目錄:光焱科技股份有限公司>>EQE/光子-電子轉換測試>>損耗缺陷分析>> REPS Ultra太陽能電池Voc損耗分析儀
產(chǎn)地類別 | 進口 | 應用領域 | 能源 |
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EL-EQE?un-repeatability | <1% | EL-EQE?un-reproducibility | <1.5% |
價格區(qū)間 | 面議 | 測量模式 | 咨詢光焱科技專家 |
為了將轉換效率推至熱力學極限,有機太陽能電池和鈣鈦礦太陽能電池努力將開路電壓(Voc)提高至Shockley-Queisser極限。 全新設計的REPS_Ultra是一個綜合系統(tǒng),幫助科學家測量、計算和分析工作中太陽能電池的Voc損失,并提供改進建議。
1.探索科學的極限:REPS_Ultra通過提供準確而全面的數(shù)據(jù),使研究人員能夠探索科學的極限。
2.優(yōu)異的弱光偵測性能:創(chuàng)新型的REPS_Ultra可以偵測低至10-6% nit的弱光亮度,具有8個數(shù)量級的動態(tài)范圍。 這一性能比前代REPS_Pro提高了1,000倍,比市場上其他同類產(chǎn)品的4個數(shù)量級動態(tài)范圍強10,000倍。 其優(yōu)異的極弱光偵測能力特別適合有機材料或新型材料研究,可協(xié)助研究團隊探索科學的極限。
3.提升的量測速度:全新設計的REPS_Ultra比前代REPS_Pro的量測速度顯著提升了30%,可在30秒內(nèi)完成40個點位掃描,大幅提升研究團隊的效率。
● 可測量:絕對電致發(fā)光量子效率 (EL-EQE)、電致發(fā)光光譜隨電壓的變化 [EL光譜(V)]、電流-電壓特性曲線 (J-V曲線)、外量子效率-電流密度曲線 (EQE-J)。
● 軟件可以顯示的圖表包括:EL-EQE、多EL光譜、JVL曲線、Voc loss 直方圖。
● 該系統(tǒng)可以計算和分析熱力學Voc、輻射復合Voc和非輻射復合Voc。
● 波長檢測范圍:300~1100nm; 并且可以擴展(選配)。
● NIST可追溯的絕對輻射校準(瓦特,從300~1100納米)。
● EL-EQE檢測范圍:1 x 10-6% (8 orders)。
● EL-EQE重複性>99%。
● EL-EQE reproducibility >99%.
● Glove Box 整合工具包。
● 客制的測試夾具。
REPS系統(tǒng)另有進階類型(REPS Pro),其規(guī)格比較如下:
Enlitech REPS Voc損耗分析儀可用于:
● 改善OPV的Voc-loss
● 改善鈣鈦礦 Voc-loss
●電荷傳輸狀態(tài)識別