光電流測(cè)試是一種用于測(cè)量器件或材料的光電性能的測(cè)試方法，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件、光電器件、太陽(yáng)能電池等領(lǐng)域。
主要原理：
光電流測(cè)試的原理是利用光照射器件或材料后，通過(guò)測(cè)量器件或材料的電流輸出來(lái)判斷其光電性能。測(cè)試時(shí)，光源會(huì)照射在待測(cè)試樣品上，產(chǎn)生電子和空穴對(duì)并使其發(fā)生光電效應(yīng)，從而產(chǎn)生電流輸出。根據(jù)電流輸出的大小和特征，可以判斷樣品的光電性能和特性參數(shù)。
光電流測(cè)試
主要步驟：
(1)準(zhǔn)備測(cè)試樣品：準(zhǔn)備待測(cè)試的器件或材料，并將其放置在測(cè)試臺(tái)上。
(2)設(shè)置測(cè)試條件：根據(jù)測(cè)試要求，設(shè)置光源的光強(qiáng)、波長(zhǎng)、照射時(shí)間等測(cè)試條件。
(3)進(jìn)行測(cè)試：打開(kāi)光源，照射待測(cè)試樣品，記錄測(cè)試數(shù)據(jù)。
(4)分析測(cè)試結(jié)果：根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)，分析樣品的光電性能和特性參數(shù)，如響應(yīng)時(shí)間、量子效率、光電轉(zhuǎn)換效率等。
S-LBIC光電流測(cè)試簡(jiǎn)介
• 寬光譜范圍(200~14000nm可選)，適用面廣
• 調(diào)制法測(cè)量技術(shù)，提升測(cè)量結(jié)果信噪比
• 開(kāi)機(jī)即用的Turnkey系統(tǒng)設(shè)計(jì)，維護(hù)簡(jiǎn)單
• 監(jiān)視光路，方便樣品定位
• 全反射光路設(shè)計(jì)，優(yōu)化光斑質(zhì)量
• 高穩(wěn)定性光源，降低背景噪聲影響
• 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量軟件，數(shù)據(jù)導(dǎo)出格式支持第三方軟件
光電流測(cè)試應(yīng)用領(lǐng)域：
• 二維材料，太陽(yáng)能電池，納米光子學(xué)，光電器件，PN結(jié)器件…
特點(diǎn)：
• 微米級(jí)空間分辨率
• 連續(xù)/脈沖激光可選
• 波長(zhǎng)連續(xù)可調(diào)的超連續(xù)譜光源可選
• nA、pA、fA不同精度的源表可選
• 可以測(cè)量不同偏壓下的光電流圖像/光譜響應(yīng)度
S-LBIC顯微光電流成像系統(tǒng)
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