顯微分光膜厚儀 參考價：面議
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 測量項目：?絕.對反射率測量?多層膜解析?光學常數(shù)分析（n：折射率，k：消光系數(shù)）
半導體晶圓缺陷檢測儀 參考價：面議
半導體晶圓缺陷檢測儀利用亮場和暗場顯微成像技術，通過自動化的圖像捕捉以及人工智能分析工具，為晶圓表面缺陷的檢測提供了快速且高效的解決方案。
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng) 參考價：面議
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)可測量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。
便攜式拉曼光譜儀 參考價：面議
AMOS RU120基本緊湊便攜式拉曼光譜儀是一款獨立的研究儀器，旨在進行光譜測量，其能力達到*端系統(tǒng)的水平。 RU120采用剛性無活動部件設計，無需調整，具有...
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