日本電子電鏡的“二次激起”原理解讀
日本電子電鏡是六十年代發(fā)展起來(lái)的一種精細(xì)電子學(xué)儀器。使用它可以調(diào)查塊狀樣品的外表形狀，然后得出有關(guān)樣品立體布局的概念。電子顯微鏡由三局部構(gòu)成：電子光學(xué)體系包括電子槍、磁透鏡和掃描線圈等，它能發(fā)生契合必定需求的電子束；樣品室是電子束與樣品相互效果的場(chǎng)所。為便于獲取效果后生成的各種信號(hào)，樣品室的體積容量較大；信號(hào)的搜集、處置和顯現(xiàn)體系。電子顯微鏡中的細(xì)電子束在樣品外表作出光柵狀掃描，即從左上方掃向右上方，掃完一行再掃其下相鄰的第二行，直至掃完一幅(或幀)。如此重復(fù)運(yùn)動(dòng)。這種作掃描運(yùn)動(dòng)的電子束，在樣品
2020
11-09

熒光壽命測(cè)量頻域法和時(shí)域法的原理
熒光壽命測(cè)量原理熒光壽命是衡量一個(gè)熒光基團(tuán)激發(fā)態(tài)通過發(fā)射光子回到基態(tài)的時(shí)間。熒光壽命的范圍可以從皮秒到幾百納秒。下面列出一些常見物質(zhì)的的熒光強(qiáng)度和熒光壽命。熒光物質(zhì)熒光壽命[ns]大激發(fā)光波長(zhǎng)大發(fā)射光波長(zhǎng)溶劑ATTO6553.6655690水吖啶橙（AcridineOrange）2500530PBpH7.8AlexaFluor4884.1494519PBpH7.4AlexaFluor6471651672水BODIPYFL5.7502510乙醇香豆素2.5460505乙醇CY3B2.8558572
2020
11-03

如何使用LIBS快速分析磷元素？
磷及其化合物可用于肥料，動(dòng)物飼料，清潔劑和金屬處理過程等。在磷肥的生產(chǎn)過程中磷酸鹽濃縮物是被轉(zhuǎn)化成漿料的形式以易于通過管道網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行運(yùn)輸。因此，評(píng)估漿液形式的尾礦中可利用的磷酸鹽附聚物的存在是十分有意義的。LIBS是一種原子發(fā)射光譜（AES）技術(shù)，基于使用脈沖激光在樣品表面上生成等離子體的技術(shù)。通常收集由原子，離子和分子發(fā)射疊加到連續(xù)背景上的發(fā)射等離子體，并進(jìn)行光譜分析，以定量和定性確定樣品的化學(xué)成分。與現(xiàn)有技術(shù)相比，LIBS的主要優(yōu)勢(shì)在于無(wú)需樣品制備或樣品制備很少即可進(jìn)行實(shí)時(shí)和原位測(cè)量的能力。L
2020
10-28

激光拉曼光譜儀在地質(zhì)學(xué)中的應(yīng)用
顯微拉曼光譜儀是一種新型的微區(qū)分析儀器，其高精度、方便、快捷、無(wú)損的特點(diǎn)，為地質(zhì)學(xué)中新技術(shù)、新方法的應(yīng)用提供了先進(jìn)的手段。相比于532nm&785nm激光波長(zhǎng)激發(fā)，美國(guó)BaySpec公司1064nm激發(fā)波長(zhǎng)顯微拉曼光譜儀具有抑制熒光的效果，不斷擴(kuò)大了拉曼光譜在地質(zhì)學(xué)中的應(yīng)用范圍。1、拉曼光譜應(yīng)用于流體包裹體分析對(duì)流體包裹體的分析測(cè)試是拉曼光譜在地質(zhì)學(xué)中應(yīng)用集中的領(lǐng)域。流體包裹體是礦物結(jié)晶生長(zhǎng)過程中，被捕獲在礦物晶格內(nèi)、至今仍與宿主礦物有著相的界限、并沒有與外界發(fā)生物質(zhì)交換的那一部分古流體。流體包
2020
10-25

超高壓XRD實(shí)驗(yàn)時(shí)對(duì)樣品制備的要求
超高壓XRD運(yùn)用成像板技術(shù)，通過成熟的工藝技術(shù)，配合高壓系統(tǒng)DiamondAnvilCellHolder670.5，通過金剛石對(duì)頂砧加壓，可實(shí)現(xiàn)在高達(dá)70GPa的壓力條件下研究粉末樣品（可擴(kuò)展至120GPa）。超高壓XRD實(shí)驗(yàn)時(shí)對(duì)樣品制備有哪些要求？1.金屬樣品如塊狀、板狀、圓拄狀要求磨成一個(gè)平面，面積不小于10·10毫米，如果面積太小可以用幾塊粘貼一起。2.對(duì)于片狀、圓拄狀樣品會(huì)存在嚴(yán)重的擇優(yōu)取向，衍射強(qiáng)度異常。因此要求測(cè)試時(shí)合理選擇響應(yīng)的方向平面。3.對(duì)于測(cè)量金屬樣品的微觀應(yīng)力（晶格畸變），
2020
10-24

光譜分析技術(shù)的基礎(chǔ)理論
一、光譜分析技術(shù)的基礎(chǔ)理論1.光是由光量子組成的，具有二重性，即不連續(xù)的微粒和連續(xù)的波動(dòng)性。波長(zhǎng)和頻率是光的特征2.光照射到物質(zhì)時(shí)，可發(fā)生折射、反射和透射。根據(jù)物質(zhì)結(jié)構(gòu)和含量的不同，可以得當(dāng)不同的吸收光譜和發(fā)射光譜。3.物質(zhì)的吸收光譜取決于物質(zhì)的結(jié)構(gòu)，包括分子吸收光譜和原子吸收光譜。分子吸收光譜包括電子、振動(dòng)和轉(zhuǎn)動(dòng)這三種光譜。原子吸收光譜通常是線狀光譜，只包括外層電子躍遷吸收的能量，位于光譜的紫外區(qū)和可見光區(qū)。4.物質(zhì)的發(fā)射光譜有三種：線狀光譜、帶狀光譜及連續(xù)光譜。線狀光譜由原子或離子被激發(fā)而發(fā)
2020
10-21

鎢燈絲電鏡的鎢燈絲如何做好養(yǎng)護(hù)？
由于鎢燈絲電鏡相對(duì)透射電鏡來(lái)說真空度低、電子束流大。因此鎢燈絲電鏡的燈絲壽命仍相對(duì)較短，一般只有幾十個(gè)小時(shí)。燈絲壽命短直接帶來(lái)儀器運(yùn)行成本增加、有效運(yùn)行時(shí)間降低、污染增加，儀器性能降低等等不良后果。實(shí)際工作中應(yīng)通過采取一些措施可延長(zhǎng)燈絲使用壽命：1.準(zhǔn)確對(duì)中燈絲安裝更換新燈絲時(shí)仍需檢查燈絲的對(duì)中情況，將安裝好的燈絲組件放在解剖鏡下再檢查一下，看燈絲是否居中，否則很容易導(dǎo)致燈絲亮度偏暗，而由此操作者又會(huì)增加偏壓或電流來(lái)提高亮度，損傷燈絲。2.適當(dāng)增加燈絲高度燈絲工作時(shí)發(fā)射電子束，燈絲的發(fā)射束流與燈
2020
10-20

色散型拉曼和FT拉曼有哪些區(qū)別？
實(shí)際使用中，傅立葉變換拉曼可以很好地用于常規(guī)分析中，但在日常測(cè)量中也存在很多限制：只能使用1064nm近紅外激光，帶來(lái)的缺點(diǎn)是：低靈敏度、不適合測(cè)量水溶液、不適合測(cè)量深色樣品。光學(xué)設(shè)計(jì)限制了能夠達(dá)到的空間分辨率（這也是多數(shù)傅立葉變換拉曼光譜儀制造商不使用傅立葉變換拉曼顯微鏡的原因。色散型拉曼系統(tǒng)的優(yōu)勢(shì)在于在同一臺(tái)儀器上既可以進(jìn)行常規(guī)的分析，又具有進(jìn)行科學(xué)研究的能力，包括:多個(gè)激光波長(zhǎng)：可以根據(jù)多種樣品的具體情況以及散射性質(zhì)選擇優(yōu)化方案，從而實(shí)現(xiàn)增強(qiáng)靈敏度、控制穿透深度、抑制熒光等。例如：綠光適宜
2020
10-15

哪些措施可以延長(zhǎng)鎢燈絲掃描電鏡的燈絲使用壽命呢？
鎢燈絲掃描電鏡作為微觀形貌觀察的有力工具，正越來(lái)越迅速、廣泛地應(yīng)用于冶金、礦物、化工、醫(yī)藥、生物、食品、納米材料等領(lǐng)域。作為常規(guī)的大型精密分析儀器，鎢燈絲掃描電鏡的燈絲壽命仍相對(duì)較短，燈絲壽命短直接帶來(lái)掃描電鏡運(yùn)行成本增加、有效運(yùn)行時(shí)間降低、污染增加，掃描電鏡性能降低等等不良后果。在實(shí)際工作中，使用者可以通過以下措施來(lái)延長(zhǎng)燈絲使用壽命。①新燈絲的表面可能吸附一定量的空氣、水汽，當(dāng)它被安裝到電鏡鏡筒里時(shí)，會(huì)從燈絲表面緩緩釋放，影響鏡筒的真空度，腐蝕燈絲。因此，新燈絲在更換前要先經(jīng)過“去潮、去氣”處
2020
10-09

掃描電鏡分類方法介紹
掃描電子顯微鏡(簡(jiǎn)稱掃描電鏡)是一種大型精密儀器，主要結(jié)構(gòu)包括電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)收集、圖像顯示和記錄系統(tǒng)、真空系統(tǒng)，是機(jī)械學(xué)、光學(xué)、電子學(xué)、熱學(xué)、材料學(xué)、真空技術(shù)等多門學(xué)科的綜合應(yīng)用。掃描電鏡是一種新型的電子光學(xué)儀器，主要是利用二次電子信號(hào)成像來(lái)觀察樣品的表面形態(tài)，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng)，其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。二次電子能夠產(chǎn)生樣品表面放大的形貌像，這個(gè)像是在樣品被掃描時(shí)按時(shí)序建立起來(lái)的，即使用逐點(diǎn)成像的方法獲得放大像。掃描電鏡分類方法：1、按
2020
09-30

高光譜遙感不同于傳統(tǒng)遙感的特點(diǎn)有哪些？
高光譜遙感圖像和常見的二維圖像不同之處在于，它在二維圖像信息的基礎(chǔ)上添加光譜維，進(jìn)而形成三維的坐標(biāo)空間。如果把成像光譜圖像的每個(gè)波段數(shù)據(jù)都看成是一個(gè)層面，將成像光譜數(shù)據(jù)整體表達(dá)到該坐標(biāo)空間，就會(huì)形成一個(gè)擁有多個(gè)層面、按波段順序疊合構(gòu)成的三維數(shù)據(jù)立方體。高光譜遙感具有不同于傳統(tǒng)遙感的新特點(diǎn)：（1）波段多——可以為每個(gè)像元提供幾十、數(shù)百甚至上千個(gè)波段（2）光譜范圍窄——波段范圍一般小于10nm（3）波段連續(xù)——有些傳感器可以再350~2500nm的太陽(yáng)光譜范圍內(nèi)提供幾乎連續(xù)的地物光譜（4）數(shù)據(jù)量大—
2020
09-15

簡(jiǎn)析X射線衍射儀XRD的基本原理
X射線衍射儀XRD是利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進(jìn)行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù)。每一種結(jié)晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu)，包括點(diǎn)陣類型、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的X射線照射試樣，試樣中的物質(zhì)受激發(fā)，會(huì)產(chǎn)生二次熒光X射線（標(biāo)識(shí)X射線），晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過測(cè)定衍射角位置（峰位）可以進(jìn)行化合物的定性分析，測(cè)定譜線的積分強(qiáng)度（峰強(qiáng)度）可以進(jìn)行定量分析，而測(cè)定譜線強(qiáng)度隨角度的變化關(guān)系可進(jìn)行晶粒的大小和形狀的檢測(cè)。X射線同無(wú)線電波、可見光、紫外線等一樣，本質(zhì)上都屬于電磁波，只是彼此之間占據(jù)不同
2020
09-11

掃描電鏡分析制樣時(shí)產(chǎn)生的影響因素
掃描電鏡主要由電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)探測(cè)處理和顯示系統(tǒng)、圖像記錄系統(tǒng)、樣品室、真空系統(tǒng)、冷卻循環(huán)水系統(tǒng)、電源供給系統(tǒng)七大系統(tǒng)組成而成。利用掃描電鏡分析樣品時(shí)，首先要排除外界的干擾去除假象，盡量減少這些不利因素的影響，使分析結(jié)果更準(zhǔn)確。制樣時(shí)產(chǎn)生的影響因素分析：1.樣品制備樣品的制備是能否得到重要信息的關(guān)鍵，若使用不正確的制樣程序，不僅會(huì)得不到清晰的圖像，而且有可能得到假象，即觀察到的圖像并不是真正的樣品內(nèi)部狀態(tài)或主要成分，所以試樣制備方法的選擇對(duì)于熱加工、熱處理等工藝問題或后續(xù)加工過程存在的缺陷，具
2020
08-17

掃描電鏡樣品信息和電子束的關(guān)系簡(jiǎn)述
掃描電鏡是一個(gè)復(fù)雜的系統(tǒng)，濃縮了電子光學(xué)技術(shù)、真空技術(shù)、精細(xì)機(jī)械結(jié)構(gòu)以及現(xiàn)代計(jì)算機(jī)控制技術(shù)。掃描電鏡的基本工作過程用電子束在樣品表面掃描，同時(shí)陰極射線管內(nèi)的電子束與樣品表面的電子束同步掃描，將電子束在樣品上激發(fā)的各種信號(hào)用探測(cè)器接收，并用它來(lái)調(diào)制顯像管中掃描電子束的強(qiáng)度，在陰極射線管的屏幕上就得到了相應(yīng)襯度的掃描電子顯微像。電子束在樣品表面掃描，與樣品發(fā)生各種不同的相互作用，產(chǎn)生不同信號(hào)，獲得的相應(yīng)的顯微像的意義也不一樣。這些信息的二維強(qiáng)度分布隨試樣表面的特征而變（這些特征有表面形貌、成分、晶體
2020
08-13

掃描電鏡的三大系統(tǒng)說明
掃描電鏡存在于我們的生活中，我們需要對(duì)它進(jìn)一步地了解，以便更好地利用它為人類創(chuàng)造價(jià)值。我們來(lái)看看掃描電鏡的幾大組成系統(tǒng)吧！1.真空系統(tǒng)真空系統(tǒng)主要包括真空泵和真空柱兩部分。真空柱是一個(gè)密封的柱形容器。真空泵用來(lái)在真空柱內(nèi)產(chǎn)生真空。有機(jī)械泵、油擴(kuò)散泵以及渦輪分子泵三大類，機(jī)械泵加油擴(kuò)散泵的組合可以滿足配置鎢槍的SEM的真空要求，但對(duì)于裝置了場(chǎng)致發(fā)射槍或六硼化鑭槍的SEM，則需要機(jī)械泵加渦輪分子泵的組合。成像系統(tǒng)和電子束系統(tǒng)均內(nèi)置在真空柱中。真空柱底端即為右圖所示的密封室，用于放置樣品。之所以要用真
2020
07-13

選擇JCM-7000臺(tái)式電鏡的理由
掃描電子顯微鏡（SEM）是1965年發(fā)明的較現(xiàn)代的細(xì)胞生物學(xué)研究工具，主要是利用二次電子信號(hào)成像來(lái)觀察樣品的表面形態(tài)，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng)，其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。二次電子能夠產(chǎn)生樣品表面放大的形貌像，這個(gè)像是在樣品被掃描時(shí)按時(shí)序建立起來(lái)的，即使用逐點(diǎn)成像的方法獲得放大像。掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)是，①有較高的放大倍數(shù)，2-20萬(wàn)倍之間
2020
07-13

通過掃描電鏡觀察加速電壓高低引起的像質(zhì)差異
從理論上講，只考慮電子束斑直徑的話，加速電壓越高電子束斑的直徑越細(xì)。但是，使用高加速電壓時(shí)產(chǎn)生的不利因素也不可忽視。這主要表現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：1）樣品表面的微細(xì)結(jié)構(gòu)不能清晰顯露；2）邊緣效應(yīng)明顯；3）容易積累電荷；4）容易損傷樣品。一般情況下，使用低加速電壓，能夠更好地觀察表面的微細(xì)結(jié)構(gòu)。使用高加速電壓，電子束在樣品中的擴(kuò)散區(qū)域增大，從樣品內(nèi)部產(chǎn)生的不必要的信號(hào)（如背散射電子）會(huì)掩蓋樣品表面的微結(jié)構(gòu)。特別是在觀察密度低的物質(zhì)時(shí)，以低加速電壓為好。圖1入射電子的擴(kuò)展（根據(jù)Duncumb和Shiel
2020
07-13

光學(xué)隔振平臺(tái)應(yīng)用技術(shù)
光學(xué)平臺(tái)，光學(xué)隔震平臺(tái)，氣浮隔震平臺(tái)具有先進(jìn)得隔振性能。光學(xué)平臺(tái)具有平整的表面，內(nèi)部采用蜂窩狀的設(shè)計(jì)以獲得大的剛度，另外內(nèi)部的阻尼機(jī)制大限度地減少了振動(dòng)對(duì)光學(xué)平臺(tái)表面的影響。剛性，被動(dòng)式和主動(dòng)式光學(xué)平臺(tái)能很好地把桌面從地面的振動(dòng)隔離出來(lái)。隨著先進(jìn)的設(shè)備和工藝的發(fā)展，使納米量級(jí)的測(cè)量成為可能。例如，變相光學(xué)干涉儀測(cè)量物體的表面粗糙度，目前可以達(dá)到1納米的分辨率。在半導(dǎo)體領(lǐng)域，已生產(chǎn)出線寬在亞微米量級(jí)的集成電路，提出測(cè)量準(zhǔn)確率小于50納米的精度要求。這樣的應(yīng)用對(duì)系統(tǒng)中不同元件相關(guān)配合精度和穩(wěn)定性提出

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