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日本Otsuka大塚ZETA分子量ELSZ-2000ZS測(cè)儀
| 參考價(jià): | 面議 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)- 產(chǎn)品型號(hào)
- OTSUKA/日本大塚 品牌
- 代理商 廠商性質(zhì)
- 成都市 所在地
訪問(wèn)次數(shù)：51更新時(shí)間：2025-02-21 14:20:26
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安全對(duì)策和粒子對(duì)策，可對(duì)應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備 測(cè)量項(xiàng)目...
產(chǎn)品介紹
日本Otsuka大塚ZETA分子量ELSZ-2000ZS測(cè)儀-成都藤田科技提供
產(chǎn)品信息
| 型號(hào) | 粒徑測(cè)量 | ZETA電位測(cè)量 | 分子量測(cè)量 | PH滴定測(cè)量 |
| ELSZ-2000ZS | ● | ● | ● | ●*1 |
| ELSZ-2000Z | ● | ● | - | ●*1 |
| ELSZ-2000S | ● | - | ● | ●*2 |
選型表
*1：需搭配選配件PH滴定儀 *2：需搭配選配件PH滴定儀和粒徑流動(dòng)容器
特點(diǎn)
● 新型號(hào)高靈敏度APD，提高靈敏度，縮短測(cè)量時(shí)間
● 通過(guò)自動(dòng)溫度梯度測(cè)量可以進(jìn)行變性、相變溫度分析
● 可以在0 ~ 90℃的寬溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量
● 增加寬范圍分子量測(cè)定和分析功能
● 可對(duì)應(yīng)渾濁的高濃度樣品的粒徑·ZETA電位測(cè)定
● 測(cè)量樣品池內(nèi)的電滲透流，通過(guò)圖譜分析提供高精度的ZETA電位測(cè)量結(jié)果
● 可對(duì)應(yīng)高鹽濃度溶液的ZETA電位測(cè)定
● 可對(duì)應(yīng)小尺寸固體樣品的ZETA電位測(cè)量
用途
非常適用于界面化學(xué)、無(wú)機(jī)物質(zhì)、半導(dǎo)體、聚合物、生物學(xué)、制藥和醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究，不僅對(duì)應(yīng)微小顆粒，還適用于薄膜和平板表面的科學(xué)研究。
● 新型功能材料領(lǐng)域
燃料電池相關(guān)（碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬）
納米生物相關(guān)（納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS、納米生物粒子）、納米氣泡等。
● 陶瓷/著色材料工業(yè)領(lǐng)域
陶瓷（二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等）
無(wú)機(jī)溶膠的表面改性/分散/聚集控制
顏料的分散/聚集控制（炭黑/有機(jī)顏料）
漿料狀樣品
濾光器
浮游選定礦物的捕集材料的收集和研究
● 半導(dǎo)體領(lǐng)域
異物附著在硅晶片表面的原理解析
研磨劑和添加劑與晶片表面的相互作用的研究
CMP漿料的相互作用
● 高分子聚合物/化工領(lǐng)域
乳液（涂料/粘合劑）的分散/聚集控制，乳膠的表面改性（醫(yī)藥/工業(yè)）
聚電解質(zhì)（聚苯乙烯磺酸鹽，聚羧酸等）的功能性研究、功能納米顆粒
紙/紙漿造紙過(guò)程控制和紙漿添加劑研究
● 制藥/食品工業(yè)領(lǐng)域
乳液（食品/香料/醫(yī)療/化妝品）分散/聚集控制及蛋白質(zhì)的機(jī)能性檢測(cè)
脂質(zhì)體/囊泡分散/聚集控制及表面活性劑（膠束）機(jī)能性檢測(cè)
應(yīng)用于固體平板樣品池
固體平板樣品池是將固體平板樣品緊密接觸于盒型石英樣品池上方而形成一體的構(gòu)造。
實(shí)測(cè)樣品池高度方向各層觀測(cè)粒子的電泳移動(dòng)度，根據(jù)所得到的電滲流Profile可分析出固體表面電滲流速度，進(jìn)而求得平板樣品表面的ZETA電位。
高濃度樣品的ZETA電位測(cè)定原理
分子量測(cè)量原理（靜態(tài)光散射法）
靜態(tài)光散射法可以輕松測(cè)量分子量。
測(cè)量原理為，將光線照射在溶液分子上可以得到散射光，根據(jù)散射光的求取分子量。即利用了大分子可得到強(qiáng)散射光，小分子可得到弱散射光的現(xiàn)象。
實(shí)際上，因?yàn)闈舛炔煌⑸涔鈴?qiáng)度也不同，實(shí)測(cè)數(shù)點(diǎn)不同濃度溶液的光散射強(qiáng)度，代入以下公式繪制圖示。橫軸為濃度，縱軸為與散射強(qiáng)度Kc/R（θ）相等的倒數(shù)。此方法也被稱為Debye圖示法。
籍由往零濃度（C=0）外插的倒數(shù)求取分子量Mw，并以此初期梯度可求得第二維里系數(shù)A2。
第二維里系數(shù)
表示溶媒中分子間的排斥與吸引程度，更易于觀察溶劑分子的相容性與結(jié)晶化現(xiàn)象。
●A2為正時(shí)，代表溶劑相容性高，分子間排斥力強(qiáng)，更加穩(wěn)定。
●A2為負(fù)時(shí)，代表溶劑相容性低，分子間吸引力強(qiáng)，易產(chǎn)生凝集。
●A2=0時(shí)，代表溶劑為理想溶劑，此時(shí)溫度被稱為理想溫度。排斥與吸引力處于平衡狀態(tài)，易產(chǎn)生結(jié)晶化。
產(chǎn)品規(guī)格
產(chǎn)品規(guī)格
| 測(cè)量原理 | 粒徑 | 動(dòng)態(tài)光散射法（光子相關(guān)法） |
| ZETA電位 | 電泳光散射法（激光多普勒法） | |
| 分子量 | 靜態(tài)光散射動(dòng)法 | |
| 光學(xué)系統(tǒng) | 粒徑 | 零差光學(xué)系 |
| ZETA電位 | 外差光學(xué)系 | |
| 分子量 | 零差光學(xué)系 | |
| 光源 | 高功率半導(dǎo)體激光器 | |
| 探測(cè)器 | 高靈敏度APD | |
| 樣品池 | ZETA電位: 標(biāo)準(zhǔn)池、高濃度樣品池、微量可拋式池 | |
| 粒徑/分子量: 方形池 | ||
| 溫度 | 0~90度（帶梯度功能） | |
| 電源 | 220V±10%, 50/60Hz, 250VA | |
| 尺寸(WDH) | 380(W) X600(D) X210(H) | |
| 重量 | 約22Kg | |
測(cè)定項(xiàng)目
ZETA電位 | -200 ~ 200mV |
電氣移動(dòng)度 | -2X10-5 ~ 2X10-5cm2/V·s |
粒徑 | 0.6nm ~ 10um |
分子量 | 360 ~ 2X107 |
測(cè)量范圍
| 測(cè)量溫度范圍 | 0 ~ 90℃ |
| 測(cè)量濃度范圍 | 粒徑: 0.00001%(0.1ppm) ~ 40%*1 |
| ZETA電位: 0.001% ~ 40% |
*1 （Latex112nm: 0.00001 ～ 10%、膽汁酸: ～ 40%）
日本Otsuka大塚ZETA分子量ELSZ-2000ZS測(cè)儀-成都藤田科技提供
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