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            安捷倫半導體無機元素分析概覽

            檢測樣品:半導體

            檢測項目:元素分析

            方案概述:ICP-MS作為一種金屬元素分析儀器應用于半導體產(chǎn)業(yè)鏈,始于20世紀80年代。隨著半導體制程的不斷迭代,整個行業(yè)對ICP-MS的性能提出了越來越高的要求。過去30年來,位于日本東京的安捷倫ICP-MS全球研發(fā)中心與半導體產(chǎn)業(yè)鏈端客戶密切合作,引領(lǐng)著ICP-MS在全球半導體產(chǎn)業(yè)鏈中的應用不斷創(chuàng)新。

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            更新時間2022年09月28日

            上傳企業(yè)安捷倫科技(中國)有限公司

            下載方案

            ICP-MS 作為一種金屬元素分析儀器應用于半導體產(chǎn)業(yè)鏈,始于 20 世紀 80 年代。隨著半導體制程的不斷迭代,整個行業(yè)對 ICP-MS 的性能提出了越來越高的要求。過去 30 年來,位于日本東京的安捷倫 ICP-MS 全球研發(fā)中心與半導體產(chǎn)業(yè)鏈端客戶密切合作,引領(lǐng) ICP-MS 在全球半導體產(chǎn)業(yè)鏈中的應用不斷創(chuàng)新。

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