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            成都藤田科技有限公司

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            日本Otsuka大塚 薄膜離線型掃描膜厚儀
            參考價: 面議
            具體成交價以合同協(xié)議為準
            • 產(chǎn)品型號
            • OTSUKA/日本大塚 品牌
            • 代理商 廠商性質(zhì)
            • 成都市 所在地

            訪問次數(shù):62更新時間:2025-02-21 16:36:44

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            網(wǎng)址:
            www.fujita-cn.com

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            產(chǎn)品簡介
            產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 面議
            應(yīng)用領(lǐng)域 綜合
            日本Otsuka大塚 薄膜離線型掃描膜厚儀-成都藤田科技提供
            采用線掃描方式檢測整面薄膜 硬件軟件均為創(chuàng)新設(shè)計 作為專業(yè)膜厚測定廠商,提供多種支援 實現(xiàn)高精度測量實現(xiàn)高速測量 不受偏差影響 可對應(yīng)寬幅樣...
            產(chǎn)品介紹

            日本Otsuka大塚 薄膜離線型掃描膜厚儀-成都藤田科技提供

            日本Otsuka大塚 薄膜離線型掃描膜厚儀

            產(chǎn)品信息

            特點

            ● 全面高速高精度進行薄膜等面內(nèi)膜厚不均一性檢測

            ● 硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計

            ● 作為專業(yè)膜厚測定廠商,提供多種支援

            ● 實現(xiàn)高精度測量

            ● 實現(xiàn)高速測量(500萬點以上/分)




            產(chǎn)品規(guī)格

            測量范圍0.1~300 μm
            測量寬度250 mm
            測量間隔1 ms~
            設(shè)備尺寸(W×D×H)459×609×927 mm
            重量60 kg
            功耗AC100 V±10% 125 VA


            測量例

            250mm寬的薄膜案例





            核心特點

            1. 微區(qū)測量能力:最小光斑直徑3μm,搭配自動XY平臺(200×200mm),實現(xiàn)晶圓、FPD(如OLED、ITO膜)等微小區(qū)域的精準厚度分布映射。

            2. 跨行業(yè)適用性:專為半導(dǎo)體(SiO?/SiN膜)、顯示面板(彩色光阻)、DLC涂層等行業(yè)設(shè)計,支持粗糙表面、傾斜結(jié)構(gòu)及復(fù)雜光學(xué)異向性樣品的分析。

            3. 安全與擴展性:區(qū)域傳感器觸發(fā)防誤觸機制,獨立測量頭支持定制化嵌入,滿足在線檢測(inline)與實驗室研發(fā)需求。

            日本Otsuka大塚 薄膜離線型掃描膜厚儀-成都藤田科技提供

            1. 非破壞性高速測量:采用顯微分光技術(shù),1秒內(nèi)完成單點對焦與測量,支持從紫外(230nm)到近紅外(1600nm)廣波長范圍,覆蓋1nm至92μm膜厚需求,滿足半導(dǎo)體、光學(xué)材料等高精度場景。

            2. 透明基板技術(shù):反射對物鏡設(shè)計,物理消除基板內(nèi)部反射干擾,實現(xiàn)玻璃、SiC等透明或異向性基板上的高精度膜厚測量,支持50層以上多層膜解析。

            3. 智能建模與易用性:內(nèi)置初學(xué)者模式,簡化光學(xué)常數(shù)(n/k)建模流程,支持宏功能自定義測量序列,可無縫集成自動化產(chǎn)線。










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